[發明專利]一種循環冗余校驗的實現方法、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202211054324.4
• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN115412204B
• 公開（公告）日: 2023-09-08
• 發明（設計）人: 高崇興
• 申請（專利權）人: 深圳云豹智能有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 北京棘龍知識產權代理有限公司 11740
• 代理人: 周翠蘭

1.一種循環冗余校驗碼的實現方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取多個輸入數據以及每一輸入數據的數據位寬，確定所述多個輸入數據中的最大位寬；

針對每一輸入數據，在所述輸入數據的位寬等于所述最大位寬的情況下，根據所述最大位寬確定所述最大位寬的輸入數據對應的第一CRC系數，將所述最大位寬的輸入數據和所述第一CRC系數輸入至CRC運算單元，得到所述最大位寬的輸入數據對應的計算結果；

在所述輸入數據的位寬小于所述最大位寬的情況下，將數據位寬小于所述最大位寬的輸入數據進行預處理得到處理后的輸入數據，所述處理后的輸入數據的數據位寬等于所述最大數據位寬，并確定所述輸入數據對應的第二CRC系數，將所述處理后的輸入數據和所述第二CRC系數輸入所述CRC運算單元中獲得對應的計算結果；

所述在所述輸入數據的位寬小于所述最大位寬的情況下，將數據位寬小于所述最大位寬的輸入數據進行預處理得到處理后的輸入數據包括：

對所述數據位寬小于所述最大位寬的輸入數據進行高位補0處理，使得處理后的輸入數據的數據位寬等于所述最大位寬；

所述確定所述輸入數據對應的第二CRC系數具體包括：

根據所述輸入數據的有效位寬選擇所述輸入數據對應的第二CRC系數，其中所述第二CRC系數的數據位寬與所述輸入數據的有效位寬相等。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取多個CRC標準下的CRC系數；

其中，所述確定所述輸入數據對應的第二CRC系數具體包括：

根據確定的CRC標準，在所述確定的CRC標準對應的CRC系數中根據所述輸入數據的有效位寬選擇第二CRC系數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

對于每一輸入數據，在得到所述輸入數據對應的所述計算結果后，采用所述輸入數據對應的計算結果更新所述輸入數據。

4.一種循環冗余校驗碼的處理裝置，其特征在于，所述裝置包括：

最大位寬確定單元，用于獲取多個輸入數據以及每一輸入數據的數據位寬，確定所述多個輸入數據中的最大位寬；

CRC系數確定單元，用于在所述輸入數據的位寬等于所述最大位寬的情況下，根據所述最大位寬確定所述最大位寬的輸入數據對應的第一CRC系數；

輸入數據處理單元，用于在所述輸入數據的位寬小于所述最大位寬的情況下，將數據位寬小于所述最大位寬的輸入數據進行預處理得到處理后的輸入數據，所述處理后的輸入數據的數據位寬等于所述最大數據位寬；

所述CRC系數確定單元，還用于確定所述處理后的輸入數據對應的第二CRC系數；

CRC運算單元，用于對最大位寬的輸入數據和對應的第一CRC系數進行CRC運算獲得對應的計算結果，還用于對所述處理后的輸入數據和對應的第二CRC系數進行CRC計算獲得對應的計算結果；

所述輸入數據處理單元具體用于：

對所述數據位寬小于所述最大位寬的輸入數據進行高位補0處理，使得處理后的輸入數據的數據位寬等于所述最大位寬；

所述CRC系數確定單元具體用于：

根據所述輸入數據的有效位寬選擇所述輸入數據對應的第二CRC系數，其中所述第二CRC系數的數據位寬與所述輸入數據的有效位寬相等。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

更新單元，用于對于每一輸入數據，在得到所述輸入數據對應的所述計算結果后，采用所述輸入數據對應計算結果更新所述輸入數據。

6.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：存儲器和處理器；

其中，所述存儲器，用于存儲機器可執行指令；

所述處理器，用于讀取并執行所述存儲器存儲的機器可執行指令，以實現如權利要求1-3中任一項所述的方法。