[發明專利]一種芯片測試用手動調節機械臂

在審

• 申請號: 202210976265.X
• 申請日: 2022-08-15
• 公開（公告）號: CN115194818A
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 蘇州輝墾電子科技有限公司
• 主分類號: B25J18/02
• 分類號: B25J18/02;B25J18/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片測試用手動調節機械臂，包括依次轉動連接的第一段臂（1）、第二段臂（2）和第三段臂（3），其特征在于：所述第一段臂（1）的遠離第二段臂（2）端設有導桿連接塊（4），兩個所述導桿連接塊（4）設置于第一段臂（1）的上下兩側，所述第一段臂（1）與兩個導桿連接塊（4）之間連接有豎直設置的第一連接軸（6），所述第一段臂（1）和第二段臂（2）之間連接有豎直設置的第二連接軸（7），所述第二段臂（2）和第三段臂（3）之間連接有豎直設置的第三連接軸（8），所述第三段臂（3）的遠離第二段臂（2）端轉動連接有抱臂固定盤（5），所述第一段臂（1）的上方設有固定盤（9），所述固定盤（9）固定于導桿連接塊（4）的下方，所述固定盤（9）上設有調節孔（10），所述第一段臂（1）上對應調節孔（10）的位置設有第一鎖緊孔（11），所述第一鎖緊孔（11）連接有第一鎖緊把手（12），所述第二連接軸（7）和第三連接軸（8）上均套設有一個鎖緊塊（13），所述鎖緊塊（13）上設有第二鎖緊把手（17），所述第三段臂（3）上連接有固定插銷（22），所述抱臂固定盤（5）上沿其圓周方向設有多個配合固定插銷（22）的定位孔（23）。

2.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述調節孔（10）為圓弧形的腰形孔。

3.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述鎖緊塊（13）上開設有上下貫穿的固定孔（14），所述固定孔（14）連接有鎖緊槽（15），所述鎖緊槽（15）貫穿鎖緊塊（13）。

4.根據權利要求3所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述鎖緊塊（13）上設有第二鎖緊孔（16），所述第二鎖緊孔（16）垂直于鎖緊槽（15）且貫穿鎖緊塊（13）。

5.根據權利要求4所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述第二鎖緊孔（16）為螺紋孔，其與第二鎖緊把手（17）螺接。

6.根據權利要求3所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述固定孔（14）的孔壁上設有上下貫穿的多個切割槽（18），每個所述切割槽（18）的遠離固定孔（14）端均設有切割孔（19）。

7.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：兩個所述鎖緊塊（13）分別固定于第一段臂（1）和第二段臂（2）上，所述鎖緊塊（13）上設有多個第一連接孔（20）。

8.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述第三段臂（3）上設有固定塊（21），所述固定插銷（22）貫穿固定塊（21）且與固定塊（21）螺接，所述固定塊（21）上設有第二連接孔（24）。

9.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述第一鎖緊孔（11）為螺紋孔，其與第一鎖緊把手（12）螺接。

10.根據權利要求1所述的一種芯片測試用手動調節機械臂，其特征在于：所述導桿連接塊（4）活動連接有機身導桿，所述抱臂固定盤（5）連接有測試頭。