[發(fā)明專利]一種永磁體的磁場取向檢測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211025130.1 | 申請日: | 2022-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN115308649A | 公開(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馮華;張鐵軍;文甜潔;周昊;彭博 | 申請(專利權(quán))人: | 湖南航天磁電有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01R33/02 | 分類號: | G01R33/02 |
| 代理公司: | 長沙楚為知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 43217 | 代理人: | 陳雪凡 |
| 地址: | 410299 湖南省長沙市*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 永磁體 磁場 取向 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,包括:通過識別分析永磁體磁場取向垂直方向所在面的磁場零線形狀,來確定所述永磁體的磁場取向。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,所述磁場零線為所述永磁體的N極和S極的分界線,且在所述分界線上,其磁場強度為零。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,若所述磁場零線形狀呈平直狀,并與測試面平行,則判斷所述永磁體的磁場取向合格。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,若所述磁場零線形狀呈上凸或下凸或傾斜狀,則判斷所述永磁體的磁場取向不合格。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,識別所述永磁體磁場零線的步驟包括:
將待測試的永磁鐵放置在兩個磁極顯影片之間,并使測試面與所述磁極顯影片對應(yīng)設(shè)置,所述磁極顯影片將測試面的磁場零線顯影出來;
然后再通過圖像采集系統(tǒng)采集所述磁極顯影片顯影的圖像,并將采集到的所述圖像傳輸給圖像處理系統(tǒng),所述圖像處理系統(tǒng)對所述圖像進行分析處理,得到所述磁場零線形狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的永磁體的磁場取向檢測方法,其特征在于,識別所述永磁體磁場零線的步驟包括:
通過磁場強度傳感器對測試面進行二維掃描,檢測出每個磁場強度為零的點并記錄其坐標位置;
然后再對其坐標位置數(shù)據(jù)進行處理分析,同時確定磁場零線形狀、位置。
7.一種如權(quán)利要求1-5任意一項所述的永磁體的磁場取向檢測方法的檢測裝置,其特征在于,包括永磁體輸送裝置和設(shè)置在所述輸送裝置上的磁場零線檢測裝置;
所述磁場零線檢測裝置包括圖像采集系統(tǒng)、圖像處理器以及相對設(shè)置的兩個磁極顯影片;
兩個所述磁極顯影片間隔平行設(shè)置,并具有間隙,所述間隙以供放置所述永磁體,并使所述永磁體的兩個檢測面分別正對對應(yīng)的磁極顯影片;
所述磁極顯影片用于顯示所述永磁體測試面的磁場零線輪廓圖像,所述圖像采集系統(tǒng)用于采集所述磁極顯影片顯示的所述輪廓圖像,所述圖像處理器對所述輪廓圖像進行識別加工后并得到所述永磁體的磁場取向。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測裝置,其特征在于,所述輸送裝置包括輸送帶和設(shè)置在所述輸送帶上的限位部;
所述限位部包括限位擋板和擋板調(diào)節(jié)機構(gòu),所述限位擋板設(shè)置在所述輸送帶的兩側(cè),所述調(diào)節(jié)機構(gòu)與所述限位擋板可調(diào)節(jié)連接,用于調(diào)節(jié)兩側(cè)所述限位擋板之間的距離。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測裝置,其特征在于,所述磁極顯影片設(shè)置在所述限位擋板上。
10.一種如權(quán)利要求1-4或6任意一項所述的永磁體的磁場取向檢測方法的檢測裝置,其特征在于,包括永磁體輸送裝置和設(shè)置在所述輸送裝置上的磁場零線檢測裝置;
所述磁場零線檢測裝置包括機械臂、設(shè)置所述機械臂執(zhí)行端的磁場強度傳感器以及處理器,所述磁場強度傳感器用于對測試面進行二維掃描,檢測出每個磁場強度為零的點;
所述磁場強度傳感器與所述處理器通訊連接,所述處理器用于記錄磁場強度為零的點的坐標位置,并分析出磁場零線形狀、位置以及所述永磁體的磁場取向。
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