[發明專利]調試控制方法、調試控制系統、設備和可讀存儲介質在審
| 申請號： | 202211012360.4 | 申請日： | 2022-08-23 |
| 公開（公告）號： | CN115470053A | 公開（公告）日： | 2022-12-13 |
| 發明（設計）人： | 林寅;吳大畏;李曉強 | 申請（專利權）人： | 得一微電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22;G06F11/14;G06F12/02;G06F9/22 |
| 代理公司： | 深圳市恒程創新知識產權代理有限公司 44542 | 代理人： | 馮俊賢 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市南山區粵海街道高*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 調試 控制 方法 控制系統 設備 可讀 存儲 介質 | ||
本申請公開了一種調試控制方法、調試控制系統、調試控制設備和計算機可讀存儲介質，應用于調試控制系統，所述調試控制系統包括虛擬閃存顆粒、虛擬微控制單元，該方法包括：在虛擬微控制單元接收到測試激勵時，基于所述測試激勵控制所述虛擬閃存顆粒執行測試動作；獲取所述虛擬微控制單元和所述虛擬閃存顆粒執行所述測試動作過程中的目標參數的參數值；在所述參數值處于預設的預警范圍時，執行數據高頻備份動作和/或運行單步調模式。解決了相關技術中在存儲控制程序出錯時定位參數出錯位置的方法繁瑣，時間成本高的技術問題，實現了快速定位出錯參數對應的程序命令行位置。
技術領域
本申請涉及快速存儲技術領域，尤其涉及一種調試控制方法、調試控制系統、調試控制設備和計算機可讀存儲介質。
背景技術
快速存儲器憑借著優異的性能，被應用在越來越多的設備中，一般的快速存儲器由存儲顆粒以及控制單元組成，在控制單元接收到讀寫指令后，控制存儲顆粒完成對應的操作。
存儲顆粒執行讀寫操作的過程中，存儲控制程序的參數出現異常往往會導致讀寫操作出錯。此時需要尋找到參數出錯的位置，進行修正。在相關技術中，往往是等到存儲控制程序運行出錯，通過快照恢復或者重新跑一遍的方式，來復現出錯現場，從而定位到參數出錯的位置。
上述相關技術存在的技術問題是：定位參數出錯位置的方法繁瑣，時間成本高。
發明內容
本申請實施例通過提供一種調試控制方法、調試控制系統、調試控制設備和計算機可讀存儲介質，解決了相關技術中在存儲控制程序出錯時定位參數出錯位置的方法繁瑣，時間成本高的技術問題，實現了快速定位出錯參數對應的程序命令行位置。
本申請實施例提供了一種調試控制方法，應用于調試控制系統，所述調試控制系統包括虛擬閃存顆粒、虛擬微控制單元，所述調試控制方法包括：
在虛擬微控制單元接收到測試激勵時，基于所述測試激勵控制所述虛擬閃存顆粒執行測試動作；
獲取所述虛擬微控制單元和所述虛擬閃存顆粒執行所述測試動作過程中的目標參數的參數值；
在所述參數值處于預設的預警范圍時，執行數據高頻備份動作和/或運行單步調模式。
可選地，所述執行數據高頻備份動作和/或運行單步調模式的步驟包括：
確定備份頻率以及當前時刻；
根據所述備份頻率以及所述當前時刻確定備份時刻；
根據所述備份時刻存儲所述目標參數的參數值。
可選地，所述執行數據高頻備份動作和/或運行單步調模式的步驟包括：
控制所述虛擬閃存顆粒暫停執行所述測試動作，確定所述測試激勵中所述虛擬閃存顆粒當前執行的目標命令行；
確定待執行命令行，其中，所述待執行命令行為所述目標命令行的下一條命令行；
執行所述待執行命令行，判斷所述參數值是否處于所述預警范圍；
若所述參數值處于所述預警范圍，執行所述控制所述虛擬閃存顆粒暫停執行所述測試動作，確定所述測試激勵中所述虛擬閃存顆粒當前執行的目標命令行的步驟。
可選地，所述執行所述待執行命令行，判斷所述參數值是否處于所述預警范圍之后，還包括：
若所述參數值處于異常范圍，控制所述虛擬閃存顆粒停止執行所述測試動作；
若所述參數值處于正常范圍，控制所述虛擬閃存顆粒繼續執行所述測試動作。
可選地，所述執行所述待執行命令行，判斷所述參數值是否處于所述預警范圍之后，還包括：
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于得一微電子股份有限公司，未經得一微電子股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211012360.4/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
