[發明專利]一種DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法

在審

• 申請號: 202210987404.9
• 申請日: 2022-08-17
• 公開（公告）號: CN115345953A
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 蔡昕;鄧獻敏;聶生東;李建奇;侯學文;姜小平
• 申請（專利權）人: 上海康達卡勒幅醫療科技有限公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00;G06T5/00
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 翁惠瑜

1.一種DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取磁共振原始數據，對所述磁共振原始數據進行分割，提取用于參考掃描校正的參考掃描數據，將剩余數據填充相應的k空間位置，形成處于(Kx,Ky)域的k空間數據；

將處于(Kx,Ky)域的k空間數據和參考掃描數據均變換為(x,Ky)混合域數據；

對所述(x,Ky)混合域數據執行參考掃描校正，得到第一校正數據；

將處于(x,Ky)混合域的第一校正數據變換為(Kx,Ky)域數據；

對所述(Kx,Ky)域數據執行無參考掃描校正法校正，得到第二校正數據；

對所述第二校正數據對零填充處理，獲得第三校正數據，對所述第三校正數據進行二維逆傅里葉變換得到無偽影圖像。

2.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，對所述磁共振原始數據進行分割具體為：

根據序列梯度信息、采集頻率及系統延遲信息，舍棄噪聲點和讀梯度爬坡處采集的信號數據，只取循環采集中處于讀梯度平穩段數據點，并剔除無相位編碼數據，使數據矩陣尺寸與掃描時設置的矩陣尺寸一致。

3.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，所述參考掃描數據為掃描采集的數據矩陣中Ky＝0的數據。

4.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，填充相應的k空間位置時，將k空間數據中的負度梯度數據左右顛倒使得k空間數據度越方向都一致。

5.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，分別將所述k空間數據和參考掃描數據沿Kx方向作反傅里葉變換將每個不同相位編碼的信號變換到(x,Ky)混合域。

6.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，所述參考掃描校正具體為：

(x,Ky)混合域的所述參考掃描數據包含三行數據，將第1行和第3行對應位置取平均得到插值行，將所述插值行乘以(x,Ky)混合域的所述參考掃描數據第2行的共軛，得到復數行數據；

使用一階直線擬合方法基于所述復數行數據擬合獲得相位差信息行數據；

將處于(x,Ky)混合域的圖像數據中的正度越行剔除所述相位差信息行數據，獲得所述第一校正數據。

7.根據權利要求6所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，所述一階直線擬合方法為最小二乘法。

8.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，對處于(x,Ky)混合域的所述第一校正數據的x方向使用傅里葉變換，獲得(Kx,Ky)域數據。

9.根據權利要求1所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，所述無參考掃描校正法為改進信息熵校正法，校正過程包括：

生成信息熵校正法的常參數b和一階線性參數k的參數范圍，在所述參數范圍內隨機生成多個參數組合，每個參數組合對一條一階線性相位誤差；

對所述(Kx,Ky)域數據變換至(x,Ky)混合域，分別利用每條所述一階線性相位誤差對混合域數據進行相位誤差剔除操作，得到多份校正后數據；

將多份所述校正后數據變換到(x,y)圖像域，計算對應圖像的熵值，獲得熵值最小的一個參數組合，作為初始參數；

基于所述初始參數搜尋獲得最優參數對，以所述最優參數對進行信息熵校正，獲得所述第二校正數據。

10.根據權利要求9所述的DWI-EPI圖像奈奎斯特重影校正方法，其特征在于，采用無導數法搜尋獲得所述最優參數對。