[發明專利]異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法及裝置有效
| 申請號: | 202211065137.6 | 申請日: | 2022-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN115131007B | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發明(設計)人: | 王皓巖;葉雨農;劉杰;李苗;汪志強;李嵬;戴揚 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司信息科學研究院 |
| 主分類號: | G06Q10/10 | 分類號: | G06Q10/10;G06Q10/06;G06Q50/04;G06F16/242;G06F16/2455;G06F16/2458;G06F16/25;G06F16/26;G06F16/906;G06F16/31;G06F40/143 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成 系統 工藝 開發 平臺 過程 管理 方法 裝置 | ||
本發明實施例提供一種異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法及裝置,應用于軟件開發過程管理技術領域。包括:PDK開發流程管理,用于針對仿真工作中不同仿真環節建立信息追溯機制,確保數據的一致性、可追溯性;PDK開發過程數據管理,用于為微系統多物理協同建模PDK開發過程中產生的數據提供基礎服務功能;PDK開發綜合分析及可視化管理,用于在設計方案綜合評價時,對方案內的模型信息進行結構化處理、匯總和可視化報表生成。本發明實施例提供的異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法及裝置,可加強對異構集成微系統工藝庫開發平臺研發工作的全流程標準化管理,縮短開發周期,降低開發成本,提高開發質量,提升開發效率。
技術領域
本發明涉及軟件開發過程管理技術領域,尤其涉及一種異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法及裝置。
背景技術
基于異構集成工藝在工藝表征的PDK(Process Design Kit,工藝設計包)化開發方面滯后于微電子工藝PDK技術發展,并直接造成兩類工藝糅合進入系統級應用時,無法在EDA(Electronic DesignAutomation,電子設計自動化)環境下執行虛擬仿真設計和迭代,并向制造收斂。這在很大程度上局限住了當前異構集成微系統工藝的高效率應用,并限制了工藝能力的發揮,最終導致異構集成微系統設計無法實現由自頂向下的設計、自底向上驗證流程,無法實現對系統研發周期、成本可控,以及功能和性能指標設計的最佳化。
工藝平臺、器件設計、集成應用等資源處于零散狀態,不利于異構集成微系統協同研發基礎能力的提升,以及異構集成微系統產品的研制與開發。微系統設計技術研究剛剛起步,在規范化的工藝、模型和集成系統模型等方面的協同開發和過程管理方法方面的研究成果非常少,現階段不存在類似的異構集成工藝庫開發平臺過程管理方法,無法保證異構集成微系統工藝庫開發平臺開發過程正常有序地進行。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例提供一種異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法及裝置。技術方案如下:
第一方面,本發明的實施例提供一種異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理方法,包括:
PDK開發流程管理,用于針對仿真工作中的不同仿真環節建立信息追溯機制,確保數據的一致性、可追溯性;
PDK開發過程數據管理,用于為微系統多物理協同建模PDK開發過程中產生的數據提供基礎服務功能;
PDK開發綜合分析及可視化管理,用于在設計方案綜合評價時,對方案內的模型信息進行結構化處理、匯總和可視化報表生成。
可選地,所述PDK開發流程管理包括:PDK開發工作請求管理和PDK開發流程任務管理。
可選地,所述PDK開發過程數據管理包括:數據存儲、數據導航、數據檢索、數據生命周期管理、PDK開發數據鎖定、數據追蹤和譜系、資源分類管理、變更及通知。
可選地,所述PDK開發綜合分析及可視化管理包括:模型信息結構化、模型可視化、報表管理、方案管理、指標管理、討論管理、轉換服務管理。
第二方面,本發明的實施例提供一種異構集成微系統工藝庫開發平臺的過程管理裝置,包括:
第一管理模塊,用于PDK開發流程管理,所述PDK開發流程管理用于針對仿真工作中的不同仿真環節建立信息追溯機制,確保數據的一致性、可追溯性;
第二管理模塊,用于PDK開發過程數據管理,所述PDK開發過程數據管理用于為微系統多物理協同建模PDK開發過程中產生的數據提供基礎服務功能;
第三管理模塊,用于PDK開發綜合分析及可視化管理,所述PDK開發綜合分析及可視化管理用于在設計方案綜合評價時,對方案內的模型信息進行結構化處理、匯總和可視化報表生成。
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