[發(fā)明專利]BMS測試方法、BMS測試裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211030760.8 | 申請日： | 2022-08-26 |
| 公開（公告）號： | CN115454023A | 公開（公告）日： | 2022-12-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 肖敏 | 申請（專利權(quán)）人： | 欣旺達電動汽車電池有限公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 廣州嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人： | 周翀 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市光*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | bms 測試 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
1.BMS測試方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取外部測試設(shè)備輸出的測試數(shù)據(jù)；
獲取對所述測試數(shù)據(jù)進行檢測得到的檢測數(shù)值；
若所述檢測數(shù)值滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道閉合，使所述測試數(shù)據(jù)能夠通過所述測試通道輸入至所述測試工裝，對放置在所述測試工裝上的BMS進行測試，得到所述BMS的測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的BMS測試方法，其特征在于，所述檢測數(shù)值包括電壓值、電流值、溫度值和功率值，所述若所述檢測數(shù)值滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，則控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道閉合，包括：
若所述電壓值處于預(yù)設(shè)的電壓范圍內(nèi)，且所述電流值處于預(yù)設(shè)的電流范圍內(nèi)，且所述溫度值處于預(yù)設(shè)的溫度范圍內(nèi)，且所述功率值處于預(yù)設(shè)的功率范圍內(nèi)，則控制所述測試通道閉合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的BMS測試方法，其特征在于，所述對放置在所述測試工裝上的BMS進行測試，得到所述BMS的測試結(jié)果，包括：
獲取對BMS進行測試得到的產(chǎn)品參數(shù)值；
若所述產(chǎn)品參數(shù)值滿足預(yù)設(shè)的產(chǎn)品測試條件，則確定所述BMS的測試結(jié)果為無缺陷；
若所述產(chǎn)品參數(shù)值不滿足預(yù)設(shè)的產(chǎn)品測試條件，則確定所述BMS的測試結(jié)果為有缺陷。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的BMS測試方法，其特征在于，在所述獲取對所述測試數(shù)據(jù)進行檢測得到的檢測數(shù)值之后，所述BMS測試方法還包括：
若所述檢測數(shù)值不滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，則生成第一提示信息和第二提示信息，所述第一提示信息用于提示檢查所述外部測試設(shè)備，所述第二提示信息用于提示檢查所述外部測試設(shè)備與測試工作之間的測試通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的BMS測試方法，其特征在于，在所述獲取對所述測試數(shù)據(jù)進行檢測得到的檢測數(shù)值之后，所述BMS測試方法還包括：
若所述檢測數(shù)值不滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，則控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道斷開，并控制所述外部測試設(shè)備關(guān)閉。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的BMS測試方法，其特征在于，所述若所述檢測數(shù)值滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道閉合，包括：
若所述檢測數(shù)值滿足所有測試通道的測試輸入條件，則控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的所有測試通道閉合。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的BMS測試方法，其特征在于，所述測試通道上設(shè)置有電子開關(guān)，所述控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道閉合，包括：
向所述電子開關(guān)發(fā)送閉合信號，使所述電子開關(guān)接收到所述閉合信號，閉合所述測試通道。
8.BMS測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
第一獲取模塊，用于獲取外部測試設(shè)備輸出的測試數(shù)據(jù)；
第二獲取模塊，用于獲取對所述測試數(shù)據(jù)進行檢測得到的檢測數(shù)值；
BMS測試模塊，用于若所述檢測數(shù)值滿足預(yù)設(shè)的測試輸入條件，控制所述外部測試設(shè)備與測試工裝之間的測試通道閉合，使所述測試數(shù)據(jù)能夠通過所述測試通道輸入至所述測試工裝，對放置在所述測試工裝上的BMS進行測試，得到所述BMS的測試結(jié)果。
9.電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括存儲器、處理器、存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的程序以及用于實現(xiàn)所述處理器和所述存儲器之間的連接通信的數(shù)據(jù)總線，所述程序被所述處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項所述的方法的步驟。
10.存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)為計算機可讀存儲介質(zhì)，用于計算機可讀存儲，其特征在于，所述存儲介質(zhì)存儲有一個或者多個程序，所述一個或者多個程序可被一個或者多個處理器執(zhí)行，以實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。
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