[發(fā)明專利]標(biāo)志檢測(cè)裝置以及機(jī)器人示教系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211075980.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-09-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116086312A | 公開(公告)日: | 2023-05-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 池口誠人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社達(dá)誼恒 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;B25J9/00;G09B25/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 李逸雪 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 標(biāo)志 檢測(cè) 裝置 以及 機(jī)器人 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供能高精度地檢測(cè)標(biāo)志的位置的標(biāo)志檢測(cè)裝置以及利用其的機(jī)器人示教系統(tǒng)。標(biāo)志檢測(cè)裝置(220)具備:圖像生成部(221),其在由2D攝像機(jī)取得的圖像數(shù)據(jù)重疊由從與該2D攝像機(jī)相同視點(diǎn)拍攝的所述3D攝像機(jī)取得的點(diǎn)群數(shù)據(jù),來生成合成圖像;標(biāo)志位置算出部(222),其基于圖像數(shù)據(jù),來檢測(cè)標(biāo)志并算出位置;平面檢測(cè)部(223),其基于點(diǎn)群數(shù)據(jù)來檢測(cè)平面;標(biāo)志平面判定部(224),其根據(jù)基于由標(biāo)志位置算出部(222)算出的標(biāo)志的位置的標(biāo)志的區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)群數(shù)據(jù)和由平面檢測(cè)部(223)檢測(cè)到的平面,來判定標(biāo)志平面;和標(biāo)志位置補(bǔ)正部(225),其通過將由標(biāo)志位置算出部(222)算出的標(biāo)志的位置投影到標(biāo)志平面,來補(bǔ)正標(biāo)志的位置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及標(biāo)志檢測(cè)裝置以及機(jī)器人示教系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近年來,在產(chǎn)業(yè)界普及了大量機(jī)器人。該機(jī)器人例如用在電子部件以及機(jī)械部件的組裝、焊接以及運(yùn)送等中,謀求工廠的生產(chǎn)線的效率化以及自動(dòng)化。
例如在焊接機(jī)器人中,需要作成用于進(jìn)行所期望的動(dòng)作的程序,并作為所謂示教數(shù)據(jù)預(yù)先存儲(chǔ)。操作者使用示教器,與機(jī)器人控制裝置協(xié)作地操作實(shí)際的機(jī)器人,由此記錄該動(dòng)作,來生成該示教數(shù)據(jù)。
為了讓操作者使用示教器實(shí)際使機(jī)器人動(dòng)作的同時(shí)作成示教數(shù)據(jù),對(duì)操作者的技能的依賴度大,有時(shí)需要長時(shí)間,因此,為了減輕給操作者的負(fù)擔(dān),公開了使用AR設(shè)備以及標(biāo)志來認(rèn)識(shí)機(jī)器人的位置的機(jī)器人系統(tǒng)(例如專利文獻(xiàn)1)。
在專利文獻(xiàn)1公開的技術(shù)中,用AR設(shè)備同時(shí)檢測(cè)2個(gè)基準(zhǔn)用標(biāo)志,進(jìn)而認(rèn)識(shí)與機(jī)器人坐標(biāo)系確定用標(biāo)志的位置關(guān)系,由此抑制AR圖形的顯示位置偏離,并認(rèn)識(shí)機(jī)器人的位置、朝向。在這樣的機(jī)器人系統(tǒng)中,為了精度良好地認(rèn)識(shí)工件以及機(jī)器人的位置、朝向,需要適當(dāng)?shù)貦z測(cè)成為基準(zhǔn)的標(biāo)志。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:JP特開2021-62463號(hào)公報(bào)
但在專利文獻(xiàn)1公開的技術(shù)中,在標(biāo)志的檢測(cè)中,例如在使用二維攝像機(jī)的情況下,會(huì)在圖像處理中的輪廓判定時(shí)等,標(biāo)志的輪廓位置出現(xiàn)偏離,或者原本就由于鏡頭的失真等,對(duì)應(yīng)于視野角位置而發(fā)生標(biāo)志圖像失真,從而有可能與實(shí)際的標(biāo)志的位置產(chǎn)生誤差。
發(fā)明內(nèi)容
為此,本發(fā)明目的在于,提供能高精度地檢測(cè)標(biāo)志的位置的標(biāo)志檢測(cè)裝置以及利用其的機(jī)器人示教系統(tǒng)。
本發(fā)明的一方式所涉及的標(biāo)志檢測(cè)裝置具備:圖像生成部,其在由2D攝像機(jī)取得的圖像數(shù)據(jù)重疊由從與該2D攝像機(jī)相同視點(diǎn)拍攝的所述3D攝像機(jī)取得的點(diǎn)群數(shù)據(jù),來生成合成圖像;標(biāo)志位置算出部,其基于合成圖像當(dāng)中的圖像數(shù)據(jù),來檢測(cè)標(biāo)志并算出該標(biāo)志的位置;平面檢測(cè)部,其基于合成圖像當(dāng)中的點(diǎn)群數(shù)據(jù)來檢測(cè)平面;標(biāo)志平面判定部,其基于從由標(biāo)志位置算出部算出的標(biāo)志的位置檢測(cè)到的標(biāo)志的區(qū)域內(nèi)所含的點(diǎn)群數(shù)據(jù)和由平面檢測(cè)部檢測(cè)到的平面,來判定該標(biāo)志所存在的標(biāo)志平面;和標(biāo)志位置補(bǔ)正部,其通過將由標(biāo)志位置算出部算出的標(biāo)志的位置投影到標(biāo)志平面,來補(bǔ)正該標(biāo)志的位置。
根據(jù)該方式,標(biāo)志位置算出部基于由圖像生成部生成的圖像數(shù)據(jù)與點(diǎn)群數(shù)據(jù)的合成圖像當(dāng)中的圖像數(shù)據(jù),來檢測(cè)標(biāo)志并算出該標(biāo)志的位置,平面檢測(cè)部基于合成圖像當(dāng)中的點(diǎn)群數(shù)據(jù)來檢測(cè)平面。并且,標(biāo)志平面判定部基于從由標(biāo)志位置算出部算出的標(biāo)志的位置檢測(cè)到的標(biāo)志的區(qū)域內(nèi)所含的點(diǎn)群數(shù)據(jù)和由平面檢測(cè)部檢測(cè)到的平面,來判定該標(biāo)志所存在的標(biāo)志平面,標(biāo)志位置補(bǔ)正部通過將由標(biāo)志位置算出部算出的標(biāo)志的位置投影到標(biāo)志平面,來補(bǔ)正該標(biāo)志的位置。由此,能高精度地檢測(cè)標(biāo)志的位置。另外,雖然也考慮僅使用距離攝像機(jī)等來認(rèn)識(shí)標(biāo)志的位置,但由于用點(diǎn)群數(shù)據(jù)形成的圖像的解析度低,因此不能在該圖像上認(rèn)識(shí)標(biāo)志的位置,或者即使認(rèn)識(shí)出,進(jìn)行檢測(cè)的位置的精度也會(huì)變低。與其相比,在本發(fā)明的一方式所涉及的標(biāo)志檢測(cè)裝置中,由于使用圖像數(shù)據(jù)和點(diǎn)群數(shù)據(jù),因此能高精度地檢測(cè)標(biāo)志的位置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社達(dá)誼恒,未經(jīng)株式會(huì)社達(dá)誼恒許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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