[發(fā)明專利]鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211229895.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-10-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115655128A | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳巧云;張義;董華;汪俊;易程;王冰;王得超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽大學(xué);中建三局第一建設(shè)工程有限責(zé)任公司;南京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/16 | 分類號(hào): | G01B11/16;G06F30/17;G06T7/32;G06T7/33;G06T7/73 |
| 代理公司: | 武漢世躍專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42273 | 代理人: | 鄔麗明 |
| 地址: | 230000*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鋼結(jié)構(gòu) 形變 定位 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取鋼結(jié)構(gòu)的采樣點(diǎn)集,其中,所述采樣點(diǎn)集包括多個(gè)采樣測(cè)量點(diǎn);
獲取所述鋼結(jié)構(gòu)所屬的軸線模型的離散點(diǎn)集,其中,所述離散點(diǎn)集包括多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn);
根據(jù)每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)與每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系,計(jì)算所述采樣點(diǎn)集的剛體變換矩陣;
根據(jù)所述剛體變換矩陣,確定所述采樣點(diǎn)集與所述離散點(diǎn)集之間的平均距離;
基于所述剛體變換矩陣,更新所述采樣點(diǎn)集中的每個(gè)采樣測(cè)量點(diǎn),并返回執(zhí)行計(jì)算所述采樣點(diǎn)集的剛體變換矩陣的步驟,直至當(dāng)前得到的平均距離與上一次得到的平均距離之間的差值小于預(yù)設(shè)差距閾值時(shí),將當(dāng)前更新后的采樣測(cè)量點(diǎn)作為目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn);
根據(jù)每個(gè)所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)到所述軸線模型的距離,確定所述鋼結(jié)構(gòu)的形變位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述獲取鋼結(jié)構(gòu)的采樣點(diǎn)集,包括:
獲取鋼結(jié)構(gòu)的多個(gè)原始三維測(cè)量點(diǎn);
根據(jù)原始三維測(cè)量點(diǎn)確定第一包圍盒,其中,所述第一包圍盒包括多個(gè)柵格立方體素;
對(duì)包括所述原始三維測(cè)量點(diǎn)的所述柵格立方體素進(jìn)行預(yù)設(shè)數(shù)量采樣,得到采樣測(cè)量點(diǎn);
當(dāng)所述采樣測(cè)量點(diǎn)的總數(shù)量小于或等于預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時(shí),將未被采樣的原始測(cè)量三維點(diǎn)作為新的原始三維測(cè)量點(diǎn),并返回執(zhí)行所述根據(jù)原始三維測(cè)量點(diǎn)確定第一包圍盒的步驟,直至采樣測(cè)量點(diǎn)的總數(shù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時(shí),停止采樣,得到采樣點(diǎn)集。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述獲取所述鋼結(jié)構(gòu)所屬的軸線模型的離散點(diǎn)集,包括:
獲取所述鋼結(jié)構(gòu)所屬的軸線模型,其中,所述軸線模型包括多條軸線;
確定每條所述軸線對(duì)應(yīng)的頂點(diǎn),其中,所述頂點(diǎn)包括第一頂點(diǎn)和第二頂點(diǎn);
從每條所述軸線的所述第一頂點(diǎn)開始,在所述軸線中按照每隔預(yù)設(shè)間隔提取一個(gè)軸線點(diǎn),直至提取的軸線點(diǎn)為所述第二頂點(diǎn)時(shí),停止提取操作;
將每條所述軸線上的頂點(diǎn)和軸線點(diǎn)作為基準(zhǔn)點(diǎn),并將所述基準(zhǔn)點(diǎn)合并為離散點(diǎn)集。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,在所述根據(jù)每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)與每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系,計(jì)算所述采樣點(diǎn)集的剛體變換矩陣之前,所述方法還包括:
獲取每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)在預(yù)設(shè)第二包圍盒中的第一向量;
獲取每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)在預(yù)設(shè)第三包圍盒中的第二向量;
根據(jù)所述第一向量和第二向量,構(gòu)建每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)與每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述獲取每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)在預(yù)設(shè)第二包圍盒中的第一向量,包括:
根據(jù)所述采樣點(diǎn)集構(gòu)建第二包圍盒,其中,所述第二包圍盒包括多個(gè)攜帶編號(hào)的關(guān)鍵點(diǎn);
分別計(jì)算所述采樣點(diǎn)集中的每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)到多個(gè)所述關(guān)鍵點(diǎn)的距離,得到每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一距離;
根據(jù)所述編號(hào)順序和多個(gè)所述第一距離,得到每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)的第一向量。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一向量和第二向量,構(gòu)建每個(gè)所述采樣測(cè)量點(diǎn)與每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系,包括:
計(jì)算所述采樣測(cè)量點(diǎn)的所述第一向量和每個(gè)所述基準(zhǔn)點(diǎn)的第二向量的相似度;
根據(jù)最大相似度所對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)點(diǎn),確定所述采樣測(cè)量點(diǎn)的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鋼結(jié)構(gòu)形變定位方法,其特征在于,所述根據(jù)每個(gè)所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)到所述軸線模型的距離,確定所述鋼結(jié)構(gòu)的形變位置,包括:
根據(jù)所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)到每條所述軸線的距離,得到所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)的多個(gè)第一距離;
將最小的第一距離作為所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)到所述軸線模型的距離;
根據(jù)每個(gè)所述目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn)到所述軸線模型的距離,確定所述鋼結(jié)構(gòu)的各個(gè)形變量;
根據(jù)最大的所述形變量對(duì)應(yīng)的目標(biāo)采樣測(cè)量點(diǎn),確定所述鋼結(jié)構(gòu)的形變位置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于安徽大學(xué);中建三局第一建設(shè)工程有限責(zé)任公司;南京航空航天大學(xué),未經(jīng)安徽大學(xué);中建三局第一建設(shè)工程有限責(zé)任公司;南京航空航天大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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