[發(fā)明專(zhuān)利]一種半導(dǎo)體器件及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211009054.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-08-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115332313A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何政;吳瓊;唐怡 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/06 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/06;H01L29/08;H01L29/10;H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 上海晨皓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成麗杰 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,其特征在于,包括:
有源柱,所述有源柱包括溝道區(qū)以及分布于所述溝道區(qū)兩側(cè)的源漏區(qū);
柵極結(jié)構(gòu),所述柵極結(jié)構(gòu)至少?lài)@部分所述溝道區(qū),所述溝道區(qū)包括外圍部和中心部,所述外圍部位于所述柵極結(jié)構(gòu)與所述中心部之間,所述源漏區(qū)和所述外圍部均具有第一摻雜類(lèi)型,所述中心部具有第二摻雜類(lèi)型,所述第一摻雜類(lèi)型為N型或者P型中的一者,所述第二摻雜類(lèi)型為N型或者P型中的另一者。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述柵極結(jié)構(gòu)為全環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu);所述外圍部全環(huán)繞所述中心部,所述柵極結(jié)構(gòu)全環(huán)繞所述外圍部。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述柵極結(jié)構(gòu)為局部環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu),所述柵極結(jié)構(gòu)環(huán)繞所述外圍部的部分表面。
4.如權(quán)利要求2或3所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述有源柱的形狀包括圓柱或者長(zhǎng)方體柱。
5.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述柵極結(jié)構(gòu)為半環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu);未被所述柵極結(jié)構(gòu)覆蓋的所述溝道區(qū)露出所述中心部的表面。
6.如權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述有源柱為長(zhǎng)方體柱,所述柵極結(jié)構(gòu)環(huán)繞所述有源柱的部分頂面以及相對(duì)的部分側(cè)面,所述有源柱的底面露出所述中心部的表面。
7.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述柵極結(jié)構(gòu)包括:相對(duì)設(shè)置且相分立的第一柵極結(jié)構(gòu)以及第二柵極結(jié)構(gòu);所述外圍部包括:
第一外圍部,所述第一外圍部位于所述第一柵極結(jié)構(gòu)和所述中心部之間;
第二外圍部,所述第二外圍部位于所述第二柵極結(jié)構(gòu)和所述中心部之間。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述外圍部的厚度與所述溝道區(qū)的厚度比值在0.01-0.95范圍內(nèi)。
9.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述中心部的摻雜濃度為1×1015atom/cm3~1×1019atom/cm3。
10.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述外圍部的摻雜濃度小于或等于所述源漏區(qū)的摻雜濃度。
11.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述源漏區(qū)的摻雜濃度為1×1018atom/cm3~1×1021atom/cm3;所述外圍部的摻雜濃度為1×1016atom/cm3~1×1020atom/cm3。
12.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,在朝向所述中心部的方向上,所述外圍部的摻雜濃度逐漸降低。
13.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述第一摻雜類(lèi)型為N型,所述柵極結(jié)構(gòu)導(dǎo)電層的功函數(shù)大于4.6eV;或者,所述第一摻雜類(lèi)型為P型,所述柵極結(jié)構(gòu)導(dǎo)電層的功函數(shù)小于4.6eV。
14.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:
提供有源柱,在所述有源柱中形成溝道區(qū)以及分布于所述溝道區(qū)兩側(cè)的源漏區(qū);
形成柵極結(jié)構(gòu),所述柵極結(jié)構(gòu)至少?lài)@部分所述溝道區(qū),所述溝道區(qū)包括外圍部和中心部,所述外圍部位于所述柵極結(jié)構(gòu)與所述中心部之間,所述源漏區(qū)和所述外圍部均具有第一摻雜類(lèi)型,所述中心部具有第二摻雜類(lèi)型,所述第一摻雜類(lèi)型為N型或者P型中的一者,所述第二摻雜類(lèi)型為N型或者P型中的另一者。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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