[發(fā)明專利]一種用于對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的方法及系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202211054177.0
• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN116150388A
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張烈;郭鵬;楊國生;李仲青;周澤昕;閆周天;王麗敏;李妍霏;張瀚方;康逸群;藥韜;劉亞東;胡海燕;葉馨
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電力科學(xué)研究院有限公司
• 主分類號: G06F16/36
• 分類號: G06F16/36;G06N5/04
• 代理公司: 北京工信聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11266
• 代理人: 賈銀秋

本發(fā)明公開了一種用于對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的方法及系統(tǒng)，其中方法包括：獲取繼電保護(hù)的缺陷現(xiàn)象；根據(jù)所述缺陷現(xiàn)象，基于預(yù)先建立的關(guān)聯(lián)規(guī)則，確定與所述缺陷現(xiàn)象相關(guān)聯(lián)的缺陷部位；計算任意一項缺陷部位在每一缺陷現(xiàn)象下發(fā)生的條件概率；基于所述條件概率，計算任意一個缺陷部位對應(yīng)的各項缺陷現(xiàn)象發(fā)生的綜合概率；基于任意一項缺陷部位的綜合概率，計算缺陷現(xiàn)象下，每一項關(guān)聯(lián)的缺陷部位的概率；基于每一項關(guān)聯(lián)的缺陷部位的概率，對缺陷部位進(jìn)行定位。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電力系統(tǒng)繼電保護(hù)運行維護(hù)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種用于對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

繼電保護(hù)設(shè)備缺陷，造成繼電保護(hù)設(shè)備不滿足可靠性要求，電力一次設(shè)備因缺乏必要保障，安全運行水平下降。繼電保護(hù)缺陷發(fā)生后，如何快速定位缺陷，實現(xiàn)缺陷診斷，具有重要意義。由于繼電保護(hù)設(shè)備及二次回路構(gòu)成復(fù)雜，繼電保護(hù)缺陷現(xiàn)象與缺陷部位耦合關(guān)聯(lián)，導(dǎo)致缺陷診斷定位困難。

目前繼電保護(hù)缺陷診斷尚無系統(tǒng)性方法。繼電保護(hù)缺陷診斷主要依賴人工經(jīng)驗實現(xiàn)，現(xiàn)有繼電保護(hù)缺陷診斷方法大多是對繼電保護(hù)典型個案的總結(jié)，現(xiàn)場人員通過收集缺陷現(xiàn)象，“試探性”地采取缺陷排查措施，最終定位裝置缺陷。在“試探性”的缺陷排查過程中，由于經(jīng)歷了嘗試性的缺陷排查操作，造成缺陷診斷定位過程長、耗時長，缺陷診斷準(zhǔn)確率、效率均不足。

因此，需要一種技術(shù)，以實現(xiàn)對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行準(zhǔn)確定位。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明技術(shù)方案提供一種用于對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的方法及系統(tǒng)，以解決如何對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種用于對繼電保護(hù)缺陷點進(jìn)行定位的方法，所述方法包括：

獲取繼電保護(hù)的缺陷現(xiàn)象；

根據(jù)所述缺陷現(xiàn)象，基于預(yù)先建立的關(guān)聯(lián)規(guī)則，確定與所述缺陷現(xiàn)象相關(guān)聯(lián)的缺陷部位；

計算任意一項缺陷部位在每一缺陷現(xiàn)象下發(fā)生的條件概率；

基于所述條件概率，計算任意一個缺陷部位對應(yīng)的各項缺陷現(xiàn)象發(fā)生的綜合概率；

基于任意一項缺陷部位的綜合概率，計算缺陷現(xiàn)象下，每一項關(guān)聯(lián)的缺陷部位的概率；

基于每一項關(guān)聯(lián)的缺陷部位的概率，對缺陷部位進(jìn)行定位。

優(yōu)選地，還包括：

當(dāng)確定與所述缺陷現(xiàn)象相關(guān)聯(lián)的缺陷部位為單一的缺陷部位時，對所述缺陷部位進(jìn)行定位。

優(yōu)選地，所述基于所述條件概率，計算任意一個缺陷部位對應(yīng)的各項缺陷現(xiàn)象發(fā)生的綜合概率，包括：

計算任意一項缺陷部位在每一缺陷現(xiàn)象下發(fā)生的條件概率

對于任意一項缺陷部位f_j，計算所述缺陷部位對應(yīng)的每一缺陷現(xiàn)象a_i下發(fā)生的條件概率P(a_i|f_j)；

將所述缺陷部位對應(yīng)的每一缺陷現(xiàn)象a_i下發(fā)生的條件概率P(a_i|f_j)進(jìn)行連乘，得到該缺陷部位發(fā)生缺陷現(xiàn)象時，所對應(yīng)的各項缺陷現(xiàn)象均發(fā)生的綜合概率其中，a_k為各項觀測到的缺陷現(xiàn)象。

優(yōu)選地，所述基于任意一項缺陷部位的綜合概率，計算缺陷現(xiàn)象下，每一項關(guān)聯(lián)的缺陷部位的概率，還包括：

基于不同缺陷部位發(fā)生所觀測到的缺陷現(xiàn)象的綜合概率p_j，計算每一項缺陷現(xiàn)象下，關(guān)聯(lián)的各個缺陷部位的概率，即P_j＝p_j/(p₁+p₂+…+p_n)，式中，n為關(guān)聯(lián)的缺陷部位的總數(shù)。