[發(fā)明專利]非合作目標(biāo)機(jī)動(dòng)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210991702.5
• 申請(qǐng)日: 2022-08-16
• 公開（公告）號(hào): CN115420290A
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃普;王兆魁
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類號(hào): G01C21/20
• 分類號(hào): G01C21/20;G01C21/24;G06F16/23;G06F16/2458
• 代理公司: 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258
• 代理人: 趙秀芹

1.一種非合作目標(biāo)機(jī)動(dòng)檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

確定待檢測(cè)目標(biāo)在第一時(shí)刻的觀測(cè)預(yù)測(cè)值、實(shí)際觀測(cè)值以及觀測(cè)方差和觀測(cè)協(xié)方差，其中，所述觀測(cè)預(yù)測(cè)值包括多個(gè)測(cè)量信息的預(yù)測(cè)值，所述實(shí)際觀測(cè)值包括多個(gè)所述測(cè)量信息的實(shí)際值；

根據(jù)所述觀測(cè)預(yù)測(cè)值和實(shí)際觀測(cè)值，確定第一測(cè)量殘差序列，其中，測(cè)量殘差序列中包括多個(gè)所述測(cè)量信息的殘差；

基于所述第一時(shí)刻前統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新；

利用更新后的多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)對(duì)所述第一測(cè)量殘差序列進(jìn)行加權(quán)處理，得到第二測(cè)量殘差序列；

根據(jù)所述第二測(cè)量殘差序列、觀測(cè)方差和觀測(cè)協(xié)方差確定機(jī)動(dòng)檢測(cè)衰減因子；

根據(jù)所述機(jī)動(dòng)檢測(cè)衰減因子確定所述待檢測(cè)目標(biāo)是否發(fā)生機(jī)動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一時(shí)刻前統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新，包括：

根據(jù)第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新，其中，所述第一時(shí)間區(qū)間為所述第一時(shí)刻前最近一次對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新的時(shí)刻與所述第一時(shí)刻組成的區(qū)間。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新，包括：

針對(duì)每個(gè)所述測(cè)量信息，基于所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列，利用預(yù)設(shè)的方差統(tǒng)計(jì)函數(shù)計(jì)算所述測(cè)量信息對(duì)應(yīng)的測(cè)量方差統(tǒng)計(jì)值；

確定多個(gè)所述測(cè)量信息對(duì)應(yīng)的測(cè)量方差統(tǒng)計(jì)值的均方根；

針對(duì)每個(gè)所述測(cè)量信息，將所述均方根與所述測(cè)量信息對(duì)應(yīng)的測(cè)量方差統(tǒng)計(jì)值的比值，作為所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方差統(tǒng)計(jì)函數(shù)包括：

其中，σ_i表示測(cè)量信息i的測(cè)量方差統(tǒng)計(jì)值，i為ρ、A、E或其中，ρ、A、E和分別表示不同的測(cè)量信息，n表示所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，表示所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列中測(cè)量信息i對(duì)應(yīng)的測(cè)量殘差，為方差控制函數(shù)，σ表示多個(gè)測(cè)量信息對(duì)應(yīng)的測(cè)量方差統(tǒng)計(jì)值的均方根。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一時(shí)刻前統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新之前，所述方法還包括：

判斷是否滿足預(yù)設(shè)的測(cè)量信息權(quán)系數(shù)更新條件；

所述基于所述第一時(shí)刻前統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新，包括：

在確定滿足所述測(cè)量信息權(quán)系數(shù)更新條件的情況下，基于所述第一時(shí)刻前統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列對(duì)多個(gè)所述測(cè)量信息的權(quán)系數(shù)進(jìn)行更新。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述判斷是否滿足預(yù)設(shè)的測(cè)量信息權(quán)系數(shù)更新條件，包括：

確定第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度是否達(dá)到預(yù)設(shè)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度；

若確定所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度達(dá)到所述統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，則確定滿足預(yù)設(shè)的測(cè)量信息權(quán)系數(shù)更新條件；

若確定所述第一時(shí)間區(qū)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)的測(cè)量殘差序列的數(shù)據(jù)長(zhǎng)度未達(dá)到所述統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，則確定不滿足預(yù)設(shè)的測(cè)量信息權(quán)系數(shù)更新條件。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定待檢測(cè)目標(biāo)在第一時(shí)刻的觀測(cè)預(yù)測(cè)值，包括：

獲取所述待檢測(cè)目標(biāo)在第二時(shí)刻的狀態(tài)值和狀態(tài)方差矩陣，所述第二時(shí)刻為第一時(shí)刻的前一時(shí)刻；

根據(jù)所述狀態(tài)值和所述狀態(tài)協(xié)方差，確定多個(gè)采樣點(diǎn)的狀態(tài)值和權(quán)系數(shù)；

針對(duì)每個(gè)所述采樣點(diǎn)，將所述采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的狀態(tài)值輸入預(yù)設(shè)的動(dòng)力學(xué)模型，得到所述采樣點(diǎn)在第一時(shí)刻的狀態(tài)預(yù)測(cè)值；

將所述采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一時(shí)刻的狀態(tài)預(yù)測(cè)值輸入預(yù)設(shè)的觀測(cè)模型，得到所述采樣點(diǎn)在第一時(shí)刻的觀測(cè)預(yù)測(cè)值；

根據(jù)多個(gè)所述采樣點(diǎn)的權(quán)系數(shù)對(duì)多個(gè)所述采樣點(diǎn)在第一時(shí)刻的觀測(cè)預(yù)測(cè)值進(jìn)行加權(quán)計(jì)算，得到所述待檢測(cè)目標(biāo)在第一時(shí)刻的觀測(cè)預(yù)測(cè)預(yù)測(cè)值。