[發明專利]一種精準度高的殘影測試方法

在審

• 申請號: 202210946151.0
• 申請日: 2022-08-08
• 公開（公告）號: CN115371964A
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 楊磊;魏玲楓;樊劼
• 申請（專利權）人: 信利光電仁壽有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 胡昌志

1.一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，包括：

步驟A、選擇被測試的顯示屏模組，所述顯示屏模組具有黑白格畫面以及純灰色畫面，顯示屏模組具有N個主區域，每個主區域具有兩個子區域，在黑白格畫面下，一個子區域顯示黑格，另一個子區域顯示白格，且N個主區域之間的黑格和白格為相互交錯分布；

步驟B、先切到純灰色畫面，分別測試N個主區域中每個子區域的色坐標(x，y)，然后點亮黑白格畫面；

步驟C、點亮黑白格畫面一小時后，切到純灰色畫面，再次分別測試N個主區域中每個子區域的色坐標(x，y)；

步驟D、黑格殘影程度由△x黑和△y黑量化衡量，白格殘影程度由△x白和△y白量化衡量；

△x黑＝所有黑格的△x之和/N；

△y黑＝所有黑格的△y之和/N；

△x白＝所有白格的△x之和/N；

△y白＝所有白格的△y之和/N；

其中，△x為子區域點亮黑白格畫面前與點亮黑白格畫面后的x差值，△y為子區域點亮黑白格畫面前與點亮黑白格畫面后的y差值。

2.根據權利要求1所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，所述純灰色畫面的灰色度為128。

3.根據權利要求1所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，所述步驟B中色坐標采用CIE1993色坐標系。

4.根據權利要求1所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，所述步驟B中色坐標測量儀器為光學儀器CS2000。

5.根據權利要求1所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，N具體為8，即主區域數量為8，子區域數量為16，16個子區域按四行四列排布；

△x黑＝(△x1+△x3+△x6+△x8+△x9+△x11+△x14+△x16)/8；

△y黑＝(△y1+△y3+△y6+△y8+△y9+△y11+△y14+△y16)/8；

△x白＝(△x2+△x4+△x5+△x7+△x10+△x12+△x13+△x15)/8；

△y白＝(△y2+△y4+△y5+△y7+△y10+△y12+△y13+△y15)/8。

6.根據權利要求5所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，△x1為第一個子區域點亮黑白格畫面前與點亮黑白格畫面后的x差值，即△x1＝x1點亮黑白格畫面前-x1點亮黑白格畫面后；

△y1為第一個子區域點亮黑白格畫面前與點亮黑白格畫面后的y差值，即△y1＝y1點亮黑白格畫面前-y1點亮黑白格畫面后；

△x1和△y1衡量的是第一個子區域點亮了黑白格一小時后，導致的色度x和y的偏移量，即黑格和白格殘留影響的量化數據。

7.根據權利要求6所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，在步驟B前先進行測試對照，具體步驟包括：

先把顯示屏模組點亮顯示黑白格畫面，持續點亮一小時后，再切換為純灰色畫面，用人眼判斷上個黑白格畫面在純灰畫面中殘留的程度，通過多人判斷同一顯示屏模組的殘影程度，然后選擇相同值。

8.根據權利要求7所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，使用步驟B、步驟C以及步驟D所提供的步驟對多人檢測后的顯示屏模組進行殘影測試，判斷是否存在偏差，若存在偏差則對步驟B中使用的光學儀器進行校準，若無偏差則繼續后續顯示屏模組的測試。

9.根據權利要求8所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，所述步驟B和步驟C中通過點屏裝置對顯示屏模組進行點亮，通過亮度檢測設備對點屏裝置每次點亮后的亮度進行檢測。

10.根據權利要求9所述的一種精準度高的殘影測試方法，其特征在于，所述步驟B和步驟C中所用的點屏裝置為同一個。