[發明專利]硬盤接口通道測試裝置及其測試方法

在審

• 申請號: 202211182860.2
• 申請日: 2022-09-27
• 公開（公告）號: CN115658398A
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 高坤;劉小康
• 申請（專利權）人: 杭州?？荡鎯萍加邢薰?/a>
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263;G06F13/16
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本申請提供一種硬盤接口通道測試裝置及其測試方法，涉及接口測試技術領域，能夠提高接口測試的效率，有利于提高接口測試的準確度和可靠性。該硬盤接口通道測試裝置中，硬盤接口模塊包括第一信號傳輸通道，第一信號傳輸通道和待測通道分別用于基于預設傳輸協議進行數據傳輸?？刂颇K被配置為生成控制信號，控制信號用于控制第一信號傳輸通道的導通。通道切換模塊與控制模塊和硬盤接口模塊連接，通道切換模塊用于接收控制模塊的控制信號，并根據控制信號控制第一信號傳輸通道導通，以使得在第一信號傳輸通道處于導通狀態下，對第一信號傳輸通道連接的待測硬盤接口中的待測通道進行數據傳輸測試。本申請用于測試不同接口。

技術領域

本發明涉及接口測試技術領域，特別涉及一種硬盤接口通道測試裝置及其測試方法。

背景技術

通常，不同電子設備可以通過接口進行耦接，實現數據信息的傳輸。其中，帶有通用串行總線(Universal Serial Bus，簡稱USB)接口的電子設備越來越多。例如，USB接口包括USB 2.0、USB3.0、USB3.1和Type-C等接口。

為了提高電子設備的良率，在電子設備進行出廠檢驗及日常維護時需要經常測試USB接口的品質，降低由于接口的部分通道接觸不良或者USB座子本身質量不良導致電子設備無法正常工作的幾率。然而，在待測硬盤接口的類型有多種，且待測試的電子設備的數量較多的情況下，需要進行頻繁的插拔操作來更換待測試的電子設備，這樣不僅插拔操作耗時長，測試效率低，而且頻繁的插拔操作對接口的信號通道造成磨損，容易影響待測硬盤接口識別的準確度。

發明內容

本申請的實施例提供一種硬盤接口通道測試裝置及其測試方法，能夠實現針對硬盤通道的細粒度測試，能夠提高硬盤接口的測試效率，有利于提高接口測試的準確度和可靠性。

為達到上述目的，本申請的實施例采用如下技術方案：

第一方面，提供一種硬盤接口通道測試裝置。該硬盤接口通道測試裝置包括硬盤接口模塊、控制模塊和通道切換模塊。硬盤接口模塊包括第一信號傳輸通道，第一信號傳輸通道通過待測硬盤接口中的通道引腳與待測硬盤接口中的待測通道連接，第一信號傳輸通道和待測通道分別用于基于預設傳輸協議進行數據傳輸。控制模塊被配置為生成控制信號，控制信號用于控制第一信號傳輸通道的導通。通道切換模塊與控制模塊和硬盤接口模塊連接，通道切換模塊用于接收控制模塊的控制信號，并根據控制信號控制第一信號傳輸通道導通，以使得在第一信號傳輸通道處于導通狀態下，對第一信號傳輸通道連接的待測硬盤接口中的待測通道進行數據傳輸測試。

由于待測硬盤接口的待測通道的預設傳輸協議可以不同，不同的預設傳輸協議需要不同的控制信號控制。通道切換模塊根據接收的控制信號實現第一信號傳輸通道的導通。這樣，在第一信號傳輸通道處于導通狀態下，對第一信號傳輸通道連接的待測硬盤接口中的待測通道進行數據傳輸測試。該硬盤接口通道測試裝置不需要將待測硬盤接口進行正反插接(既需要將接口插拔多次)，節約操作時間，提高接口測試效率。進而，降低因頻繁插拔待測設備對接口的磨損，降低對測試的接口信號的識別誤差。并且，根據需求選擇設置第一信號傳輸通道的類型，以支持待測硬盤接口的待測通道的預設傳輸協議下的數據傳輸，能夠實現兼容不同待測硬盤接口(不同的預設傳輸協議)的測試，擴大硬盤接口通道測試裝置的應用范圍。

在一些實施例中，硬盤接口模塊包括至少一個第一信號傳輸通道，至少一個第一信號傳輸通道基于不同的預設傳輸協議進行數據傳輸。通道切換模塊包括至少一個開關電路，一個開關電路與一個第一信號傳輸通道連接?？刂颇K用于生成針對不同的開關電路的控制信號，以用于控制不同的開關電路的導通。