[發(fā)明專(zhuān)利]一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)量裝置、方法以及一種電路板卡

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211057404.5
• 申請(qǐng)日: 2022-08-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115420960A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-12-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭建超
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R29/027
• 分類(lèi)號(hào): G01R29/027
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 史翠

本申請(qǐng)公開(kāi)了一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置、方法及電路板卡，屬于信號(hào)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，該裝置包括：控制器以及與SPI信號(hào)線(xiàn)中所有信號(hào)線(xiàn)路數(shù)量相等的ADC、第一比較器、第二比較器；各個(gè)ADC的第一端分別與CS、CLK、MISO和MOSI相連，各個(gè)ADC的第二端均與控制器相連，各個(gè)第一比較器的第一輸入端分別與CS、CLK、MISO和MOSI相連，各個(gè)第一比較器的第二輸入端均用于接收第一可調(diào)電壓，各個(gè)第二比較器的第一輸入端分別與CS、CLK、MISO和MOSI相連，各個(gè)第二比較器的第二輸入端均用于接收第二可調(diào)電壓，所有比較器的輸出端均與控制器相連。通過(guò)該裝置可以提高SPI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及信號(hào)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置、方法以及一種電路板卡。

背景技術(shù)

SPI(Serial Peripheral Interface，串行外設(shè)接口)協(xié)議是一種十分常見(jiàn)的通訊方式，為了保證SPI信號(hào)質(zhì)量的可靠性，需要對(duì)SPI的信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試。在現(xiàn)有技術(shù)中，一般是人工手動(dòng)通過(guò)示波器來(lái)抓取SPI信號(hào)的波形圖，并根據(jù)SPI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)來(lái)對(duì)SPI信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。但是，在人工手動(dòng)通過(guò)示波器抓取SPI信號(hào)波形圖的過(guò)程中，不僅極易產(chǎn)生誤操作，而且，SPI信號(hào)質(zhì)量的檢測(cè)結(jié)果也容易受到人為觀測(cè)結(jié)果的影響，這樣就無(wú)法保證SPI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性。目前，針對(duì)這一技術(shù)問(wèn)題，還沒(méi)有較為有效的解決辦法。

由此可見(jiàn)，如何進(jìn)一步提高SPI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性，是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置、方法以及一種電路板卡，以進(jìn)一步提高SPI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性。其具體方案如下：

一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置，包括：控制器以及與待測(cè)SPI信號(hào)線(xiàn)中所有CS、CLK、MISO和MOSI信號(hào)線(xiàn)路數(shù)量相等的ADC、第一比較器和第二比較器；

其中，所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI分別與VCC相連，各個(gè)ADC的第一端分別與所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相連，各個(gè)ADC的第二端均與所述控制器相連，各個(gè)第一比較器的第一輸入端分別與所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相連，各個(gè)第一比較器的第二輸入端均用于接收第一可調(diào)電壓，各個(gè)第一比較器的輸出端均與所述控制器相連，各個(gè)第二比較器的第一輸入端分別與所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相連，各個(gè)第二比較器的第二輸入端均用于接收第二可調(diào)電壓，各個(gè)第二比較器的輸出端均與所述控制器相連；所述控制器用于基于SPI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并根據(jù)各個(gè)ADC、第一比較器和第二比較器所采集到的信號(hào)對(duì)所述待測(cè)SPI信號(hào)線(xiàn)所輸出的待測(cè)SPI信號(hào)進(jìn)行質(zhì)量測(cè)試。

優(yōu)選的，還包括：

與所述控制器相連，用于輸出所述第一可調(diào)電壓的第一調(diào)壓電路；

與所述控制器相連，用于輸出所述第二可調(diào)電壓的第二調(diào)壓電路。

優(yōu)選的，還包括：

與所述控制器相連，用于對(duì)各個(gè)ADC、第一比較器和第二比較器所采集到的信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)的EEPROM。

相應(yīng)的，本發(fā)明還公開(kāi)了一種電路板卡，包括如前述所公開(kāi)的一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置。

相應(yīng)的，本發(fā)明還公開(kāi)了一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法，應(yīng)用于前述所公開(kāi)的一種SPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試裝置中的所述控制器，包括：

基于所述SPI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并根據(jù)各個(gè)ADC、第一比較器和第二比較器所采集到的信號(hào)對(duì)所述待測(cè)SPI信號(hào)線(xiàn)所輸出的所述待測(cè)SPI信號(hào)進(jìn)行質(zhì)量測(cè)試。

優(yōu)選的，所述基于所述SPI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并根據(jù)各個(gè)ADC、第一比較器和第二比較器所采集到的信號(hào)對(duì)所述待測(cè)SPI信號(hào)線(xiàn)所輸出的所述待測(cè)SPI信號(hào)進(jìn)行質(zhì)量測(cè)試的過(guò)程，包括：