[發明專利]用于識別旋轉組件缺陷的裝置

在審

• 申請號: 202211077347.7
• 申請日: 2022-09-05
• 公開（公告）號: CN115791176A
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 阿里雷薩·阿扎法爾;蘭伯特·卡雷爾·范弗格特;科內利斯·哈爾姆·塔爾;卡里姆·高達;伊萊扎伯圖斯·馬爾賈爾斯
• 申請（專利權）人: 斯凱孚公司
• 主分類號: G01M13/045
• 分類號: G01M13/045;G01H1/00
• 代理公司: 北京智沃律師事務所 11620
• 代理人: 梁晨

1.一種在一組預定義缺陷之中識別旋轉組件的至少一個缺陷的方法，包括以下步驟：

-提取與每個預定義缺陷相關的頻率數據，從而形成頻率數據的第一頻譜特征；

-在旋轉組件正在運行時測量至少一個振動信號，以獲得至少兩個第二頻譜；

-基于指數平滑算法對每個第二頻譜進行濾波，其特征在于，所述方法包括：

-根據每個第二頻譜中的峰的突出性來選擇每個第二頻譜中的峰；

-如果選擇的峰不存在于預定義數量的連續第二頻譜中，則將選擇的峰設定為零，并且

-計算每個生成的第一頻譜特征與第二頻譜對應的概率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，頻率數據包括每個預定義缺陷的諧波和邊帶。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，通過積分泄漏平均算法來完成所述峰選擇。

4.根據前述權利要求1至4中任一項所述的方法，包括基于最可能的第一頻譜特征來選擇每個第二頻譜中的未知峰。

5.一種用于在一組預定義缺陷之中識別旋轉組件的至少一個缺陷的裝置(1)，包括：

-獲取部件(2)，被配置為提取與每個預定義缺陷相關的頻率數據；

-計算部件(3)，被配置為從每組的所述頻率數據形成第一頻譜特征；

-振動傳感器(4)，被配置為在所述旋轉組件正在運行時測量至少一個振動信號，以獲得至少兩個第二頻譜；

-濾波器(5)，被配置為基于指數平滑算法對每個第二頻譜進行濾波，其特征在于，所述裝置(1)包括：

-處理部件(6)，被配置為：根據每個第二頻譜中的峰的突出性來選擇每個第二頻譜中的峰，如果選擇的峰不存在于預定義數量的連續第二頻譜中，則將選擇的峰設定為零，并且計算生成的每個第一頻譜特征與第二頻譜對應的概率。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，頻率數據包括每個預定義缺陷的諧波和邊帶。

7.根據權利要求5或6所述的裝置，其特征在于，所述處理部件(6)被配置為通過使用積分泄漏平均算法來選擇所述峰。

8.根據權利要求5至7中任一項所述的裝置，其特征在于，所述處理部件(6)被配置為基于最可能的第一頻譜特征來選擇每個第二頻譜中的未知峰。

9.一種集成電路，包括根據前述權利要求5至8中任一項所述的用于在一組預定義缺陷之中識別旋轉組件的至少一個缺陷的裝置(1)。

10.一種軸承，包括根據權利要求9所述的集成電路。