[發明專利]用于LED應用產品的光學測試系統

在審

• 申請號: 202211029639.3
• 申請日: 2022-08-25
• 公開（公告）號: CN115524098A
• 公開（公告）日: 2022-12-27
• 發明（設計）人: 顧林茂;韋北進;李郁;陳靜;葉云鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市奮達科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 莫月燕

本發明公開了一種用于LED應用產品的光學測試系統，包括：定位治具，用于對LED應用產品進行定位；LED光源模塊，用于給位于定位治具上的LED應用產品提供光源；光纖探頭，通過驅動機構驅動而可相對定位治具上下移動，以使光纖探頭靠近或遠離LED應用產品，光纖探頭用于采集透過LED應用產品的燈光；LED分析儀，和光纖探頭電連接，用于對光纖探頭采集得到的燈光進行分析處理并得到光學信息；測控裝置，和LED光源模塊以及LED分析儀電連接，用于控制LED光源模塊動作以及用于讀取LED分析儀采集得到的光學信息并對其進行分析處理以判定LED應用產品是否合格。其能夠實現對LED應用產品進行自動化光學測試，有效地提高了測試效率以及測試精度，避免人為漏判以及誤判。

技術領域

本發明涉及光學測試系統技術領域，尤其涉及一種用于LED應用產品的光學測試系統。

背景技術

LED也即發光二極管，是一種半導體固體發光器件，它是利用固體半導體芯片作為發光材料，當兩端加上正向電壓時，半導體中的載流子發生復合引起光子發射而產生光。

目前，為保證LED應用產品(比如帶燈光效果的音箱中的透光面蓋)的透光亮度及顏色等光學性能，在出廠前，往往需要對LED應用產品進行光學測試，然而，由于現有技術為人工目測方式，依靠人工對LED應用產品的光學性能進行判斷，對檢測人員的經驗有所要求，人工勞動強度大，容易出現視覺疲勞，導致漏檢和誤判，最終導致測試精度低以及測試效率低。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種用于LED應用產品的光學測試系統，其能夠提高測試精度以及測試效率。

本發明的目的采用如下技術方案實現：

用于LED應用產品的光學測試系統，包括：

定位治具，用于對LED應用產品進行定位；

LED光源模塊，用于給位于所述定位治具上的LED應用產品提供光源；

光纖探頭，通過驅動機構驅動而可相對所述定位治具上下移動，以使所述光纖探頭靠近或遠離LED應用產品，所述光纖探頭用于采集透過LED應用產品的燈光；

LED分析儀，和所述光纖探頭電連接，用于對所述光纖探頭采集得到的燈光進行分析處理并得到光學信息；

測控裝置，和所述LED光源模塊以及所述LED分析儀電連接，用于控制所述LED光源模塊動作以及用于讀取所述LED分析儀采集得到的光學信息并對其進行分析處理以判定LED應用產品是否合格。

進一步地，所述定位治具上設有用于承載所述LED光源模塊的承載部以及位于所述承載部上方并和LED應用產品適配的定位槽。

進一步地，所述定位治具上還設有繞所述定位槽的外緣相隔設置的第一定位標識和第二定位標識。

進一步地，所述LED光源模塊包括和所述測控裝置電連接的電路板和設于所述電路板上的LED光源，所述電路板上還設有環繞所述LED光源設置的導光組件。

進一步地，所述導光組件包括擋光環、散光板和聚光板，所述擋光環設于所述電路板上并周向環設于所述LED光源的外緣，所述散光板設于所述擋光環內并位于所述LED光源上方，所述聚光板位于所述散光板上方并覆蓋所述散光板，所述聚光板上設有上下貫通的聚光通道。

進一步地，所述聚光板上還設有和所述聚光通道的下端相連通的容置槽，所述容置槽用于容置所述散光板。

進一步地，還包括用于承載所述定位治具以及所述驅動機構的機體。

進一步地，所述驅動機構的活動端上設有用于承載所述光纖探頭的載臺，所述載臺上設有周向環繞所述光纖探頭設置的多個壓緊件，所述壓緊件用于與LED應用產品的頂面相抵。