[發明專利]DOE狀態檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202211021383.1
• 申請日: 2022-08-24
• 公開（公告）號: CN115546477A
• 公開（公告）日: 2022-12-30
• 發明（設計）人: 化雪誠;劉祺昌;李東洋;王海彬;戶磊
• 申請（專利權）人: 合肥的盧深視科技有限公司
• 主分類號: G06V10/26
• 分類號: G06V10/26;G06V10/74
• 代理公司: 北京智晨知識產權代理有限公司 11584
• 代理人: 張婧

本申請實施例涉及機器視覺技術領域，公開了一種DOE狀態檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質，該方法包括：根據預設的GT散斑圖中的各級衍射區域對測試散斑圖進行衍射級次分割，確定測試散斑圖中的各級衍射區域，測試散斑圖是基于目標投射模組得到的；分別根據測試散斑圖中的各級衍射區域的亮度，確定測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率；根據測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率，確定目標投射模組的DOE的狀態，從而提升了DOE狀態檢測的效率，降低了投射模組的生產成本。

技術領域

本申請實施例涉及機器視覺技術領域，特別涉及一種DOE狀態檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質。

背景技術

深度感知是機器視覺技術領域研究和應用開發的熱點方向，不同于只能獲取目標對象的平面信息的2D成像裝置，3D成像裝置還可以額外獲取目標對象的深度信息，構建一個立體的3D模型，因此3D成像裝置被廣泛地應用于工業測量、安防監控、人臉支付、生物識別等應用場景，基于結構光技術的3D成像裝置憑借其高精度的特性更是成為其中的佼佼者，基于結構光技術的3D成像裝置的核心部分是結構光投射模組，而結構光投射模組的核心則是光源、準直鏡和衍射光學元件(Diffractive Optical Element，簡稱：DOE)，其中，DOE用于接收經準直鏡準直后的光束，將該光束進行分束、重疊處理，以獲得分布均勻且不相關的圖案光束，DOE直接決定著結構光投射模組所投射的光束的質量。

然而，結構光投射模組在生產、組裝的過程中，難免會存在磕碰、擠壓、跌落等意外情況，這些意外情況和組裝時的應力都可能會導致DOE脫落或破裂，這樣的結構光投射模組在后續使用時可能會對人眼造成傷害，但業內常用的無論是在DOE上設置氧化銦錫(IndiumTin Oxide，簡稱：ITO)走線來監控DOE是否脫落或破裂的技術方案，還是在結構光投射模組中設置導電油墨來監控DOE是否脫落或破裂的技術方案，都會增加整個結構光投射模組的生產成本，并且檢測的穩定性差，普適性較低，無法滿足生產線對結構光投射模組的快速、高質量生產需求。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種DOE狀態檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質，能夠高效地實現DOE狀態檢測，無需增加額外的硬件，降低了結構光投射模組的生產成本，保證生產線對結構光投射模組進行快速的、高質量的生產。

為解決上述技術問題，本申請的實施例提供了一種DOE狀態檢測方法，包括以下步驟：根據預設的GT散斑圖中的各級衍射區域對測試散斑圖進行衍射級次分割，確定所述測試散斑圖中的各級衍射區域；其中，所述測試散斑圖是基于目標投射模組得到的；分別根據所述測試散斑圖中的各級衍射區域的亮度，確定所述測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率；根據所述測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率，確定所述目標投射模組的衍射光學元件DOE的狀態。

本申請的實施例還提供了一種DOE狀態檢測裝置，包括：獲取模塊，用于基于目標投射模組得到測試散斑圖；衍射級次分割模塊，用于根據預設的GT散斑圖中的各級衍射區域對所述測試散斑圖進行衍射級次分割，確定所述測試散斑圖中的各級衍射區域；衍射效率計算模塊，用于分別根據所述測試散斑圖中的各級衍射區域的亮度，確定所述測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率；執行模塊，用于根據所述測試散斑圖中的各級衍射區域的衍射效率，確定所述目標投射模組的衍射光學元件DOE的狀態。

本申請的實施例還提供了一種電子設備，包括：至少一個處理器；以及，與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行上述的DOE狀態檢測方法。

本申請的實施例還提供了一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現上述的DOE狀態檢測方法。