[發明專利]考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法

在審

• 申請號: 202210996677.X
• 申請日: 2022-08-19
• 公開（公告）號: CN115387782A
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 葉信宇;秦瑞寶;李雄炎;魏丹;周改英;宋蓉燕;黃濤;汪鵬;曹景記;李銘宇
• 申請（專利權）人: 中海石油（中國）有限公司;中海石油（中國）有限公司北京研究中心
• 主分類號: E21B47/002
• 分類號: E21B47/002;E21B49/00
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 朱燕鷗

1.一種考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，包括步驟：

對電成像測井資料進行預處理，得到電成像動態圖像和電成像靜態圖像；

對電成像測井資料進行刻度處理得到刻度處理后的電成像測井數據，使所述電成像測井數據與所述電成像動態圖像和電成像靜態圖像顏色接近；

根據所述電成像測井數據得到潛山儲層的孔隙度值；

根據所述孔隙度值得到與電成像測井資料對應的孔隙度譜和孔隙度譜截止值；

根據所述孔隙度譜和孔隙度譜截止值得到次生孔隙度，并根據所述次生孔隙度得到次生孔隙系數；

確定次生孔隙系數區間；

基于所述次生孔隙系數區間，建立次生孔隙度與核磁計算滲透率的回歸關系；

基于所述回歸關系確定滲透率。

2.根據權利要求1所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，還包括確定潛山儲層的巖性和儲集空間類型的大致分類，并根據所述儲層的巖性和儲集空間的大致分類得到所述核磁計算滲透率。

3.根據權利要求2所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，所述確定潛山儲層的巖性包括：基于常規與電成像測井資料、地質資料、巖心資料和分析化學資料，確定潛山儲層的巖性。

4.根據權利要求2所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，所述確定儲集空間類型的大致分類包括：結合所述潛山儲層的巖性、所述電成像動態圖像和電成像靜態圖像、巖心照片和巖心薄片，對潛山儲層的儲集空間進行大致分類。

5.根據權利要求1所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，對電成像測井資料進行刻度處理包括：

確定潛山儲層的中電阻率和極板數據，根據所述中電阻率和極板數據得到電成像電阻率等值線圖和刻度曲線與中電阻率曲線校正圖；

將所述電成像電阻率等值線圖中的折線盡可能多的通過電阻率等值線圖中電阻率密度大的區域以使刻度曲線與原曲線電阻率平均值盡可能重合，并得到所述電成像測井數據。

6.根據權利要求1所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，根據所述電成像測井數據得到潛山儲層的孔隙度值包括：結合刻度處理后的電成像測井數據、淺側向電阻率和多礦物模型解釋得到潛山儲層孔隙度值。

7.根據權利要求6所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，通過阿爾奇公示計算，將所述孔隙度值轉換為電成像測井資料對應的孔隙度譜。

8.根據權利要求1所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，所述次生孔隙系數的計算如公式(1)所示：

其中，VISO、PHIT_AVE分別為電成像計算得到的次生孔隙度與平均孔隙度，V_P指的是次生孔隙系數。

9.根據權利要求1所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，所述確定次生孔隙系數區間包括使得區間內的次生孔隙度與核磁計算滲透率的回歸關系系數達到0.8以上，其中當回歸系數等于0.8時，所述次生孔隙度系數為次生孔隙系數區間的下限。

10.根據權利要求9所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，在所述孔隙系數區間內，建立次生孔隙度與核磁計算滲透率的回歸關系，如公示(2)所示：

log₁₀PERM＝A*log₁₀VISO+B (2)

式(2)中，A、B均為常數，PERM為核磁計算滲透率；

根據所述公示(2)進行變換得到公示(3)：

11.根據權利要求9所述的考慮次生孔隙系數的潛山儲層滲透率評價方法，其特征在于，在除所述孔隙系數區間的剩余區間內，建立次生孔隙度和巖心孔滲數據進行回歸，得到相應滲透率。