[發明專利]一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置和方法

在審

• 申請號: 202210943365.2
• 申請日: 2022-08-08
• 公開（公告）號: CN115356558A
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 劉曄;封安輝;張永搏;劉鵬飛;周忠祖;張潤祖;李歡
• 申請（專利權）人: 中國科學院近代物理研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 冀志華

1.一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，包括：

屏蔽室以及設置在所述屏蔽室內的控制存儲器、低頻信號發生裝置、頻譜分析儀、環天線和屏蔽機柜；

所述控制存儲器經屏蔽網線和光纖與所述低頻信號發生裝置和頻譜分析儀相連，用于基于選擇的不同頻段的天線進行屏蔽效能測試；

所述低頻信號發生裝置基于所述控制存儲器發送的控制指令產生相應頻段的信號，并發送到所述環天線；

所述環天線包括分別設置在所述屏蔽機柜外部和內部的發射環天線和接收環天線，且所述發射環天線與所述低頻信號發生裝置相連，所述接收環天線與設置在所述屏蔽機柜內的頻譜分析儀相連，所述頻譜分析儀用于對所述接收環天線接收的信號進行頻譜分析并發送到所述控制存儲器。

2.如權利要求1所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述低頻信號發生裝置包括功分器、電流驅動器、低頻函數發生器和信號源；

所述低頻函數發生器和信號源的輸入端經屏蔽網線和第一光電轉換器與所述控制存儲器相連；所述低頻函數發生器和信號源的輸出端經屏蔽射頻線纜與所述功分器的兩個輸入端相連，所述功分器的輸出端經屏蔽射頻線纜與所述發射環天線相連；所述電流驅動器設置在所述低頻函數發生器的輸出端與所述功分器的輸入端之間，用于增大所述低頻函數發生器的驅動電流。

3.如權利要求2所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述低頻函數發生器輸出頻率為20Hz～100kHz的信號；所述信號源輸出頻率為100kHz～30MHz的信號。

4.如權利要求2所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述電流驅動器包括電源、低內阻放大器、電阻和輸出端口；所述低內阻放大器用于對所述低頻函數發生器輸出的電壓信號進行放大，使其電壓幅度不變，內阻降低；所述電阻用于對所述低內阻放大器輸出的信號進行限流，并通過所述輸出端口輸出；所述電源用于為電流驅動器供電。

5.如權利要求2所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述頻譜分析儀采用屏蔽網線與第二光電轉換器相連，所述第二光電轉換器的光纖由設置在所述屏蔽機柜壁的波導管穿出后經所述第一光電轉換器與所述控制存儲器相連。

6.如權利要求2所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，發射環天線和接收環天線共面設置，且發射環天線和接收環天線環心連線應垂直于測試點所在的壁面。

7.如權利要求2所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述屏蔽機柜通過絕緣支撐與所述屏蔽室之間形成絕緣，且所述絕緣支撐的厚度至少為100mm。

8.如權利要求1所述的一種低頻及以下頻段屏蔽效能測試裝置，其特征在于，所述接收環天線采用天線支架支撐，并通過屏蔽射頻線纜與所述頻譜分析儀連接。

9.一種采用如權利要求1～8任一項所述裝置的屏蔽效能測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

將控制存儲器、低頻信號發生裝置、環天線和頻譜分析儀進行連接，形成測試鏈路，并確定測試頻點；

確定發射環天線和接收環天線位置，并測試背景噪聲，得到噪聲矩陣；

保持發射環天線和接收環天線位置不變，并檢測屏蔽機柜在各測試頻點下的數據矩陣；

重復上一步驟，并基于噪聲矩陣和各測試頻點的數據矩陣，得到屏蔽機柜在各測試頻點的屏蔽效能測試結果。

10.如權利要求9所述的一種屏蔽效能測試方法，其特征在于，各測試頻點的屏蔽效能測試結果的計算公式為：

SE＝S_SE-H_SE

其中，S_SE為某個測試點的數據矩陣，H_SE為背景噪聲矩陣。