[發(fā)明專利]一種用于測(cè)試主板的刀片探針夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210981775.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-08-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115327186B | 公開(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐偉;徐歡夏;唐朝陽(yáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇聯(lián)康信息股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/067 | 分類號(hào): | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司: | 宿遷嶸錦專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32497 | 代理人: | 尹從明 |
| 地址: | 223700 江蘇省宿遷*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 測(cè)試 主板 刀片 探針 夾具 | ||
本發(fā)明公開了一種用于測(cè)試主板的刀片探針夾具,包括針模塊本體,針模塊本體包括第一模芯、第二模芯和第三模芯,第一模芯的一側(cè)設(shè)有凹槽,凹槽內(nèi)設(shè)有方形開口,第二模芯上設(shè)有多組第一針孔,第一針孔之間設(shè)有第一方形槽,第一方形槽與第一針孔之間相互貫通,第一針孔和第一方形槽貫穿第二模芯,第三模芯為T形狀,有益效果:使得打孔難度低,便于加工,此種加工方式避免零件切塊太多,進(jìn)行需要鉆孔方式,大大降低了加工步驟和加工難度,并解決了切塊太多的問題,使得成本更加低廉,此種加工方式適合大部分小、中、大零件的生產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及探針夾具領(lǐng)域,具體為一種用于測(cè)試主板的刀片探針夾具。
背景技術(shù)
集成電路(IC)是有一系列的光刻、腐蝕、摻雜等步驟制造而成,而在實(shí)際的集成電路(IC)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程中不可避免的會(huì)產(chǎn)生各種缺陷,在產(chǎn)品交付客戶之前就需要進(jìn)行電性功能測(cè)試,在集成電路檢測(cè)設(shè)備上就需要探針夾具來充當(dāng)芯片與測(cè)試機(jī)信號(hào)傳遞的“橋梁”,在對(duì)主板進(jìn)行性能測(cè)試時(shí),通過使用刀片探針(Blade?probe)安裝固定在針模塊上,一端連接TPCB,另一端連接待測(cè)試主板,通過刀片探針(Blade?probe)自身的彈性緩沖結(jié)構(gòu)和前端尖端針刺,使得電信號(hào)更加穩(wěn)定在TPCB和待測(cè)試主板之間傳輸。
目前針模塊大多數(shù)為一體式結(jié)構(gòu),針模塊長(zhǎng)度長(zhǎng),刀具打孔需要十分精確,難度較大,在打孔的時(shí)容易將刀頭損壞,加工成本較大,而且不便于量產(chǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
(一)解決的技術(shù)問題
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:目前針模塊大多數(shù)為一體式結(jié)構(gòu),針模塊長(zhǎng)度長(zhǎng),刀具打孔需要十分精確,難度較大,在打孔的時(shí)容易將刀頭損壞,加工成本較大,而且不便于量產(chǎn)。
(二)技術(shù)方案
為解決上述問題,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
1.一種用于測(cè)試主板的刀片探針夾具,其特征在于:包括針模塊本體,所述針模塊本體包括第一模芯、第二模芯和第三模芯,所述第一模芯的一側(cè)設(shè)有凹槽,所述凹槽內(nèi)設(shè)有方形開口,所述第二模芯上設(shè)有多組第一針孔,所述第一針孔之間設(shè)有第一方形槽,所述第一方形槽與所述第一針孔之間相互貫通,所述第一針孔和所述第一方形槽貫穿所述第二模芯,所述第三模芯為T形狀,所述第三模芯上設(shè)有第二針孔和第三針孔,所述第二針孔與第三針孔之間設(shè)有第二方形槽,所述第二針孔貫穿所述第三模芯,所述第二方形槽的深度與所述第三針孔的深度相同。
進(jìn)一步的,,所述第一模芯、所述第二模芯和第三模芯的兩側(cè)分別設(shè)有固定槽,所述固定槽之間上下貫通,且所述固定槽在同一中心軸上。
進(jìn)一步的,所述第一方形槽與所述第二方形槽之間相互貫通,所述第一方形槽與所述第二方形槽的槽寬在0.14mm-0.16mm之間。
進(jìn)一步的,所述第一針孔、所述第二針孔和第三針孔的孔徑相同,所述第二針孔的深度的小于所述第一針孔的深度,所述第一針孔于所述第三針孔的深度。
進(jìn)一步的,所述凹槽覆蓋在所述第一針孔上部。。
進(jìn)一步的,所述第一模芯、所述第二模芯和所述第三模芯之間為活動(dòng)連接。
有益效果
本發(fā)明有益效果為:使得打孔難度低,便于加工,此種加工方式避免零件切塊太多,進(jìn)行需要鉆孔方式,大大降低了加工步驟和加工難度,并解決了切塊太多的問題,使得成本更加低廉,此種加工方式適合大部分小、中、大零件的生產(chǎn)。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的立體圖;
圖2是本發(fā)明的爆炸圖;
圖3是本發(fā)明的第三模芯剖視圖;
圖4是本發(fā)明的第一模芯立體圖;
圖5是本發(fā)明的第三模芯俯視圖;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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