[發明專利]用于復用和解復用的多模式設備

在審

• 申請號: 202211040910.3
• 申請日: 2022-08-29
• 公開（公告）號: CN115931019A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: Y-K·吳;L·T·甘恩
• 申請（專利權）人: 蘋果公司
• 主分類號: G01D5/353
• 分類號: G01D5/353;G02B6/14;G02B6/293
• 代理公司: 北京市漢坤律師事務所 11602
• 代理人: 魏小薇;吳麗麗

1.一種用于組合來自第一光源和第二光源的光的干涉測量設備，包括：

第一輸入波導，所述第一輸入波導被配置為接收來自所述第一光源的輸入光；

第二輸入波導，所述第二輸入波導被配置為接收來自所述第二光源的輸入光，所述第二輸入波導與所述第一輸入波導物理地分開一定間隙；

干涉測量波導，所述干涉測量波導被配置為組合來自所述第一輸入波導和所述第二輸入波導的所述光；以及

輸出波導，所述輸出波導物理地連接到所述干涉測量波導，其中；

所述干涉測量波導包括：

漸縮區段；以及

直區段，所述直區段鄰接所述漸縮區段；并且

所述漸縮區段組合來自所述第一光源和所述第二光源的所述光。

2.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中：

所述第一輸入波導和所述第二輸入波導之間的所述間隙是恒定的；

來自所述第一光源和所述第二光源的所述輸入光是單一模式的光；

所述干涉測量波導的所述漸縮區段包括：

第一漸縮區段；以及

第二漸縮區段；

所述干涉測量波導的所述第一漸縮區段鄰接到所述第一輸入波導；

所述干涉測量波導的所述第二漸縮區段鄰接到所述第二輸入波導；

所述干涉測量波導將所述輸入單一模式的光的一部分轉換為更高階模式的光；并且

所述輸出波導輸出所述單一模式的光。

3.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中所述第一輸入波導和所述第二輸入波導平行地通向所述干涉測量波導的所述漸縮區段。

4.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中所述第一輸入波導和所述第二輸入波導跨所述第一輸入波導和所述第二輸入波導的長度是直的。

5.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中：

所述輸出波導包括輸出中心軸線；

所述干涉測量波導包括干涉測量中心軸線；并且

所述輸出中心軸線從所述干涉測量中心軸線偏移。

6.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中：

所述輸出波導包括第一寬度；

所述干涉測量波導包括第二寬度；并且

所述第二寬度寬于所述第一寬度。

7.根據權利要求2所述的干涉測量設備，其中：

所述第二輸入波導的所述第二漸縮區段將所述輸入單一模式的光的一部分轉換為更高階模式的光；

所述更高階模式的光耦合到所述第一輸入波導的所述第一漸縮區段；并且

所述干涉測量波導接收所述輸入單一模式的光和所述更高階模式的光。

8.根據權利要求1所述的干涉測量設備，其中所述第一輸入波導和所述干涉測量波導之間的角度與所述第二輸入波導和所述干涉測量波導之間的角度相同。

9.一種復用設備，包括：

第一輸入波導，所述第一輸入波導被配置為接收第一波長的單一模式的光；

第二輸入波導，所述第二輸入波導被配置為接收第二波長的所述單一模式的光并且將所述第二波長的所述單一模式的光轉換為更高階模式的光，

干涉測量波導，所述干涉測量波導包括：

第一漸縮區段；

第二漸縮區段，所述第二漸縮區段光學耦合到所述第一漸縮區段并且被配置為將從所述第二輸入波導接收到的所述單一模式的光轉換為更高階模式的光；以及

直區段，所述直區段被配置為從所述第一漸縮區段接收所述單一模式的光和所述更高階模式的光；以及

輸出波導，所述輸出波導光學耦合到所述干涉測量波導并且被配置為：

將從所述干涉測量波導接收到的所述更高階模式的光轉換為單一模式的輸出光；以及

輸出組合第一和第二波長單一模式的輸出光，從而減輕相干噪聲。