[發明專利]一種通過UG NX測點獲取間隙面差擬實匹配測量截面輪廓方法

在審

• 申請號: 202211066710.5
• 申請日: 2022-09-01
• 公開（公告）號: CN115479572A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 王輝;李明;韋慶玥;柴子濤
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;G06T7/33
• 代理公司: 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205
• 代理人: 何文欣

1.一種通過UG測點獲取間隙面差擬實匹配測量截面輪廓方法，其特征在于：通過在一對匹配零件的CAD標準模型生成測點，該測點成對分布在一組匹配零件的匹配面上；通過測點來確定間隙面差需要測量的位置以及區域，并以矩形框形式記錄保存；將實際零件的掃描點云和其對應的CAD模型配準后，通過矩形框信息對點云進行采樣，從而獲取間隙面差測量所需的二維截面輪廓。

2.根據權利要求1所述的通過UG測點獲取間隙面差擬實匹配測量截面輪廓方法，其特征在于：定義一對匹配零件，分為主零件和相關件，其中主零件為基準件；面差為兩匹配零件的上表面的高度差，而間隙為兩匹配零件中間的裝配間隙值；

并定義主零件和相關件中與測量面差相關的兩個面為各自的面差匹配面，和測量間隙相關的兩個面為各自的間隙匹配面。

3.根據權利要求1所述的通過UG測點獲取間隙面差擬實匹配測量截面輪廓方法，其特征在于：UG測點生成在需要控制間隙面差位置的截面上，每個截面為8個點，并且8個點位于同一平面，根據包容原則，確定一個矩形正好包圍這8個點。

4.根據權利要求3所述的通過UG測點獲取間隙面差擬實匹配測量截面輪廓方法，其特征在于：測點生成規則為：

間隙面差擬實測量基于實際零件表面掃描所得的點云，將點云過濾處理后和其對應的CAD模型進行配準，通過撒點確定的矩形框，按照在矩形框區域內對點云進行采樣，從而獲取擬實間隙面差測量所需的二維截面輪廓。