[發(fā)明專利]一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211207341.7 | 申請日: | 2022-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN115561979A | 公開(公告)日: | 2023-01-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李天;周紹林;陳志堅(jiān);李斌 | 申請(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué) |
| 主分類號: | G03F9/00 | 分類號: | G03F9/00 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 鄭宏謀 |
| 地址: | 510641 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 投影 光刻 莫爾 對準(zhǔn) 裝置 方法 | ||
1.一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,包括:照明系統(tǒng)、掩模標(biāo)記、光刻投影物鏡、對準(zhǔn)標(biāo)記、DMD空間調(diào)制器、CCD相機(jī)和傳感器運(yùn)動臺;所述對準(zhǔn)標(biāo)記、DMD空間調(diào)制器和CCD相機(jī)設(shè)置在傳感器運(yùn)動臺上;
照明系統(tǒng)發(fā)射光線,光線穿過掩模標(biāo)記后,經(jīng)過光刻投影物鏡形成空間像;通過控制傳感器運(yùn)動臺的移動尋找空間像的位置,以使空間像與對準(zhǔn)標(biāo)記發(fā)生衍射,形成莫爾條紋;莫爾條紋到達(dá)DMD空間調(diào)制器,進(jìn)行編碼;編碼后的莫爾條紋到達(dá)CCD相機(jī),根據(jù)采集獲得的信息重構(gòu)莫爾條紋;根據(jù)重構(gòu)的莫爾條紋獲取理想成像與實(shí)際成像的位置偏差,將位置偏差量反饋回傳感器運(yùn)動臺進(jìn)行修正,實(shí)現(xiàn)對準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述掩模標(biāo)記的強(qiáng)度分布為:
所述對準(zhǔn)標(biāo)記的強(qiáng)度分布為:
其中,f1代表掩模標(biāo)記的頻率,f2代表對準(zhǔn)標(biāo)記的頻率;txy1為掩模標(biāo)記的x、y坐標(biāo),txy2為對準(zhǔn)標(biāo)記的的x、y坐標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述空間像為一組相互不相干的點(diǎn)光源在像面強(qiáng)度分布的疊加。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述空間像I的表示如下:
式中,I為空間像,為衍射光振幅,P為光瞳函數(shù),S為有效光源,F(xiàn)T為二維傅里葉變換;
轉(zhuǎn)成成離散形式如下:
式中,波數(shù)k=2π/λ,λ為單色光光源的波長;Waberration(f,g)是波像差,其中n為澤尼克級次,Zn是第n級澤尼克多項(xiàng)式系數(shù),Rn(ρ,θ)是光瞳面正則化的第n級澤尼克多項(xiàng)式;f、g是光瞳頻譜坐標(biāo),f'、g'是光源頻譜坐標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述莫爾條紋的表達(dá)式為:
式中,Iy1(x,y)表示掩模標(biāo)記的光強(qiáng)分布,Iy2(x,y)表示對準(zhǔn)標(biāo)記的光強(qiáng)分布。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述根據(jù)采集獲得的光強(qiáng)信息重構(gòu)莫爾條紋,包括:
采用壓縮感知算法以較低的采樣率重構(gòu)出莫爾條紋;其中,在重構(gòu)過程中使用小波變換提高莫爾條紋信號的稀疏度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,重構(gòu)獲得的莫爾條紋的表達(dá)式為:
Imore=Φx=ΦΨs=As
式中,Φ表示M×N維隨機(jī)測量矩陣,Ψ表示N×N維的小波變換正交基,s是原始信號經(jīng)小波變換后的N×1維稀疏信號,A表示由測量矩陣和小波正交基組成的M×N維觀測矩陣;M代表隨機(jī)矩陣編碼測量次數(shù),N代表測量信號長度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述根據(jù)重構(gòu)的莫爾條紋獲取理想成像與實(shí)際成像的位置偏差,包括:
通過檢測莫爾條紋的質(zhì)心坐標(biāo)偏移量,以獲取理想成像與實(shí)際成像的位置偏差;
所述位置偏差的表達(dá)式為:
其中,X、Y是理想成像下的質(zhì)心坐標(biāo),是未對準(zhǔn)狀態(tài)下的莫爾條紋質(zhì)心坐標(biāo)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置還包括掩模臺、第一凸透鏡和第二凸透鏡;
所述掩模臺用于放置掩模標(biāo)記;
所述第一凸透鏡設(shè)置在對準(zhǔn)標(biāo)記和DMD空間調(diào)制器之間,穿過對準(zhǔn)標(biāo)記的光線透過第一凸透鏡進(jìn)入DMD空間調(diào)制器;
所述第二凸透鏡設(shè)置在DMD空間調(diào)制器和CCD相機(jī)設(shè)置之間,經(jīng)過編碼的光線透過第二凸透鏡到達(dá)CCD相機(jī)。
10.一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)方法,應(yīng)用于權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的一種投影光刻莫爾對準(zhǔn)裝置,其特征在于,包括以下步驟:
照明系統(tǒng)發(fā)射光線,光線穿過掩模標(biāo)記后,經(jīng)過光刻投影物鏡形成空間像;
通過控制傳感器運(yùn)動臺的移動尋找空間像的位置,以使經(jīng)過對準(zhǔn)標(biāo)記的光線產(chǎn)生衍射,形成莫爾條紋;
莫爾條紋到達(dá)DMD空間調(diào)制器,進(jìn)行編碼;
編碼后的莫爾條紋到達(dá)CCD相機(jī),根據(jù)采集獲得的信息重構(gòu)莫爾條紋;
根據(jù)重構(gòu)的莫爾條紋獲取理想成像與實(shí)際成像的位置偏差,將位置偏差量反饋回傳感器運(yùn)動臺進(jìn)行修正,實(shí)現(xiàn)對準(zhǔn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華南理工大學(xué),未經(jīng)華南理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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