[發明專利]一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構

在審

• 申請號: 202210999827.2
• 申請日: 2022-08-19
• 公開（公告）號: CN115980382A
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發明（設計）人: 全偉;高航;袁琳琳
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01P3/36
• 分類號: G01P3/36
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129
• 代理人: 吳小燦

1.一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，包括居中設置有原子氣室承載裝置的裝置主結構，所述原子氣室承載裝置的上側和下側分布著抽運光路搭配結構，所述原子氣室承載裝置的右側分布著檢測光路選擇結構，以便直接更換不同的抽運、檢測光路，實現各梯度檢測及梯度抑制方案的搭配組合，從而驗證最佳組合方案以提升實驗效率。

2.根據權利要求1所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述抽運光路搭配結構包括位于所述原子氣室承載裝置上側的第一抽運光路底板，和位于所述原子氣室承載裝置下側的第二抽運光路底板或第三抽運光路底板，第一抽運光路底板安裝在所述裝置主結構的上表面，所述第二抽運光路底板和所述第三抽運光路底板均具有與所述裝置主結構上表面相結合的統一安裝接口，以實現第一抽運光路與第二抽運光路，或者第一抽運光路與第三抽運光路的搭配使用，所述檢測光路選擇結構包括位于所述原子氣室承載裝置右側的第一檢測光路底板或第二檢測光路底板，所述第一檢測光路底板和所述第二檢測光路底板均具有與所述裝置主結構上表面相結合的相同安裝接口，以實現對第一檢測光路或第二檢測光路的選擇使用，檢測光路用于檢測原子系綜的極化梯度，抽運光路用于抑制原子系綜的極化梯度，所述原子氣室承載裝置上的原子氣室用于承載所述原子系綜。

3.根據權利要求1所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述裝置主結構位于裝置外殼底座上，裝置外殼的裝置外殼蓋通過外殼四周的沉頭螺釘固定在外殼連接板上，所述裝置外殼蓋與所述外殼連接板之間設置有密封橡膠圈。

4.根據權利要求2所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述第一抽運光路底板上包括與第一抽運光路相適配的依次串聯的光纖準直器安裝板、格蘭泰勒棱鏡安裝架、第一偏振分光棱鏡安裝架、第一透鏡安裝架、第二透鏡安裝架、第一漫射體安裝架、第二漫射體安裝架、第一反射鏡、第一光隔安裝架和第一波片安裝架，所述第一光隔安裝架的側邊設置有第一光電探測器支架。

5.根據權利要求2所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述第二抽運光路底板上包括與第二抽運光路相適配的第二反射鏡，在第一抽運光路和第二抽運光路的搭配使用中，所述第二反射鏡使第一抽運光沿Z軸正向經過原子系綜后發生正反射作為第二抽運光沿Z軸負向再次通過原子系綜。

6.根據權利要求2所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述第三抽運光路底板上包括與第三抽運光路相適配的依次串聯的第三反射鏡、第三透鏡安裝架、第四透鏡安裝架、第三漫射體安裝架、第四漫射體安裝架、第四反射鏡、第二光隔安裝架和第二波片安裝架，在第一抽運光路和第三抽運光路的搭配使用中，通過第一偏振分光棱鏡安裝架與第三反射鏡配合形成沿Z軸正向入射原子系綜的第一抽運光和沿Z軸負向入射原子系綜的第三抽運光。

7.根據權利要求2所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述第一檢測光路底板上包括與第一檢測光相適配的依次串聯的第三波片安裝架、沃拉斯頓棱鏡和第二光電探測器支架，第二光電探測器用于承接由X軸正向入射原子氣室的檢測光，采用平衡差分檢測方法實現原子系綜極化梯度檢測功能。

8.根據權利要求2所述的基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構，其特征在于，所述第二檢測光路底板上包括與第二檢測光相適配的依次串聯的第四波片安裝架和第二偏振分光棱鏡，所述第二偏振分光棱鏡分別連接第三陣列光電探測器支架和第四陣列光電探測器支架，第三陣列光電探測器和第四陣列光電探測器用于承接由X軸正向入射原子氣室的檢測光，采用陣列探測器檢測方法實現原子系綜極化梯度檢測功能。