[發(fā)明專利]一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210974848.9 | 申請日: | 2022-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN115389422A | 公開(公告)日: | 2022-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙昭;李潔;沙長濤 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京世譽(yù)鑫誠專利代理有限公司 11368 | 代理人: | 仲伯煊 |
| 地址: | 100176 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 材料 少數(shù) 載流子 壽命 檢測 設(shè)備 方法 | ||
1.一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,包括固定座,其特征在于:還包括位于固定座上的:
夾持單元,用于通過直線模組控制夾持板對待檢測硅材料進(jìn)行夾持;
調(diào)節(jié)單元,用于通過旋轉(zhuǎn)組件和橫向移動(dòng)組件控制檢測單元在橫向架上同步沿待檢測硅材料的長度方向或者周向方向運(yùn)動(dòng);
檢測單元,用于通過光源、探測器和處理控制器對待檢測硅材料進(jìn)行檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,其特征在于:所述直線模組固定于固定座上,且直線模組位于檢測單元旋轉(zhuǎn)空間內(nèi),所述直線模組通過內(nèi)部的電機(jī)和雙向絲杠帶動(dòng)上方的兩側(cè)夾持板進(jìn)行相靠近或者相遠(yuǎn)離運(yùn)動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,其特征在于:所述橫向移動(dòng)組件通過橫向架連接于旋轉(zhuǎn)組件上,所述旋轉(zhuǎn)組件包括旋轉(zhuǎn)電機(jī)、旋轉(zhuǎn)架和連接架,所述固定座的一側(cè)開有環(huán)形槽,所述固定座的另一側(cè)固定有旋轉(zhuǎn)電機(jī),所述旋轉(zhuǎn)電機(jī)的輸出端連接于旋轉(zhuǎn)架的一側(cè),所述旋轉(zhuǎn)架的兩端連接有貫穿于環(huán)形槽的連接架,所述橫向架的一端與連接架延伸出所述環(huán)形槽的一端相連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,其特征在于:所述橫向移動(dòng)組件包括橫移電機(jī)、皮帶輪、皮帶、絲杠和螺母滑塊,所述橫移電機(jī)固定于旋轉(zhuǎn)組件上,所述絲杠插接于橫向架內(nèi),所述螺母滑塊連接于橫向架和絲杠之間,所述絲杠一端設(shè)有皮帶輪,所述橫移電機(jī)通過皮帶輪與兩側(cè)橫向架內(nèi)絲杠設(shè)置皮帶輪均通過皮帶連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,其特征在于:所述旋轉(zhuǎn)架內(nèi)部呈中空狀,所述橫向移動(dòng)組件的絲杠貫穿于旋轉(zhuǎn)架內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備,其特征在于:所述處理控制器包括與探測器電連接的信號放大器、與信號放大器電連接的鎖相放大器、與鎖相放大器電連接的主控制器、與鎖相放大器以及主控制器均電連接的函數(shù)發(fā)生器,所述的函數(shù)發(fā)生器與光源電連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備及方法,其特征在于:還包括一種硅材料少數(shù)載流子壽命檢測設(shè)備的檢測方法,具體包括如下步驟:
S1:將待檢測硅材料放置于直線模組上,然后控制直線模組帶動(dòng)夾持板對待檢測硅材料固定;
S2:啟動(dòng)檢測單元,通過光源、探測器和處理控制器對待檢測硅材料進(jìn)行檢測;
S3:當(dāng)需要沿待檢測硅材料的長度方向檢測時(shí),通過控制橫向移動(dòng)組件,同步帶動(dòng)檢測單元在橫向架上運(yùn)動(dòng),沿待檢測硅材料的長度方向進(jìn)行固定位置檢測或者連續(xù)位置檢測;
S4:當(dāng)需要沿待檢測硅材料的周向方向檢測時(shí),通過控制旋轉(zhuǎn)組件,同步帶動(dòng)檢測單元在橫向架上運(yùn)動(dòng),沿待檢測硅材料的表面進(jìn)行周向進(jìn)行固定位置檢測或者連續(xù)位置檢測。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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