[發明專利]電流傳感器

在審

• 申請號: 202210973716.4
• 申請日: 2022-08-15
• 公開（公告）號: CN115902369A
• 公開（公告）日: 2023-04-04
• 發明（設計）人: 根塚智裕;古田善一;和田祥太郎
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝;豐田自動車株式會社;未來瞻科技株式會社
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25;G01R15/14
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 舒雄文

一種使用分流電阻器(4)的用于檢測目標電流的電流傳感器包括電阻值校正電路(17、63)和電源電路(10)。所述電阻值校正電路(17、63)具有：校正電阻器(5)；信號施加單元(6、62)，向分流電阻器和校正電阻器的串聯電路施加交流信號；電壓檢測單元(20)，檢測分流電阻器和校正電阻器的端子電壓；以及校正單元(16)，計算分流電阻器的電阻值并校正檢測用電阻值。所述電源電路(10)具有：第一電源生成單元(18)，從外部提供的輸入電源生成信號施加單元的第一電源；以及第二電源生成單元(19)，生成電壓檢測單元的第二電源。

技術領域

本公開涉及一種電流傳感器，該電流傳感器通過使用串聯設置在檢測目標電流流過的路徑中的分流電阻器的端子電壓和與該分流電阻器的電阻值對應的電流檢測用電阻值來檢測檢測目標電流。

背景技術

如專利文獻1和2所公開的，在可設想電流傳感器中，測量與檢測目標電流流過的路徑串聯設置的分流電阻器的端子電壓，并基于測得的電壓和與該分流電阻器的電阻值對應的電流檢測用電阻值來計算作為檢測目標的電流。在這種情況下，由于分流電阻器的電阻值可能由于隨時間的劣化等而改變，因此可能需要隨時校正用于計算電流的電流檢測用電阻值。在以下的描述中，將專利文獻1中所公開的可設想電流傳感器稱為第一可設想技術，并且將專利文獻2中所公開的可設想電流傳感器稱為第二可設想技術。

在第一可設想技術中，如下校正電流檢測用電阻值。即，第一可設想技術提供：子電阻器，該子電阻器設置為使得檢測目標電流在子電阻器中流動，與正常狀態下的分流電阻器類似；以及校正電阻器，該校正電阻器設置為使得檢測目標電流在正常時間不在校正電阻器中流動。根據上述配置，與分流電阻器類似，子電阻器隨時間劣化，但校正電阻器幾乎不隨時間劣化。在第一可設想技術中，通過比較校正時的子電阻器和校正電阻器的電阻值來獲得子電阻器和分流電阻器的劣化程度，并基于劣化程度來校正電流檢測用電阻值。

在第二可設想技術中，如下校正電流檢測用電阻值。即，第二可設想技術具有以下配置：設置有多個分流電阻器并且校正電流從多個分流電阻器的互連節點通過，或者輸入端子設置在分流電阻器的中央部分中并且校正電流從輸入端子通過。在第二可設想技術中，測量校正電流通過時每個電阻器的端子電壓，并且基于測量結果計算各個電阻值以校正電流檢測用電阻值。

現有技術文獻

[專利文獻]

專利文獻1：美國專利第8779777號

專利文獻2：美國專利第10473724號

發明內容

在第一可設想技術中，分流電阻器不用于直接校正，并且假設子電阻器以與分流電阻器相同的方式劣化，然后使用子電阻器間接校正與分流電阻器的電阻值對應的電流檢測用電阻值。因此，在第一可設想技術中，如果不滿足上述假設，則不能高精度地校正電流檢測用電阻值，并且結果，電流檢測精度可能降低。

在第二可設想技術中，由于需要設置多個分流電阻器或在分流電阻器的中央部分設置輸入端子，因此存在配置變得復雜的困難。此外，在第二可設想技術中，難以充分提高校正的精度，因為電流檢測用電阻值的校正的精度在很大程度上取決于校正電流的精度。此外，在第一可設想技術和第二可設想技術中，為了提高檢測用電阻值的校正的精度，需要增大在校正期間流動的電流，但是當在校正期間流動的電流增大時，可能會發生諸如發熱和功耗增大的困難。

鑒于上述情況做出了本公開，并且本公開的目的在于提供一種能夠準確地校正檢測用電阻值并抑制功耗而不使配置復雜的電流傳感器。