[發(fā)明專利]一種外觀缺陷檢測系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211039631.5 | 申請日: | 2022-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN115436394A | 公開(公告)日: | 2022-12-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 方上海;夏雨;邱林飛;高建光;徐紀(jì)超;周兵兵 | 申請(專利權(quán))人: | 富翔精密工業(yè)(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334 | 代理人: | 饒智彬 |
| 地址: | 215316 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 外觀 缺陷 檢測 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種外觀缺陷檢測系統(tǒng),包括載物臺及多維調(diào)節(jié)平臺,所述多維調(diào)節(jié)平臺架設(shè)于所述載物臺的上方,所述載物臺用于裝載待檢測的鏡面工件,其特征在于,所述外觀缺陷檢測系統(tǒng)還包括:
第一檢測裝置,包括固定于所述多維調(diào)節(jié)平臺的第一相機及第一光源,所述第一相機、所述第一光源自上而下分布,所述第一光源用于對所述鏡面工件進行補光,使所述第一相機采集所述鏡面工件的第一圖像;
第二檢測裝置,包括固定于所述多維調(diào)節(jié)平臺的第二相機及第二光源,所述第二相機、所述第二光源自上而下分布,所述第二光源用于對所述鏡面工件進行補光,使所述第二相機采集所述鏡面工件的第二圖像;
計算設(shè)備,包括第一檢測模塊、第二檢測模塊,所述計算設(shè)備與所述第一相機及所述第二相機通信連接,所述第一檢測模塊用于根據(jù)所述第一圖像檢測所述鏡面工件是否具有第一類型的外觀缺陷,所述第二檢測模塊用于根據(jù)所述第二圖像檢測所述鏡面工件是否具有第二類型的外觀缺陷。
2.如權(quán)利要求1所述的外觀缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,所述第一類型的外觀缺陷包括劃傷缺陷、料紋缺陷、碰傷缺陷、未見光缺陷中的至少一者,所述第二類型的外觀缺陷包括磨痕缺陷、針孔缺陷、斑馬紋缺陷中的至少一者。
3.如權(quán)利要求1所述的外觀缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,所述第一相機包括FA鏡頭,所述第二相機包括遠心鏡頭,所述FA鏡頭與所述遠心鏡頭間隔設(shè)置,所述FA鏡頭沿第一直線設(shè)置,所述遠心鏡頭沿第二直線設(shè)置,所述第一直線與所述第二直線平行。
4.如權(quán)利要求3所述的外觀缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,所述第一光源包括環(huán)形光源,所述環(huán)形光源沿第一直線設(shè)置,所述第二光源包括同軸光源,所述同軸光源沿所述第二直線設(shè)置。
5.如權(quán)利要求1所述的外觀缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,所述計算設(shè)備還包括圖像預(yù)處理模塊,所述圖像預(yù)處理模塊用于對所述第一圖像及所述第二圖像進行位置修正與圖像分割處理。
6.如權(quán)利要求1所述的外觀缺陷檢測系統(tǒng),其特征在于,所述多維調(diào)節(jié)平臺包括X軸伺服模組、Y軸伺服模組及Z軸伺服模組,所述X軸伺服模組架設(shè)于所述載物臺頂部,所述Y軸伺服模組設(shè)于所述X軸伺服模組底部,所述Z軸伺服模組掛設(shè)于所述X軸伺服模組上,所述外觀缺陷檢測系統(tǒng)還包括擋板,所述擋板安裝于所述Z軸伺服模組上,所述第一檢測裝置及所述第二檢測裝置設(shè)于所述擋板上。
7.一種外觀缺陷檢測方法,其特征在于,包括:
獲取第一相機在第一光源的補光下采集到的鏡面工件的第一圖像,及獲取第二相機在第二光源的補光下采集到的鏡面工件的第二圖像;
對所述第一圖像及所述第二圖像進行預(yù)處理,得到預(yù)處理后的第一圖像及預(yù)處理后的第二圖像;
通過第一預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第一圖像進行外觀缺陷檢測,得到第一外觀檢測結(jié)果;
通過第二預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第二圖像進行外觀缺陷檢測,得到第二外觀檢測結(jié)果;
基于所述第一外觀檢測結(jié)果與所述第二外觀檢測結(jié)果,得到所述鏡面工件的外觀檢測結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的外觀缺陷檢測方法,其特征在于,所述通過第一預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第一圖像進行外觀缺陷檢測,得到第一外觀檢測結(jié)果,包括:通過所述第一預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第一圖像進行缺陷查找,以確定所述鏡面工件是否存在第一類型的外觀缺陷,所述第一類型的外觀缺陷包括劃傷缺陷、料紋缺陷、碰傷缺陷、未見光缺陷中的至少一者。
9.如權(quán)利要求7所述的外觀缺陷檢測方法,其特征在于,所述通過第二預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第二圖像進行外觀缺陷檢測,得到第二外觀檢測結(jié)果,包括:通過所述第二預(yù)設(shè)算法對所述預(yù)處理后的第二圖像進行缺陷查找,以確定所述鏡面工件是否存在第二類型的外觀缺陷,所述第二類型的外觀缺陷包括磨痕缺陷、針孔缺陷、斑馬紋缺陷中的至少一者。
10.如權(quán)利要求8或權(quán)利要求9所述的外觀缺陷檢測方法,其特征在于,確定所述鏡面工件存在缺陷后,還包括:利用預(yù)設(shè)條件檢測算法判斷所述鏡面工件所存在的缺陷的缺陷程度是否在對應(yīng)的預(yù)設(shè)缺陷程度要求范圍內(nèi),若所述缺陷的缺陷程度在所述預(yù)設(shè)缺陷程度要求范圍內(nèi),忽略所述鏡面工件存在的缺陷。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





