[發明專利]程序模糊測試方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202211085263.8
• 申請日: 2022-09-06
• 公開（公告）號: CN115357513B
• 公開（公告）日: 2023-06-13
• 發明（設計）人: 張超;秦世松;趙博棟
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

1.一種程序模糊測試方法，其特征在于，包括：

獲取被測程序；

根據所述被測程序，獲取所述被測程序的斷點；所述斷點的位置為所述被測程序的輸入類系統調用的位置；

根據所述斷點，獲取所述被測程序觸發斷點時的目標函數調用棧信息，所述目標函數調用棧信息用于指示函數名稱、函數調用順序；

獲取所述被測程序的候選目標集合，所述被測程序的候選目標集合用于指示所述被測程序中的I/O操作循環結構；

根據所述目標函數調用棧信息，以及，所述被測程序的候選目標集合，獲取所述被測程序的代碼插樁位置；

根據所述代碼插樁的位置，對所述被測程序進行插樁處理，得到代碼插樁后的被測程序，代碼插樁在所述被測程序的源代碼中的位置為網絡數據I/O交互同步點的位置；

利用M個測試用例，對所述代碼插樁后的被測程序進行模糊測試，所述M為大于或等于1的整數，每個所述測試用例包括至少兩條I/O交互請求消息，所述代碼插樁用于發送反饋信息，所述反饋信息用于指示發送所述I/O交互請求消息；

根據所述模糊測試的執行情況，獲取所述代碼插樁后的被測程序的模糊測試的結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述被測程序的候選目標集合包括：根據所述被測程序的源代碼，獲取所述被測程序的候選目標集合，所述候選目標集合包括至少一個元素，每個元素包括：被測程序的一個所述I/O操作循環結構，以及，包含所述I/O操作循環結構的函數信息。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根據所述函數調用棧信息，以及，所述被測程序的候選目標集合，獲取所述被測程序的代碼插樁的位置，包括：

根據所述目標函數調用棧信息，與所述候選目標集合中的元素進行匹配，將第一個匹配到的函數的位置作為所述被測程序的網絡協議I/O交互同步點的位置；

輸出所述被測程序的網絡協議I/O交互同步點的位置。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述獲取測試用例，包括：

獲取測試用例池中的M個初始測試用例，所述測試用例池中包括N個初始測試用例，所述N為大于或等于M的整數；

對M個初始測試用例中至少一個初始測試用例進行變異處理，得到所述M個測試用例。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述獲取所述代碼插樁后的被測程序的模糊測試的結果之后，還包括：

獲取所述測試用例對于所述被測程序的代碼覆蓋率；

若所述代碼覆蓋率大于或等于代碼覆蓋率閾值，將所述測試用例作為新初始測試用例更新至所述測試用例池。

6.一種程序模糊測試裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取被測程序；根據所述被測程序，獲取所述被測程序的斷點；所述斷點的位置為所述被測程序的輸入類系統調用的位置；根據所述斷點，獲取所述被測程序觸發斷點時的目標函數調用棧信息，所述目標函數調用棧信息用于指示函數名稱、函數調用順序；獲取所述被測程序的候選目標集合，所述被測程序的候選目標集合用于指示所述被測程序中的I/O操作循環結構；根據所述目標函數調用棧信息，以及，所述被測程序的候選目標集合，獲取所述被測程序的代碼插樁位置；根據所述代碼插樁的位置，對所述被測程序進行插樁處理，得到代碼插樁后的被測程序，代碼插樁在所述被測程序的源代碼中的位置為網絡數據I/O交互同步點的位置；

處理模塊，用于利用M個測試用例，對所述代碼插樁后的被測程序進行模糊測試，所述M為大于或等于1的整數，每個所述測試用例包括至少兩條I/O交互請求消息，所述代碼插樁用于發送反饋信息，所述反饋信息用于指示發送所述I/O交互請求消息；

第二獲取模塊，用于根據所述模糊測試的執行情況，獲取所述代碼插樁后的被測程序的模糊測試的結果。

7.一種電子設備，其特征在于，包括：處理器，以及存儲器；所述處理器與所述存儲器通信連接；

所述存儲器存儲計算機執行指令；

所述處理器執行所述存儲器存儲的計算機執行指令，以實現如權利要求1-5中任一項所述的方法。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機執行指令，所述計算機執行指令被處理器執行時用于實現如權利要求1至5任一項所述的程序模糊測試方法。