[發明專利]一種存儲芯片測試密鑰保護方法、裝置及設備

在審

• 申請號: 202211078642.4
• 申請日: 2022-09-05
• 公開（公告）號: CN115359833A
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 楊衛平;方志雄;王志剛
• 申請（專利權）人: 珠海創飛芯科技有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/56
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王洋

本申請提出一種存儲芯片測試密鑰保護方法、裝置及設備，具體包括：芯片重新上電時，目標密鑰處理模塊獲得預存的目標密鑰及目標密鑰使能字段，所述目標密鑰使能字段包括用于控制測試控制模塊啟用的端口電平信號；目標密鑰處理模塊將目標密鑰加載至掉電清空數據的目標密鑰寄存器；目標密鑰處理模塊根據目標密鑰使能字段的端口電平信號控制測試控制模塊的啟用，以便測試控制模塊接收并對比用戶輸入密鑰與目標密鑰是否一致，判斷用戶輸入密鑰是否正確。本申請所述的一種存儲芯片測試密鑰保護方法、裝置及設備，提高時序復雜度，提升電路復雜度，使其他機構或者個人難以通過電路分析判斷目標密鑰和目標密鑰使能字段。

技術領域

本申請涉及芯片密鑰保護技術領域，尤其涉及一種存儲芯片測試密鑰保護方法、裝置及設備。

背景技術

在存儲類芯片領域，不同的晶圓生產工藝往往帶來存儲模塊(Memory cell)的特性變化，因此需要整個存儲模塊的外圍電路控制方法或控制精度也隨之變化，其中包括：模擬模塊的控制精度的選擇、數字模塊的控制方法的選擇、數據通路的選擇、電路工作速度的選擇以及其他多個部分的選擇或配置。例如，芯片內時鐘振蕩器(Oscillator)的生成電路的目標時鐘是50MHz，考慮工藝的變化或生產過程中的偏差，設計人員通常會給振蕩器做多個檔位的RC參數選擇。在芯片測試時，測試人員會讓芯片進入測試模式，找到最接近50MHz的配置參數，然后將此選擇信息存到啟動存儲模塊(Boot memory)當中。

當某一款設計優秀的芯片市場在市場銷售情況很好時，其他機構或者個人有可能對該芯片進行開蓋、電路拍照并分析，并測試模式下進行電路實測分析。該情況下，如果進入芯片測試的密鑰比較簡單或者保護強度較低時，其他機構或者個人通常可以通過shmoo測試猜出密鑰，或者通過拍照電路邏輯分析推理出密鑰。得到密鑰后，通過測試機進入芯片測試模式，獲取芯片的配置參數，并進行大量、復雜的電路實測分析，最終理解電路的設計思路和設計重點。

因此，通過電路設計保護存儲芯片的測試密鑰非常重要，可以進一步保護出廠后的芯片電路的配置參數不被改寫或不被研究和抄襲。

發明內容

有鑒于此，本申請實施例提供了一種存儲芯片測試密鑰保護方法、裝置及設備，旨在通過電路設計保護存儲芯片的測試密鑰。

一方面，本申請提出一種存儲芯片測試密鑰保護方法，所述方法包括：

芯片重新上電時，目標密鑰處理模塊獲得預存的目標密鑰及目標密鑰使能字段，所述目標密鑰是除芯片初次測試輸入的初始密鑰以外的密鑰，所述目標密鑰使能字段包括用于控制測試控制模塊啟用的端口電平信號；

目標密鑰處理模塊將目標密鑰加載至掉電清空數據的目標密鑰寄存器；

目標密鑰處理模塊根據目標密鑰使能字段的端口電平信號控制測試控制模塊的啟用，以便測試控制模塊接收并對比用戶輸入密鑰與目標密鑰是否一致，判斷用戶輸入密鑰是否正確。

可選的，芯片重新上電時，目標密鑰處理模塊獲得預存的目標密鑰及目標密鑰使能字段，具體包括：

將目標密鑰及目標密鑰使能字段寫入啟動存儲模塊；

芯片重新上電，目標密鑰處理模塊獲得啟動邏輯模塊從啟動存儲模塊中加載的目標密鑰及目標密鑰使能字段。

可選的，將目標密鑰及目標密鑰使能字段寫入啟動存儲模塊，包括：

所述目標密鑰及目標密鑰使能字段通過編程指令寫入啟動存儲模塊，所述目標密鑰及目標密鑰使能字段寫入啟動存儲模塊的寫入次數根據啟動存儲模塊的可編程次數確定。

可選的，目標密鑰處理模塊將目標密鑰加載至掉電清空數據的目標密鑰寄存器，進一步包括：

目標密鑰處理模塊對目標密鑰進行數據處理形成處理后的目標密鑰；