[發明專利]一種信號頻率測量方法及系統在審
| 申請號: | 202210950685.0 | 申請日: | 2022-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN115308484A | 公開(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發明(設計)人: | 張海濤 | 申請(專利權)人: | 河南科技大學 |
| 主分類號: | G01R23/10 | 分類號: | G01R23/10 |
| 代理公司: | 洛陽九創知識產權代理事務所(普通合伙) 41156 | 代理人: | 許寧 |
| 地址: | 471000 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 信號 頻率 測量方法 系統 | ||
本發明涉及一種信號頻率測量方法及系統,屬于測量控制技術領域,一種信號頻率測量方法,包括步驟:S1、獲取待測信號;S2、對待測信號進行初步測量,獲取基準測量時長內待測信號的脈沖個數,并根據脈沖個數確定待測信號的頻率范圍;S3、根據頻率范圍和測量精度,對待測信號進行虛擬分頻或倍頻處理;S4、對虛擬分頻或倍頻處理后的待測信號進行測量,獲取測量結果,并根據測量結果計算待測信號的實際頻率。通過對現有的計數法進行改進,根據測量精度要求,對待測信號進行虛擬分頻或倍頻處理,消除了單片機時鐘頻率的限制,拓寬了測量范圍,滿足不同待測信號的測量精度,并提高測量速度,解決現有低頻和高頻信號的測量精確度較低的技術問題。
技術領域
本發明涉及測量控制技術領域,具體涉及一種信號頻率測量方法及系統。
背景技術
在工控系統中,通常采用頻率計測量信號,現有的計數法頻率計,基于單片機進行頻率測量,通常在1s時間內,使用計數器對待測信號進行計數,則計數器的計數結果就是信號的頻率。
但是這種計數法頻率計,針對低頻信號的測量精度很低,甚至難以測量;由于單片機時鐘頻率的限制,難以保證高頻信號的測量精度。為了提高低頻和高頻信號的測量精確度,對低頻信號采用周期法測量,而對高頻信號采用計數法測量。但是低頻信號采用周期法測量的精度較低,而且耗時較長;高頻信號采用計數法精度差別較大,而且單片機測量過高頻率的信號誤差較大。
發明內容
為了解決現有低頻和高頻信號的測量精確度較低的技術問題,本發明對計數法進行改進,實現低頻和高頻信號的測量,提供一種信號頻率測量方法及其系統。
為了實現上述目的,本發明采用的具體方案為:一種信號頻率測量方法,包括步驟:
S1、獲取待測信號;
S2、對待測信號進行初步測量,獲取基準測量時長內待測信號的脈沖個數,并根據脈沖個數確定待測信號的頻率范圍;
S3、根據頻率范圍和測量精度,對待測信號進行虛擬分頻或倍頻處理;
S4、對虛擬分頻或倍頻處理后的待測信號進行測量,獲取測量結果,并根據測量結果計算待測信號的實際頻率。
作為上述信號頻率測量方法的一種優化方案,S2包括步驟S21、S22和S23,
S21、設置基準測量時長T,T=10-ns,n為整數;
S22、獲取基準測量時長T內待測信號的脈沖個數L;
S23、比較脈沖個數L與判決門限m,當L>m時確定待測信號的頻率范圍當L≤m時,基準測量時長T按照預定的比例K擴大,其中K為10,并循環X次直至基準測量時長KXT內待測信號的脈沖個數L>m,X為正整數,獲取其頻率范圍其中m為正整數,且m=k-1。
作為上述信號頻率測量方法的另一種優化方案,S3的具體方法為:測量精度為0.1~1%,當n-x>1時,對待測信號進行虛擬分頻處理;當n-x≤1時,對待測信號進行倍頻處理。
作為上述信號頻率測量方法的另一種優化方案,待測信號倍頻處理或虛擬分頻處理的比例為P=101-(n-x)。
作為上述信號頻率測量方法的另一種優化方案,S4中實際頻率的計算方法為F=Q/P。
一種信號頻率測量系統,包括:
獲取模塊,用于獲取待測信號;
測量模塊,根據基準測量時長內待測信號的脈沖個數,獲取待測信號的頻率范圍;
處理模塊,根據頻率范圍,對待測信號進行倍頻或虛擬分頻處理;
計算模塊,測量結果乘以倍頻或分頻的倒數,計算待測信號的實際頻率值。
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