[發明專利]熱電阻通道的校準裝置、系統、方法、設備及介質

在審

• 申請號: 202211085609.4
• 申請日: 2022-09-06
• 公開（公告）號: CN115435935A
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 李福生;田鋼;潘清;靳子洋;王漢意;李銘洋
• 申請（專利權）人: 國核自儀系統工程有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 羅朗;林嵩

本發明公開了一種熱電阻通道的校準裝置、系統、方法、設備及介質，該校準裝置包括第一選擇開關、第二選擇開關、MCU、電源、多個電阻槽位，每個電阻槽位中對應安裝一個校準電阻；第一選擇開關一端與多個電阻槽位分別電連接，另一端與第二選擇開關電連接；第二選擇開關的另一端與多個外部熱電阻通道電連接；MCU與第一選擇開關、第二選擇開關電連接；MCU用于根據目標校準指令控制第一選擇開關和第二選擇開關的開閉。本發明提供的熱電阻通道的校準裝置中的MCU能根據目標校準指令控制選擇開關自動選擇與目標電阻、待測量熱電阻通道電連接，如果校準裝置中的電阻的阻值出現偏差，可以直接更換新電阻，提高了校準的精度、效率，降低了校準的人工、時間成本。

技術領域

本發明涉及器件校準的技術領域，特別是熱電阻通道的校準裝置、系統、方法、設備及介質。

背景技術

分散控制系統(DCS)在化工、石化、電力等國內工業領域中都有著廣泛的應用，其中熱電阻(RTD)是分散控制系統里面一種很常用的傳感器，用于工業應用中的溫度測量。對于-200℃至+850℃之間的溫度，熱電阻可提供高精度和良好穩定性的出色特性組合。現在一般采用電阻箱來對熱電阻通道進行校準以保障其精度，這樣的方式存在一定的不足：

1.校準過程費時又費力，需要投入不少的人力對熱電阻通道逐個校準。

2.通過實際結果來看，校準的精度有局限性，難以達到非常高的精度。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中對熱電阻通道的校準存在困難的缺陷，提供一種熱電阻通道的校準裝置、系統、方法、設備及介質。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題：

本發明提供了一種熱電阻通道的校準裝置，所述校準裝置包括：第一選擇開關、第二選擇開關、MCU、電源、多個電阻槽位，其中，每個電阻槽位中對應安裝有一個校準電阻；

所述第一選擇開關的一端與所述多個電阻槽位分別電連接，另一端與所述第二選擇開關電連接；

所述第二選擇開關的另一端與多個外部熱電阻通道電連接；

所述MCU與所述第一選擇開關、第二選擇開關電連接；

所述電源用于向所述校準裝置供電；

所述第一選擇開關用于選擇與目標電阻槽位電連接；

所述第二選擇開關用于選擇與待測量熱電阻通道電連接；

所述MCU用于接收目標校準指令，并根據所述目標校準指令生成控制指令，控制所述第一選擇開關和所述第二選擇開關的開閉。

本發明還提供了一種熱電阻通道的校準系統，所述校準系統包括：如前所述的校準裝置、上位機、熱電阻通道卡，其中，所述熱電阻通道卡包括多個熱電阻通道；

所述上位機與所述校準裝置中的MCU電連接；

所述上位機與所述熱電阻通道卡電連接；

所述熱電阻通道卡通過所述多個熱電阻通道與所述校準裝置中的第二選擇開關電連接；

所述上位機用于向所述MCU發送目標校準指令，其中，所述目標校準指令中包括預期電阻值以及待測量熱電阻通道；

所述上位機還用于獲取目標校準電阻的電阻值，并根據所述預期電阻值、目標校準電阻的電阻值，計算得到所述待測量熱電阻通道的補償校準系數，其中，所述目標校準電阻安裝于所述目標電阻槽位中。

優選地，所述上位機與所述MCU通過RS422總線電連接。

本發明還提供了一種熱電阻通道的校準方法，所述校準方法應用于前述的校準系統，所述校準方法包括：