[發明專利]一種樣塊磁性能檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202211025133.5
• 申請日: 2022-08-25
• 公開（公告）號: CN115308654A
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 夏爭光;周景袍;閆俊;覃駿;占銘
• 申請（專利權）人: 湖南航天磁電有限責任公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 長沙楚為知識產權代理事務所(普通合伙) 43217
• 代理人: 陳雪凡

1.一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，包括兩個相對設置的測試極頭，所述測試極頭上分別對應設置有定位塊；

兩個所述定位塊內均設置有測量線圈，兩個所述測量線圈依次串聯連接；兩個所述定位塊之間對應設置有定位結構，以使兩個所述測量線圈同軸設置；

兩個所述定位塊之間還具有間隙，以使兩個所述測量線圈之間的間隔構成樣塊檢測放置空間。

2.根據權利要求1所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，兩個所述定位塊上均設置有容置孔和容置槽，且所容置槽與所述容置孔連通；所述容置孔用于設置所述測量線圈，所述容置槽用于供所述測量線圈上的導線穿過。

3.根據權利要求2所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述容置孔沿所述定位塊厚度方向設置，并位于所述定位塊的中部；所述容置槽沿所述定位塊長度方向上下交錯設置，并均與所述容置孔連通。

4.根據權利要求2或3所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述測量線圈包括鐵芯以及繞設在所述鐵芯上的導線；所述鐵芯通過固定裝置卡設在所述容置孔內。

5.根據權利要求2或3所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述定位塊為一體式或對開式結構。

6.根據權利要求5所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，當所述定位塊為一體式時，所述容置槽設置在兩側面上；

當所述定位塊為對開式結構時，所述容置槽設置在對開的兩個相對面上。

7.根據權利要求1-3任意一項所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述定位塊的材質為相對磁化率為1的材料。

8.根據權利要求1-3任意一項所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述定位結構包括設置在任一所述定位塊上的定位柱，以及設置在另外一個所述定位塊上的定位孔，且所述定位柱與所述定位孔匹配設置。

9.根據權利要求4所述的一種樣塊磁性能檢測裝置，其特征在于，所述固定裝置為設置在所述定位塊上的緊定螺釘，所述緊定螺釘頂觸所述鐵芯；或者為兩個定位塊的兩個相對面上均設置有沉頭孔或者沉頭槽，且所述沉頭孔或者沉頭槽內設置有擋板，所述擋板頂觸所述鐵芯。

10.一種如權利要求1-9任意一項所述的樣塊磁性能檢測裝置的檢測方法，其特征在于，其步驟包括：

S1：首先將兩個測量線圈分別對應安裝在對應的定位塊內；

S2：分別將兩個所述定位塊安裝在對應的測試極頭上，然后將其中一個測量線圈的導線的一端與另一個測量線圈的導線的一端連接以使兩個測量線圈串聯；

S3：分別將兩個所述測量線圈的導線的另一端與儀器連接；

S4：將待檢測的樣塊依次放置在樣塊檢測放置空間上，并使所述測量線圈能夠完全覆蓋待檢測樣塊。