[發明專利]殘影評價方法及殘影評價系統在審
| 申請號: | 202210964234.2 | 申請日: | 2022-08-11 |
| 公開(公告)號: | CN115493813A | 公開(公告)日: | 2022-12-20 |
| 發明(設計)人: | 陳宗志;于振坤;蔡思偉;朱修劍 | 申請(專利權)人: | 合肥維信諾科技有限公司;昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 廣東君龍律師事務所 44470 | 代理人: | 丁建春 |
| 地址: | 230001 安徽省合*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 影評 方法 系統 | ||
本申請提供了一種殘影評價方法及殘影評價系統,所述殘影評價方法包括:獲得第一采集時間段對顯示面板進行亮度采集的第一亮度數據;其中,所述第一采集時間段的起始時間點響應于接收到所述顯示面板由第一預設圖像切換至第二預設圖像的切圖成功信號的時刻;獲得晚于所述第一采集時間段的第二采集時間段對所述顯示面板進行亮度采集的第二亮度數據;基于所述第一亮度數據和所述第二亮度數據獲得所述顯示面板的殘影水平。通過上述方式,本申請能夠較為準確的獲得顯示面板在切圖時刻的殘影水平。
技術領域
本申請屬于顯示技術領域,具體涉及一種殘影評價方法及殘影評價系統。
背景技術
在顯示面板的生產過程中,為了保證性能和質量,需要對顯示面板的殘影現象進行檢測與判定;其中,殘影現象是指顯示面板在進行畫面切換時,上一幀畫面不會立即消失,從而影響下一幀畫面顯示的現象。
目前,現有的殘影評價方法中缺少能夠準確對顯示面板切圖時刻的殘影水平進行評價的方式。
發明內容
本申請提供一種殘影評價方法及殘影評價系統,以較為準確的獲得顯示面板在切圖時刻的殘影水平。
為解決上述技術問題,本申請采用的一個技術方案是:提供一種殘影評價方法,包括:獲得第一采集時間段對顯示面板進行亮度采集的第一亮度數據;其中,所述第一采集時間段的起始時間點響應于接收到所述顯示面板由第一預設圖像切換至第二預設圖像的切圖成功信號的時刻;獲得晚于所述第一采集時間段的第二采集時間段對所述顯示面板進行亮度采集的第二亮度數據;基于所述第一亮度數據和所述第二亮度數據獲得所述顯示面板在所述切圖時刻的殘影水平。
為解決上述技術問題,本申請采用的另一個技術方案是:提供一種殘影評價系統,所述殘影評價系統用以實現上述任一實施例中所述的殘影評價方法。
區別于現有技術情況,本申請的有益效果是:本申請所提供的殘影評價方法中會獲得相鄰的第一采集時間段和第二采集時間段分別對顯示面板進行亮度采集所獲得的第一亮度數據和第二亮度數據,且第一采集時間段的起始時間點響應于接收到所述顯示面板由第一預設圖像切換至第二預設圖像的切圖成功信號的時刻,基于該時刻較為準確的捕獲到切圖時刻附近的亮度數據。后續可以基于上述第一亮度數據和第二亮度數據可以較為準確地獲得顯示面板在切圖時刻的殘影水平。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其它的附圖,其中:
圖1為顯示面板從第一預設圖像切換為第二預設圖像一實施方式的顯示示意圖;
圖2為本申請殘影評價方法一實施方式的流程示意圖;
圖3為本申請殘影評價方法另一實施方式的流程示意圖;
圖4為圖3中步驟S202對應的一實施方式的時序示意圖;
圖5為圖3中步驟S202對應的另一實施方式的時序示意圖;
圖6為本申請殘影評價方法另一實施方式的流程示意圖;
圖7為本申請殘影評價系統一實施方式的結構示意圖;
圖8為采用同一評價方法測試獲得的顯示面板在不同老化時間下殘影水平示意圖。
具體實施方式
下面將結合本申請實施例中的附圖,對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅是本申請的一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒旧暾堉械膶嵤├?,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本申請保護的范圍。
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