[發(fā)明專利]一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211055838.1 | 申請日: | 2022-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN115629074A | 公開(公告)日: | 2023-01-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于翀;宋昊;劉春紅;付佳豪;趙啟迪;王浩天 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京正陽理工知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 鄔曉楠 |
| 地址: | 100095*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 光纖 傳感 損傷 監(jiān)測 包絡(luò) 提取 方法 | ||
1.一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:該方法包括以下步驟:
步驟1.利用箱線圖法剔除光纖光柵傳感器所采集信號中的異常值;
步驟2.利用小波閾值去噪法對數(shù)據(jù)集Xi'進行毛刺去除;
步驟3.對數(shù)據(jù)集Xi”進行截取,保留能夠表征損傷發(fā)生、損傷演變部分的信號,去掉結(jié)構(gòu)破壞后的信號,得到數(shù)據(jù)集Xi”';
步驟4.利用極值法提取數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波峰、波谷值;
步驟5.以數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波峰構(gòu)造數(shù)據(jù)集Xi”'的上包絡(luò)線,以數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波谷構(gòu)造數(shù)據(jù)集Xi”'的下包絡(luò)線;
步驟6.將上包絡(luò)線a與下包絡(luò)線b的數(shù)據(jù)對應(yīng)相減,消除溫度對光纖光柵傳感器產(chǎn)生的影響,得到極值包絡(luò)線c;
步驟7.對極值包絡(luò)線c進行三次樣條插值,得到數(shù)據(jù)集Xi”'的粗糙包絡(luò)線d;
步驟8.對粗糙包絡(luò)線d進行小波分解,提取低頻信號,得到截取信號的信號包絡(luò)線e,實現(xiàn)快速提取包絡(luò)線,并有效的保持原始信號的變化趨勢的目的。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟1的實現(xiàn)方法為
①將信號中的數(shù)據(jù)由小到大排序,得到新的數(shù)據(jù)集Xi;
②計算數(shù)據(jù)集Xi的四分位數(shù)Q1、Q2(中位數(shù))、Q3;
③計算四分位距IQR=Q3-Q1;
④計算箱線圖的上須A=Q3+1.5*IQR、下須B=Q1-1.5*IQR;
⑤將數(shù)據(jù)集Xi中的每一個數(shù)據(jù)與箱線圖的上須、下須進行比較,當(dāng)某數(shù)據(jù)大于上須或小于下須時判定為異常值進行剔除,得到剔除異常值的數(shù)據(jù)集Xi'。
3.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟2的實現(xiàn)方法為
①利用Sym小波函數(shù)對數(shù)據(jù)集Xi'進行小波變換,得到小波系數(shù);
②對得到的小波系數(shù)進行處理,去除與高頻噪聲信號相關(guān)的小波系數(shù),以去除信號中的噪聲;
③對處理后的小波系數(shù)進行小波逆變換,得到去噪后的數(shù)據(jù)集Xi”。
4.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟4的實現(xiàn)方法為
①求數(shù)據(jù)集Xi”'的相反數(shù),得到數(shù)據(jù)集-Xi”';
②利用數(shù)值處理軟件中的findpeaks函數(shù),得到數(shù)據(jù)集Xi”'的極大值Xa及數(shù)據(jù)集-Xi”'的極大值Xb,則Xa為數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波峰值,Xb為數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波谷值。
5.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟5的實現(xiàn)方法為
①以數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波峰值Xa及波峰所在位置構(gòu)造數(shù)據(jù)集Xi”'的上包絡(luò)線a;
②以數(shù)據(jù)集Xi”'的所有波谷值Xb及波谷所在位置構(gòu)造數(shù)據(jù)集Xi”'的下包絡(luò)線b。
6.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟7的實現(xiàn)方法為
①計算極值包絡(luò)線c每個數(shù)據(jù)點的橫坐標xi與縱坐標yi;
②利用Matlab中的spline函數(shù)在橫坐標xi與縱坐標yi之間進行插值,使極值包絡(luò)線c的數(shù)據(jù)個數(shù)與數(shù)據(jù)集Xi”'的個數(shù)一致,得到粗糙包絡(luò)線d。
7.如權(quán)利要求1所述的一種用于光纖傳感損傷監(jiān)測的包絡(luò)提取方法,其特征在于:步驟8的實現(xiàn)方法為
①利用db4小波函數(shù)對粗糙包絡(luò)線d進行小波分解,得到信號中的高頻分量與低頻分量;
②將信號中的高頻分量去除,只保留低頻分量,得到信號包絡(luò)線e。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所,未經(jīng)中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211055838.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





