[發(fā)明專(zhuān)利]環(huán)境垃圾的檢測(cè)方法、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210967581.0 | 申請(qǐng)日: | 2022-08-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115409993A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅靜;敦建征;張培;張賽 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 通號(hào)智慧城市研究設(shè)計(jì)院有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06V10/40 | 分類(lèi)號(hào): | G06V10/40;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;姜春咸 |
| 地址: | 100070 北京市豐臺(tái)區(qū)汽車(chē)博*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 環(huán)境 垃圾 檢測(cè) 方法 電子設(shè)備 計(jì)算機(jī) 可讀 介質(zhì) | ||
1.一種環(huán)境垃圾的檢測(cè)方法,包括:
采集目標(biāo)場(chǎng)景的待檢測(cè)圖像;
將所述待檢測(cè)圖像輸入環(huán)境垃圾檢測(cè)模型,對(duì)所述目標(biāo)場(chǎng)景中的垃圾進(jìn)行檢測(cè);其中,所述環(huán)境垃圾檢測(cè)模型包括三個(gè)特征提取層,所述特征提取層基于深度可分離卷積提取特征圖參數(shù),所述特征提取層的輸入特征矩陣的尺寸等于輸出特征矩陣的尺寸;
根據(jù)對(duì)所述目標(biāo)場(chǎng)景中的垃圾進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果生成反饋信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法,其中,所述環(huán)境垃圾檢測(cè)模型的三個(gè)特征提取層包括第一特征提取層、第二特征提取層、第三特征提取層;所述環(huán)境垃圾檢測(cè)模型還包括SPPNet層和PANet層,所述PANet層對(duì)應(yīng)第一分支、第二分支、第三分支;其中,
所述第一特征提取層的輸出作為所述第二特征提取層的輸入;
所述第二特征提取層的輸出與所述第一特征提取層的輸出的和,作為所述第三特征提取層的輸入和所述第二分支的輸入;
所述第三特征提取層的輸出作為所述SPPNet層的輸入和所述第三分支的輸入;
所述SPPNet層的輸出作為所述第一分支的輸入。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法,其中,所述第一特征提取層包括MobileNetV1網(wǎng)絡(luò),所述MobileNetV1網(wǎng)絡(luò)包括第一深度可分離卷積子層。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法,其中,所述第二特征提取層包括MobileNetV2網(wǎng)絡(luò),所述MobileNetV2網(wǎng)絡(luò)包括第一殘差塊,所述第一殘差塊的步距為1,所述第一殘差塊包括第二深度可分離卷積子層。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法,其中,所述第三特征提取層包括兩個(gè)并列的第二殘差塊,所述第二殘差塊的步距為2,所述第二殘差塊包括第三深度可分離卷積子層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法,其中,根據(jù)對(duì)所述目標(biāo)場(chǎng)景中的垃圾進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果生成反饋信息,包括:
根據(jù)所述檢測(cè)結(jié)果按照預(yù)設(shè)劃分標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),確定匯總結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)方法,其中,根據(jù)對(duì)所述目標(biāo)場(chǎng)景中的垃圾進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果生成反饋信息,還包括:
根據(jù)所述匯總結(jié)果生成清理路線(xiàn)規(guī)劃信息和清理人員規(guī)劃信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法,其中,所述檢測(cè)方法還包括:
采集多個(gè)樣本圖像;
為所述樣本圖像添加標(biāo)簽,得到訓(xùn)練樣本集,其中,所述標(biāo)簽用于對(duì)所述樣本圖像中垃圾進(jìn)行標(biāo)識(shí);
利用所述訓(xùn)練樣本集對(duì)所述環(huán)境垃圾檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練。
9.一種電子設(shè)備,其包括:
一個(gè)或多個(gè)處理器;
存儲(chǔ)器,其上存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)程序,當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的環(huán)境垃圾的檢測(cè)方法;
一個(gè)或多個(gè)I/O接口,連接在所述處理器與存儲(chǔ)器之間,配置為實(shí)現(xiàn)所述處理器與存儲(chǔ)器的信息交互。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的環(huán)境垃圾的檢測(cè)方法。
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