[發明專利]應用于探測器的實時偏置校正方法、系統、介質及設備在審
| 申請號: | 202211067519.2 | 申請日: | 2022-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN115665567A | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發明(設計)人: | 楊光;趙世強;羅杰 | 申請(專利權)人: | 成都善思微科技有限公司 |
| 主分類號: | H04N25/44 | 分類號: | H04N25/44;H04N23/81;H04N25/447;H04N25/77;H04N25/75;H04N25/78;G01T7/00 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 厲洋洋 |
| 地址: | 610200 四川省成都市中國(四川)自由貿易*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 應用于 探測器 實時 偏置 校正 方法 系統 介質 設備 | ||
1.一種應用于探測器的實時偏置校正方法,其特征在于,包括:
步驟1,控制探測器中像素陣列與后級列信號讀出電路之間的模擬開關關斷,同時控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為復位狀態;
步驟2,在所述復位狀態下,采集所述探測器中模數轉換電路的第一數字輸出值,將每路的第一數字輸出值作為所述像素陣列中當前列像素對應的偏置系數;
步驟3,控制所述模擬開關打開,同時控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為工作狀態;
步驟4,在所述工作狀態下,采集所述探測器中模數轉換電路的第二數字輸出值,將第二數字輸出值與所述像素列陣中對應列的偏置系數之差,確定為當前行在多列像素完成實時偏置校正后的校正輸出值;
步驟5,逐行掃描并重復步驟3至步驟4,直至獲得所述像素陣列全部像素的校正輸出值。
2.根據權利要求1所述的一種應用于探測器的實時偏置校正方法,其特征在于,所述步驟1具體為:
在所述探測器處于曝光時間時,通過寄存器配置將像素陣列與后級列信號讀出電路之間的模擬開關關斷,同時,通過寄存器配置控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為復位狀態。
3.根據權利要求1所述的一種應用于探測器的實時偏置校正方法,其特征在于,所述步驟2之后還包括:
將每列的偏置系數與所述像素陣列一一對應形成像素對,存儲至所述探測器的存儲裝置中。
4.根據權利要求2所述的一種應用于探測器的實時偏置校正方法,其特征在于,所述采集所述探測器中每路模數轉換電路的第一數字輸出值的過程為:
將經線性轉換后的所述模數轉換電路的單次采集數字輸出值作為第一數字輸出值;
或將經線性轉換后的所述模數轉換電路的多次采集數字輸出值的平均值作為第一數字輸出值。
5.一種應用于探測器的實時偏置校正系統,其特征在于,包括:
第一控制模塊,用于控制探測器中像素陣列與后級列信號讀出電路之間的模擬開關關斷,同時控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為復位狀態;
第一采集模塊,用于在所述復位狀態下,采集所述探測器中模數轉換電路的第一數字輸出值,將每路的第一數字輸出值作為所述像素陣列中當前列像素對應的偏置系數;
第二控制模塊,用于控制所述模擬開關打開,同時控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為工作狀態;
校正模塊,用于在所述工作狀態下,采集所述探測器中模數轉換電路的第二數字輸出值,將第二數字輸出值與所述像素列陣中對應列的偏置系數之差,確定為當前行在多列像素完成實時偏置校正后的校正輸出值;
結果模塊,用于逐行掃描并重復第二控制模塊以及校正模塊,直至獲得所述像素陣列全部像素的校正輸出值。
6.根據權利要求5所述的一種應用于探測器的實時偏置校正系統,其特征在于,所述第一控制模塊具體用于:
在所述探測器處于曝光時間時,通過寄存器配置像素陣列與后級列信號讀出電路之間的模擬開關關斷,同時,通過寄存器配置控制所述后級列信號讀出電路的輸入端為復位狀態。
7.根據權利要求5所述的一種應用于探測器的實時偏置校正系統,其特征在于,還包括:
存儲模塊,用于將每列的偏置系數與所述像素陣列一一對應形成像素對,存儲至所述探測器的存儲裝置中。
8.根據權利要求5所述的一種應用于探測器的實時偏置校正系統,其特征在于,所述第一構建模塊具體用于:
所述采集所述探測器中列模數轉換電路的第一數字輸出值的過程為:
將經線性轉換后的所述模數轉換電路的單次采集數字輸出值作為第一數字輸出值;
或將經線性轉換后的所述模數轉換電路的多次采集數字輸出值的平均值作為第一數字輸出值。
9.一種存儲介質,其特征在于,所述介質中存儲有指令,當計算機讀取所述指令時,使所述計算機執行如權利要求1至4中任一項所述的一種應用于探測器的實時偏置校正方法。
10.一種電子設備,其特征在于,包括權利要求9所述的存儲介質、執行所述存儲介質內的指令的處理器。
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