[發(fā)明專利]一種顯示模組自動Gamma校正方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211079203.5 | 申請日: | 2022-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN115410511A | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李瑞;王治璽 | 申請(專利權)人: | 信利光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/20 | 分類號: | G09G3/20 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人: | 胡昌志 |
| 地址: | 516600 廣東省汕尾*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顯示 模組 自動 gamma 校正 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種顯示模組自動Gamma校正方法及裝置,包括:步驟100、利用Gamma2.2曲線對待測顯示模組所有256灰階進行校正;步驟200、利用校正后的待測顯示模組256灰階獲取Gamma曲線。裝置包括MCU、驅(qū)動單元、校正單元及色度測試單元;驅(qū)動單元用于根據(jù)MCU指令驅(qū)動點亮待測顯示模組;校正單元用于根據(jù)MCU指令對待測顯示模組的灰階進行校正;色度測試單元用于采集待測顯示模組的光學參數(shù)。實施本發(fā)明,通過利用符合Gamma2.2曲線的256灰階對待測顯示模組的256灰階進行校正,使得待測顯示模組的灰階在不同顯示模組的表現(xiàn)一致,并且利用校正后的256灰階自動繪制待測顯示模組的Gamma曲線,解決了由于數(shù)據(jù)無法量化,標準不一,影響生產(chǎn)效率的問題。
技術領域
本發(fā)明涉及顯示模組亮度校正技術領域,特別涉及一種顯示模組自動Gamma校正方法及裝置。
背景技術
在顯示器上,從低到高不同等級的灰階所顯示的所有色度值相互連接后構成的曲線為色度曲線,通常,根據(jù)顯示器的顯示能力即能顯示的灰階位數(shù)用色彩分析儀就可測量出各階的所有色度數(shù)據(jù)。其中,能反應使用需要的、顯示效果所對應的色度曲線就是目標色度曲線,測量未經(jīng)過校正的顯示器所得到的色度曲線為特征色度曲線。
在顯示器的顯示模組生產(chǎn)過程中,由于RGB的光電特性與工藝偏差等原因,導致顯示模組在不同灰階的顏色亮度差異較大,在QC檢測時,由于顯示畫面的切換,極易對眼睛產(chǎn)生損傷。對于顏色亮度差異判斷,存在判定標準不統(tǒng)一、難以確定,校正困難,無法進行數(shù)據(jù)量化,人工成本較高等問題。
發(fā)明內(nèi)容
現(xiàn)有顯示器的顯示模組由于RGB的光電特性與工藝偏差等原因,導致顯示模組在不同灰階的顏色亮度差異較大,并且對于顏色亮度差異的判斷,由于數(shù)據(jù)無法量化,標準不一,影響生產(chǎn)效率。
針對上述問題,提出一種顯示模組自動Gamma校正方法及裝置,通過利用符合Gamma2.2曲線的256灰階對待測顯示模組的256灰階進行校正,使得待測顯示模組的灰階在不同顯示模組的表現(xiàn)一致,并且利用校正后的256灰階自動繪制待測顯示模組的Gamma曲線,解決了由于數(shù)據(jù)無法量化,標準不一,影響生產(chǎn)效率的問題。
一種顯示模組自動Gamma校正方法,包括:
步驟100、利用Gamma2.2曲線對待測顯示模組所有256灰階進行校正;
步驟200、利用校正后的待測顯示模組256灰階獲取Gamma曲線。
結合本發(fā)明所述的顯示模組自動Gamma校正方法,第一種可能的實施方式中,所述自動Gamma校正方法還包括:
步驟300、獲取待測顯示模組符合Gamma2.2曲線256灰階的光學參數(shù)閾值;
步驟400、利用校正后的所述256灰階點亮待測顯示模組,獲取光學參數(shù);
步驟500、將所述光學參數(shù)與閾值進行比較,以確定所述待測顯示模組是否滿足工藝要求。
結合本發(fā)明第一種可能的實施方式,第二種可能的實施方式中,所述步驟300包括:
步驟310將符合Gamma2.2曲線的256灰階傳輸?shù)組CU;
步驟320、所述MCU將所述灰階值進行數(shù)字轉(zhuǎn)換后,傳輸?shù)降谝患拇嫫鲉卧@得256灰階寄存器值;
步驟330、根據(jù)所述256灰階寄存器值,所述驅(qū)動單元驅(qū)動所述待測顯示模組顯示;
步驟340、利用色度測試單元采集對應所述256灰階寄存器值的光學參數(shù)。
步驟350、重復步驟310-340,直到所述待測顯示模組將所有256灰階顯示完成;
其中,所述光學參數(shù)包括CIE坐標及亮度。
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