[發(fā)明專利]一種微孔發(fā)泡注塑制品的質(zhì)量檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210978404.2 | 申請日: | 2022-08-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115042401B | 公開(公告)日: | 2022-11-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳燕珍 | 申請(專利權(quán))人: | 南通廣信塑料機(jī)械有限公司 |
| 主分類號(hào): | B29C45/76 | 分類號(hào): | B29C45/76 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 226000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 微孔 發(fā)泡 注塑 制品 質(zhì)量 檢測 方法 | ||
1.一種微孔發(fā)泡注塑制品的質(zhì)量檢測方法,其特征在于,該方法包括:
獲取注塑制品表面圖像,并對注塑制品表面圖像進(jìn)行閾值分割得到多個(gè)銀紋區(qū)域連通域;
對多個(gè)銀紋區(qū)域連通域分別進(jìn)行骨架化操作得到多條銀紋線段,同時(shí)獲取每條銀紋線段的長度;
將每條銀紋線段等間距分割為若干份,過分割位置在每個(gè)銀紋區(qū)域連通域內(nèi)做多條垂直于銀紋線段的分割線段;
對每個(gè)銀紋區(qū)域連通域內(nèi)每條分割線段上的全部像素點(diǎn)進(jìn)行逐個(gè)遍歷,根據(jù)每個(gè)像素點(diǎn)與周圍鄰域像素點(diǎn)灰度值差異,判定出每個(gè)銀紋區(qū)域連通域?qū)儆阢y絲紋區(qū)域還是銀帶紋區(qū)域;
根據(jù)每個(gè)像素點(diǎn)與周圍鄰域像素點(diǎn)灰度值差異,判定出每個(gè)銀紋區(qū)域連通域?qū)儆阢y絲紋區(qū)域還是銀帶紋區(qū)域,包括:計(jì)算出每個(gè)像素點(diǎn)與周圍每個(gè)鄰域像素點(diǎn)灰度值差值,由得到的全部差值計(jì)算出每個(gè)像素點(diǎn)與周圍鄰域像素點(diǎn)灰度值差值的均值;當(dāng)任一像素點(diǎn)與周圍鄰域像素點(diǎn)灰度值差值的均值大于預(yù)設(shè)均值閾值時(shí),將該像素點(diǎn)標(biāo)記為銀絲紋像素點(diǎn),否則將該像素點(diǎn)標(biāo)記為銀帶紋像素點(diǎn),同理對每個(gè)銀紋區(qū)域連通域內(nèi)每條分割線段上的每個(gè)像素點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記;根據(jù)每個(gè)銀紋區(qū)域連通域內(nèi)多條分割線段上銀絲紋像素點(diǎn)的總個(gè)數(shù)和銀帶紋像素點(diǎn)的總個(gè)數(shù),計(jì)算出每個(gè)銀紋區(qū)域連通域內(nèi)銀帶紋像素點(diǎn)占比;當(dāng)任一銀紋區(qū)域連通域內(nèi)銀帶紋像素點(diǎn)占比大于等于預(yù)設(shè)比例閾值時(shí),判定該銀紋區(qū)域連通域?qū)儆阢y帶紋區(qū)域,否則該銀紋區(qū)域連通域?qū)儆阢y絲紋區(qū)域;同理判定出每個(gè)銀紋區(qū)域連通域?qū)儆阢y絲紋區(qū)域還是銀帶紋區(qū)域;
對每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)的多條分割線段上像素點(diǎn)的灰度值進(jìn)行曲線擬合得到多條波動(dòng)曲線,根據(jù)每條波動(dòng)曲線上波峰與波谷的灰度值差異計(jì)算出每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的層疊程度,包括:選取任一銀絲紋區(qū)域內(nèi)任一條波動(dòng)曲線作為待計(jì)算波動(dòng)曲線;將待計(jì)算波動(dòng)曲線上最高波峰的灰度值和最低波谷的灰度值做差,得到待計(jì)算波動(dòng)曲線對應(yīng)的最大灰度值差異度;將待計(jì)算波動(dòng)曲線上相鄰波峰和波谷作為一對,將每對波峰和波谷中的波峰的灰度值和波谷的灰度值對應(yīng)做差,得到待計(jì)算波動(dòng)曲線對應(yīng)的相鄰波峰和波谷的灰度值差異度;由待計(jì)算波動(dòng)曲線對應(yīng)的相鄰波峰和波谷的灰度值差異度和最大灰度值差異度,共同組成灰度值差異度集合;將灰度值差異度集合的均值作為待計(jì)算波動(dòng)曲線上熔體的層疊程度,按照待計(jì)算波動(dòng)曲線上熔體的層疊程度的計(jì)算方法,計(jì)算出每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)每條波動(dòng)曲線上熔體的層疊程度;將每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)全部波動(dòng)曲線上熔體的層疊程度的均值,作為每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的層疊程度;
利用每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的層疊程度和銀紋線段的長度,計(jì)算出銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度,包括:將每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的層疊程度做歸一化處理,得到每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的歸一化層疊程度;利用每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的歸一化層疊程度和銀紋線段的長度,計(jì)算出銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度;
銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度的計(jì)算公式如下式所示:
其中,表示第個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)銀紋線段的長度;表示第個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的歸一化層疊程度;表示銀絲紋區(qū)域的總個(gè)數(shù);表示銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度,銀絲紋區(qū)域的個(gè)數(shù)越多,同時(shí)每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)銀紋線段的長度越長、每個(gè)銀絲紋區(qū)域內(nèi)熔體的歸一化層疊程度越大,銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度越大;
根據(jù)每個(gè)銀帶紋區(qū)域內(nèi)像素點(diǎn)個(gè)數(shù)與該銀帶紋區(qū)域的最小外接矩形內(nèi)像素點(diǎn)個(gè)數(shù)的比值,計(jì)算出每個(gè)銀帶紋區(qū)域的形變程度;
每個(gè)銀帶紋區(qū)域的形變程度的計(jì)算公式如下式所示:
其中,表示任一銀帶紋區(qū)域內(nèi)像素點(diǎn)個(gè)數(shù);表示任一銀帶紋區(qū)域的最小外接矩形內(nèi)像素點(diǎn)個(gè)數(shù);表示銀帶紋區(qū)域的形變程度;
利用每個(gè)銀帶紋區(qū)域的形變程度和每個(gè)銀帶紋區(qū)域內(nèi)銀紋線段的長度,計(jì)算出銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度,包括:將每個(gè)銀帶紋區(qū)域的形變程度做歸一化處理,得到每個(gè)銀帶紋區(qū)域的歸一化形變程度;利用每個(gè)銀帶紋區(qū)域的歸一化形變程度和銀紋線段的長度,計(jì)算出銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度;
銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度的計(jì)算公式如下式所示:
其中,表示第個(gè)銀帶紋區(qū)域內(nèi)銀紋線段的長度;表示第個(gè)銀帶紋區(qū)域的歸一化形變程度;表示銀帶紋區(qū)域的總個(gè)數(shù);表示銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度,銀帶紋區(qū)域的個(gè)數(shù)越多,同時(shí)每個(gè)銀帶紋區(qū)域內(nèi)銀紋線段的長度越長、每個(gè)銀帶紋區(qū)域的歸一化形變程度越大,銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度越大;
利用銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度和銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度,計(jì)算出注塑制品表面粗糙度,根據(jù)注塑制品表面粗糙度對微孔發(fā)泡注塑制品的質(zhì)量進(jìn)行判斷;
注塑制品表面粗糙度的計(jì)算公式如下式所示:
其中,表示銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度;表示銀帶紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度的權(quán)重,經(jīng)驗(yàn)值設(shè)定為;表示銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度;表示銀絲紋對注塑制品表面粗糙度的影響程度的權(quán)重,經(jīng)驗(yàn)值設(shè)定為;表示銀絲紋區(qū)域的總個(gè)數(shù);表示銀帶紋區(qū)域的總個(gè)數(shù);表示注塑制品表面粗糙度。
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