[發(fā)明專利]一種電源芯片質(zhì)量檢測方法及系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN115359022A
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁永斌;朱林
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州知碼芯信息科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06V10/75;G06V10/80
• 代理公司: 北京高航知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11530
• 代理人: 王龐

1.一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，包括：

S1，獲取電源芯片的引腳的外觀圖像；

S2，獲取外觀圖像在RGB顏色空間中的紅色分量的圖像imgR、綠色分量的圖像imgG和藍色分量的圖像imgB；

S3，分別對imgR、imgG、imgB進行降噪處理，獲得圖像lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB；

S4，分別對lwnsimgR、lwnsimgG、lwnsimgB進行圖像分割處理，獲得圖像sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB；

S5，對sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB進行圖像融合處理，獲得圖像trgimg；

S6，對trgimg進行特征提取，獲得特征信息；

S7，基于特征信息判斷電源芯片的引腳是否通過質(zhì)量檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述S1包括：

使用工業(yè)相機獲取電源芯片的引腳的外觀圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述S3包括：

對于圖像I，I∈{imgR,imgG,imgB}，降噪方式如下：

使用中值濾波算法分別對圖像I中的每個像素點進行降噪處理，獲得圖像midI；

根據(jù)設(shè)定的獲取算法獲取圖像midI中的待處理像素點的集合U；

使用改進的雙邊濾波算法分別對集合U中的每個像素點進行降噪處理，獲得降噪后的圖像lwnsI。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)設(shè)定的獲取算法獲取圖像midI中的待處理像素點的集合U，包括：

將像素點pix在圖像I中的像素值記為，將像素點pix在圖像midI中的像素值記為；

采用如下公式計算素點pix的變化系數(shù)：

式中，表示變化系數(shù)，表示預(yù)設(shè)的像素值變化標準值；

判斷是否大于設(shè)定的變化系數(shù)閾值，若是，則將像素點pix作為待處理像素點存入集合U。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述S4包括：

對圖像J進行圖像分割處理的過程如下，J∈{lwnsimgR，lwnsimgG，lwnsimgB}：

將圖像J分成多個面積相同的子圖像；

對圖像J進行邊緣檢測，獲取邊緣像素點的集合；

將包含中的像素點的子圖像存入集合；

使用圖像分割算法分別對中的每個子圖像進行圖像分割處理，獲得前景像素點的集合；

將處于中的像素點連接成的區(qū)域內(nèi)部的像素點和中的像素點組成的圖像作為對圖像J進行圖像分割處理獲得的圖像。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述對圖像J進行邊緣檢測，獲取邊緣像素點的集合，包括：

使用Marr-Hildreth算法對圖像J進行邊緣檢測，獲取邊緣像素點的集合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述S5包括：

分別計算sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB的自適應(yīng)融合權(quán)重；

將sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB中的像素點分別存入集合sgtimgRU、sgtimgGU、sgtimgBU，

獲取sgtimgRU、sgtimgGU、sgtimgBU的交集uniU；

對于uniU中的像素點appix，使用如下公式獲取appix在圖像trgimg中的像素值trgimg(appix)：

式中，分別表示appix在sgtimgR、sgtimgG、sgtimgB中的像素值。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源芯片質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述S6包括：

使用SUFR算法對trgimg進行特征提取，獲得特征信息。