[發(fā)明專利]狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法和設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211034375.0 | 申請日: | 2022-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN115480094A | 公開(公告)日: | 2022-12-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張文明 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州銳格思科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25 |
| 代理公司: | 杭州創(chuàng)智卓英知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33324 | 代理人: | 劉宏全 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市濱江區(qū)*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 狹窄 封閉 場景 電壓 監(jiān)測 方法 設(shè)備 | ||
本申請涉及一種狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法和設(shè)備,其中,該狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法包括:通過網(wǎng)線另一頭的水晶頭,將受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息接入到監(jiān)測設(shè)備中,該監(jiān)測設(shè)備顯示該受測設(shè)備EUT的電壓;其中,該監(jiān)測設(shè)備包括電壓采集單元、微控制單元MCU和顯示屏,該電壓采集單元采集該受測設(shè)備EUT的內(nèi)部電壓,該微控制單元MCU對采集到的電壓進(jìn)行解碼,并將解碼結(jié)果傳至該顯示屏進(jìn)行顯示;通過本申請,解決了相關(guān)技術(shù)中狹窄或封閉場景下難以使用常規(guī)電壓測量儀器監(jiān)測電壓的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及電壓監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法和設(shè)備。
背景技術(shù)
在相關(guān)技術(shù)中,常用電壓測量儀器(如萬用表或其他測量設(shè)備)均體積大,不便于對人無法進(jìn)入的特殊環(huán)境或封閉場景內(nèi)部設(shè)備監(jiān)測電壓,或定位相關(guān)問題。
針對相關(guān)技術(shù)中,狹窄或封閉場景下難以使用常規(guī)電壓測量儀器監(jiān)測電壓的問題,尚未提出有效的解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實(shí)施例提供了一種狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法和設(shè)備,以至少解決相關(guān)技術(shù)中,在web端進(jìn)行三維圖數(shù)據(jù)布局時(shí)布局效率較低的問題。
第一方面,本申請實(shí)施例提供了一種狹窄或封閉場景下的電壓監(jiān)測方法,預(yù)先將網(wǎng)線一頭的雙絞線焊接到受測設(shè)備EUT內(nèi)部,以建立受測設(shè)備EUT的電壓對外輸出通道;所述方法包括:
通過所述網(wǎng)線另一頭的水晶頭,將所述受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息接入到監(jiān)測設(shè)備中,所述監(jiān)測設(shè)備顯示所述受測設(shè)備EUT的電壓;
其中,所述監(jiān)測設(shè)備包括電壓采集單元、微控制單元MCU和顯示屏,所述電壓采集單元采集所述受測設(shè)備EUT的內(nèi)部電壓,所述微控制單元MCU對采集到的電壓進(jìn)行解碼,并將解碼結(jié)果傳至所述顯示屏進(jìn)行顯示。
在其中一些實(shí)施例中,在所述狹窄或封閉場景下設(shè)有多臺(tái)受測設(shè)備EUT的情況下,預(yù)先將網(wǎng)線一頭的多對雙絞線一一對應(yīng)焊接到多臺(tái)所述受測設(shè)備EUT內(nèi)部,以建立每臺(tái)受測設(shè)備EUT的電壓對外輸出通道;所述方法包括:
通過所述網(wǎng)線另一頭的水晶頭,將多路所述受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息接入到監(jiān)測設(shè)備中,所述監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)顯示各臺(tái)所述受測設(shè)備EUT的電壓。
在其中一些實(shí)施例中,所述監(jiān)測設(shè)備還包括網(wǎng)口,所述網(wǎng)口連接所述網(wǎng)線的水晶頭,并通過多對差分線,傳輸多路所述受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息至所述電壓采集單元。
在其中一些實(shí)施例中,所述電壓采集單元采用電壓采樣IC芯片,并通過I2C信號傳送數(shù)據(jù)至所述微控制單元MCU。
在其中一些實(shí)施例中,所述微控制單元MCU通過SPI傳送解碼結(jié)果至所述顯示屏。
第二方面,本申請實(shí)施例提供了一種應(yīng)用于狹窄或封閉場景的電壓監(jiān)測設(shè)備,所述監(jiān)測設(shè)備包括電壓采集單元、微控制單元MCU和顯示屏;
電壓監(jiān)測前,將網(wǎng)線一頭的雙絞線焊接到受測設(shè)備EUT內(nèi)部,以建立受測設(shè)備EUT的電壓對外輸出通道;電壓監(jiān)測時(shí),所述電壓監(jiān)測設(shè)備通過所述網(wǎng)線另一頭的水晶頭,接收所述受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息;
所述電壓采集單元采集所述受測設(shè)備EUT的內(nèi)部電壓,所述微控制單元MCU對采集到的電壓進(jìn)行解碼,并將解碼結(jié)果傳至所述顯示屏,所述顯示屏顯示所述受測設(shè)備EUT的電壓。
在其中一些實(shí)施例中,在所述狹窄或封閉場景下設(shè)有多臺(tái)受測設(shè)備EUT的情況下:
電壓監(jiān)測前,將網(wǎng)線一頭的多對雙絞線一一對應(yīng)焊接到多臺(tái)所述受測設(shè)備EUT內(nèi)部,以建立每臺(tái)受測設(shè)備EUT的電壓對外輸出通道;電壓監(jiān)測時(shí),所述電壓監(jiān)測設(shè)備通過所述網(wǎng)線另一頭的水晶頭,接收多路所述受測設(shè)備EUT的電壓輸出信息,并對應(yīng)顯示各臺(tái)所述受測設(shè)備EUT的電壓。
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