[發明專利]一種晶體表面光滑度檢測設備及其使用方法

有效

• 申請號: 202211137847.5
• 申請日: 2022-09-19
• 公開（公告）號: CN115200537B
• 公開（公告）日: 2022-12-20
• 發明（設計）人: 施劍;陳炳寺
• 申請（專利權）人: 江蘇晶杰光電科技有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 東莞市尚標聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 44822
• 代理人: 鐘建星

本發明涉及晶體檢測領域，具體涉及一種晶體表面光滑度檢測設備及其使用方法，包括立板，立板的側面設有滑槽；至少一個設置于滑槽內的滑塊、與滑塊的前側面固定連接的光滑度測量儀，滑塊與滑槽滑動連接；用于驅動滑塊在滑槽中作升降運動的升降部；正對于光滑度測量儀的檢測頭的夾持部，夾持部用于夾持晶體，且夾持部與滑塊一一對應，夾持部包括對稱設于滑槽兩側的第一氣缸、與第一氣缸的伸縮桿固定連接的壓板，兩個壓板相對設置；與第一氣缸連接的轉動部，滑槽的側壁設有內側槽，轉動部用于帶動第一氣缸轉動，且轉動部設于內側槽內。通過本發明，在對晶體的光滑度進行檢測時，可有效減少人體接觸晶體的次數，減小了晶體被損傷的風險。

技術領域

本發明涉及晶體檢測領域，尤其涉及一種晶體表面光滑度檢測設備及其使用方法。

背景技術

晶體能實現電、磁、光、聲和力等的交互作用和轉換，是近代科學技術發展中不可缺少的重要材料，在晶體生產后，需要對光滑度進行測量，對于四棱柱形的晶體（大部分情況下是長方體或正方體），在對光滑度進行測量時，一般會通過光滑度測量儀進行測量，但是本申請人發現，在光滑度測量儀對晶體進行測量時，每次在對晶體的一個面測量完成后，需要人工將晶體的另一個面調整至正對光滑度測量儀才可以繼續測量，這樣人體需要不斷的接觸晶體，增加了晶體被損傷的風險。

在申請號為CN202122628383.5，專利名稱為一種玻璃表面光滑度檢測裝置的專利中，包括放置底座，放置底座的上端固定連接有固定架，固定架的上端安裝有除塵箱，除塵箱的下端固定有多個環形分布的吸氣管，多個吸氣管的下端均設置有吸盤，固定架的下端安裝有光滑度激光檢測頭，光滑度激光檢測頭電性連接有顯示面板，顯示面板安裝在固定架的側壁上，放置底座的下端固定連接有電機，放置底座的上端開設有圓孔，電機動力輸出端固定連接有轉軸，可以實現同時對多件產品進行檢測，但未解決上述技術問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種晶體表面光滑度檢測設備及其使用方法，以解決在對晶體進行測量時，人體需要不斷的接觸晶體的問題。

基于上述目的，本發明提供了一種晶體表面光滑度檢測設備，包括檢測平臺及設于所述檢測平臺上的立板，所述立板的側面設有滑槽，所述檢測設備還包括：

至少一個設置于所述滑槽內的滑塊、與所述滑塊的前側面固定連接的光滑度測量儀，所述滑塊與所述滑槽滑動連接；

用于驅動滑塊在滑槽中作升降運動的升降部；

正對于所述光滑度測量儀的檢測頭的夾持部，所述夾持部用于夾持晶體，且夾持部與滑塊一一對應，所述夾持部包括對稱設于滑槽兩側的第一氣缸、與所述第一氣缸的伸縮桿固定連接的壓板，兩個所述壓板相對設置；

與第一氣缸連接的轉動部，所述滑槽的側壁設有內側槽，所述轉動部用于帶動第一氣缸轉動，且轉動部設于所述內側槽內。

進一步的，所述滑塊設有兩個，且兩個所述滑塊上的光滑度測量儀相對設置，所述升降部在驅動滑塊沿著滑槽運動時，兩個滑塊的運動方向相反。

進一步的，所述轉動部包括：

位于內側槽內的轉板，所述第一氣缸與所述轉板固定連接，所述第一氣缸的中軸線與轉板的中軸線重合；

一端固定于內側槽側壁的若干穩定桿，所述穩定桿的另一端與設于轉板其中一個端面的圓環槽轉動連接；

用于驅動轉板轉動的轉動組件。

進一步的，所述轉動組件包括：

設于內側槽內的固定塊、與所述固定塊通過軸承連接的轉軸、設于所述轉軸一端的副齒輪、設于轉軸另一端的聯動齒輪及設于轉板側表面的主齒輪，所述副齒輪與所述主齒輪嚙合；