[發(fā)明專利]表面缺陷檢測系統(tǒng)及表面檢測產(chǎn)線

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211204333.7
• 申請日: 2022-09-29
• 公開（公告）號: CN115436383A
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曹文;龍攀城;丁玲玲;付翱
• 申請（專利權(quán)）人: 梅卡曼德（上海）機(jī)器人科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 北京律和信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11446
• 代理人: 郝文博

本發(fā)明提供一種表面缺陷檢測系統(tǒng)、表面缺陷檢測方法和表面檢測產(chǎn)線，其中表面缺陷檢測系統(tǒng)包括支撐結(jié)構(gòu)和第一檢測子系統(tǒng)。支撐結(jié)構(gòu)用于固定被檢測物體。第一檢測子系統(tǒng)包括第一圖像獲取裝置和至少兩個(gè)第一光源，第一圖像獲取裝置的光軸大致垂直于第一特征面的切向，并能夠獲取第一特征面的像素矩陣圖像。第一特征面能夠相對于第一圖像獲取裝置以預(yù)設(shè)路徑運(yùn)動(dòng)。第一光源以不同的入射角照射向第一特征面形成條狀的照射范圍，且條狀照射范圍重合，并與第一圖像獲取裝置的光軸方向相交。本發(fā)明的實(shí)施例提高了被檢測物體中特殊形狀表面缺陷檢測的自動(dòng)化程度和智能程度，以及準(zhǔn)確性，是對被檢測物體中大平面表面缺陷檢測的補(bǔ)充。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明大致涉及工件表面檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種表面缺陷檢測系統(tǒng)及表面檢測產(chǎn)線。

背景技術(shù)

對于具有高精度加工要求的工件來說，在后續(xù)加工或出廠交付前需要對工件的表面進(jìn)行檢測，以判斷工件表面是否存在斑點(diǎn)、凸起、凹坑、劃痕、色差等缺陷，是判斷工件合格與否的必要過程。

對于工件中的側(cè)面、轉(zhuǎn)角等小尺寸平面，或不平整的弧形平面等表面進(jìn)行缺陷檢測難度較大，通常情況下采用人工檢測或直接放棄檢測，不僅成本較高，而且標(biāo)準(zhǔn)難以統(tǒng)一，檢測的準(zhǔn)確率無法保證。現(xiàn)有的應(yīng)用于大平面缺陷檢測的設(shè)備和工位無法應(yīng)用于側(cè)面或不規(guī)則小平面的檢測，不僅檢測精度難以滿足要求，而且檢測的覆蓋范圍同樣受到硬件設(shè)備的限制，無法保證覆蓋全部被檢測表面，而且現(xiàn)有的表面缺陷檢測方法需要設(shè)置平行光源或無限遠(yuǎn)點(diǎn)光源，在對具有一定弧度的表面進(jìn)行表面缺陷檢測時(shí)，光源和相機(jī)設(shè)置難度極大，因此需要提供一種新型的表面缺陷檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)部分的內(nèi)容僅僅是發(fā)明人所知曉的技術(shù)，并不當(dāng)然代表本領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)中的一個(gè)或多個(gè)缺陷，本發(fā)明提供一種表面缺陷檢測系統(tǒng)，根據(jù)本發(fā)明的方案1，表面缺陷檢測系統(tǒng)包括：

支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)用于固定被檢測物體，所述被檢測物體具有第一特征面，所述第一特征面為外凸或內(nèi)凹，且具有一定弧度的表面；和

第一檢測子系統(tǒng)，所述第一檢測子系統(tǒng)包括：

第一圖像獲取裝置，所述第一圖像獲取裝置的光軸大致垂直于所述第一特征面的切向，所述第一特征面位于所述第一圖像獲取裝置的視野范圍內(nèi)，并能夠相對于所述第一圖像獲取裝置以預(yù)設(shè)路徑運(yùn)動(dòng)；所述第一圖像獲取裝置配置成能夠獲取所述被檢測物體的第一特征面的像素矩陣圖像；以及

至少兩個(gè)第一光源，至少兩個(gè)所述第一光源以不同的入射角照射向所述第一特征面，形成條狀的照射范圍，且至少兩個(gè)第一光源形成的條狀照射范圍重合，并與所述第一圖像獲取裝置的光軸方向相交。

方案2，根據(jù)本發(fā)明的方案1，其中所述第一光源包括兩個(gè)條形光源，兩個(gè)條形光源分別設(shè)置于所述第一圖像獲取裝置的兩側(cè)。

方案3，根據(jù)本發(fā)明的方案2，其中兩個(gè)條形光源分別發(fā)射紅色光束和藍(lán)色光束。

方案4，根據(jù)本發(fā)明的方案2，其中設(shè)置于所述第一圖像獲取裝置兩側(cè)的條形光源以所述第一圖像獲取裝置的光軸為對稱軸對稱設(shè)置。

方案5，根據(jù)本發(fā)明的方案1，其中所述第一圖像獲取裝置與所述第一特征面在其光軸方向上的距離能夠在±10毫米的范圍內(nèi)調(diào)整，以改變像距；所述第一圖像獲取裝置與所述第一特征面在其光軸方向上的距離取值范圍為97-123毫米。

方案6，根據(jù)本發(fā)明的方案1，其中所述第一光源相對于所述第一特征面的切向的入射角度可調(diào)，入射角度的調(diào)節(jié)范圍為10-50°。

方案7，根據(jù)本發(fā)明的方案1，其中所述第一光源相對于所述第一特征面的切向的距離為110-150毫米。

方案8，根據(jù)本發(fā)明的方案1，所述表面缺陷檢測系統(tǒng)還包括第二檢測子系統(tǒng)，所述被檢測物體包括第二特征面，所述第二特征面為長條狀平面；