[發明專利]甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法

在審

• 申請號: 202211085915.8
• 申請日: 2022-09-06
• 公開（公告）號: CN115479885A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 王康;閆洪朗;王曼曼;馮路路;張惠敏;魏小云
• 申請（專利權）人: 江蘇沿江地區農業科學研究所
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01N5/00
• 代理公司: 上海唯源專利代理有限公司 31229
• 代理人: 曾耀先

本發明提供了一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法，包括：測定萌發處理組和對照組分別在第一低溫和第一常溫下培養第n天的發芽數和胚根長度，計算活力指數；測定幼苗處理組和對照組分別在第二低溫和弱光以及第二常溫和中等光強下培養第m天的地上部鮮重、葉綠素含量、地下部干重和莖粗；根據D＝?0.074+0.112VI+0.109OFW+0.258CL+0.03RDW+0.109SD計算低溫弱光耐性評價值，VI、OFW、CL、RDW和SD分別是上述測定指標的耐性系數，D值越大表明耐性越強，越小表明耐性越弱。本發明能夠準確鑒定甜瓜的低溫弱光耐性，克服單一時期、單一指標鑒定不準確的問題，提高鑒定的準確率。

技術領域

本發明涉及植物育種技術領域，更具體地，涉及低溫弱光耐性鑒定技術領域，特別是指一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法。

背景技術

低溫弱光是早春設施甜瓜栽培的主要障礙之一，選育耐低溫弱光甜瓜品種是解決該問題的有效手段，而低溫弱光的準確鑒定是品種選育的關鍵環節。

目前甜瓜低溫弱光的耐性主要是利用苗期形態指標來鑒定，而植物的耐低溫弱光性是由多基因調控的數量性狀，單一時期、單一指標鑒定難以從客觀上準確反映甜瓜的低溫弱光耐性。

因此，希望提供一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法，其能夠準確鑒定甜瓜的低溫弱光耐性，克服單一時期、單一指標鑒定不準確的問題，提高鑒定的準確率。

發明內容

為了克服上述現有技術中的缺點，本發明的一個目的在于提供一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法，其能夠準確鑒定甜瓜的低溫弱光耐性，克服單一時期、單一指標鑒定不準確的問題，提高鑒定的準確率，適于大規模推廣應用。

本發明的另一目的在于提供一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法，其設計巧妙，測定簡便快捷，成本低，適于大規模推廣應用。

為達到以上目的，本發明提供了一種甜瓜低溫弱光耐性鑒定方法，其特點是，包括：

(1)甜瓜萌發期和苗期低溫弱光耐性指標測定

A、萌發期

將甜瓜種子用溫水浸種，然后隨機分為萌發處理組和萌發對照組，所述萌發處理組在第一低溫下培養，所述萌發對照組在第一常溫下培養，在培養第n天，統計發芽數，測定胚根長度，計算活力指數，所述活力指數＝第n天發芽率×第n天胚根長度；

B、苗期

將3葉1心期甜瓜幼苗隨機分為幼苗處理組和幼苗對照組，所述幼苗處理組在第二低溫和弱光下培養，所述幼苗對照組在第二常溫和中等光照強度下培養，在培養第m天，測定地上部鮮重、葉綠素含量、地下部干重和莖粗；

(2)低溫弱光耐性評價值計算

根據以下公式計算低溫弱光耐性評價值：

D＝-0.074+0.112VI+0.109OFW+0.258CL+0.03RDW+0.109SD

其中VI是活力指數耐性系數，OFW是地上部鮮重耐性系數，CL是葉綠素含量耐性系數，RDW是地下部干重耐性系數，SD是莖粗耐性系數；

所述活力指數耐性系數＝所述萌發處理組的所述活力指數/所述萌發對照組的所述活力指數，所述地上部鮮重耐性系數＝所述幼苗處理組的所述地上部鮮重/所述幼苗對照組的所述地上部鮮重，所述葉綠素含量耐性系數＝所述幼苗處理組的所述葉綠素含量/所述幼苗對照組的所述葉綠素含量，所述地下部干重耐性系數＝所述幼苗處理組的所述地下部干重/所述幼苗對照組的所述地下部干重，所述莖粗耐性系數＝所述幼苗處理組的所述莖粗/所述幼苗對照組的所述莖粗；