[發明專利]存儲器設備及其操作方法

在審

• 申請號: 202210936829.7
• 申請日: 2022-08-05
• 公開（公告）號: CN115705265A
• 公開（公告）日: 2023-02-17
• 發明（設計）人: 金成來;李明奎;李起準;趙誠慧
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;G11C29/42;G11C11/4078;G11C11/408
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

一種存儲器設備的操作方法包括：在存儲器區域中存儲關于包括擦除的碼字的位置信息和包括關于擦除的位置信息的擦除信息；在上電期間，將關于包括擦除的碼字的位置信息加載到行解碼器和列解碼器；響應于來自主機的讀取指令，確定與讀取指令相對應的讀取地址與關于包括擦除的碼字的位置信息是否一致；當讀取地址與關于包括擦除的碼字的位置信息一致時，將關于擦除的位置信息傳送到糾錯碼(ECC)解碼器；以及由ECC解碼器使用關于擦除的位置信息來糾正從存儲單元陣列接收的碼字中的錯誤。

對相關申請的交叉引用

本申請要求2021年8月6日向韓國知識產權局提交的第10-2021-0103984號韓國專利申請的優先權，該韓國專利申請的公開內容通過引用整體并入于此。

技術領域

本發明構思涉及一種存儲器設備及其操作方法。

背景技術

存儲器設備的高度集成或小型化可能增加錯誤發生的概率，在該錯誤中，可能讀取與要讀取的數據不同的數據，或者可能編程與要編程的數據不同的數據。期望一種利用有限的系統資源來提高糾錯能力的方法。

發明內容

本發明構思的一方面提供了一種存儲器設備，該存儲器設備在存儲器中存儲擦除信息，并且使用擦除信息、利用單比特糾錯和雙比特檢錯(SEC-DED)來糾正2比特錯誤。

根據本發明構思的一方面，一種存儲器設備的操作方法包括：在存儲器區域中存儲關于包括擦除的碼字的位置信息和包括關于擦除的位置信息的擦除信息；在上電期間，將關于包括擦除的碼字的位置信息加載到行解碼器和列解碼器；響應于來自主機的讀取指令，確定與讀取指令相對應的讀取地址與關于包括擦除的碼字的位置信息是否一致；當讀取地址與關于包括擦除的碼字的位置信息一致時，將關于擦除的位置信息傳送到糾錯碼(ECC)解碼器；以及由ECC解碼器使用關于擦除的位置信息來糾正從存儲單元陣列接收的碼字中的錯誤。根據本發明構思的一方面，一種存儲器設備的操作方法包括：從存儲單元陣列接收碼字并且計算接收的碼字的校驗子(syndrome)；使用校驗子和擦除的列數據計算修正的校驗子；確定校驗子的權重；以及當校驗子的權重是偶數時，使用修正的校驗子和擦除的列索引來糾正接收的碼字的錯誤，其中，擦除的列數據是與接收的碼字中擦除的位置相對應的H矩陣的分量，并且擦除的列索引指示與接收的碼字中的擦除相對應的比特位置。

根據本發明構思的一方面，一種存儲器設備的操作方法包括：從存儲單元陣列接收碼字并且計算接收的碼字的校驗子；使用校驗子和擦除的列數據來計算修正的校驗子；確定校驗子的權重；以及使用校驗子、修正的校驗子和校驗子的權重來糾正接收的碼字的錯誤，其中，擦除的列數據是與接收的碼字中擦除的位置相對應的H矩陣的分量。

根據本發明構思的一方面，一種存儲器設備包括：校驗子計算器，被配置為從存儲單元陣列接收碼字并且計算接收的碼字的校驗子；比特計算單元，被配置為使用校驗子和擦除的列數據來計算修正的校驗子；解碼器，被配置為通過使用校驗子和修正的校驗子對接收的碼字中的錯誤的位置進行估計來生成錯誤向量；以及數據轉換單元，被配置為使用接收到的碼字和錯誤向量來糾正接收的碼字的錯誤。擦除的列數據是與接收的碼字中擦除的位置相對應的H矩陣的列的分量。

附圖說明

根據下面結合附圖進行的詳細描述，將更加清楚地理解本發明構思的上述和其他方面、特征和優點，在附圖中：

圖1是示意性地示出根據本發明構思的實施例的存儲器設備的圖；

圖2是示出根據本發明構思的實施例的操作糾錯碼(ECC)編碼器的方法的圖；

圖3和圖4是示出根據本發明構思的實施例的ECC解碼器的操作方法的比較示例；

圖5至圖7是示出根據本發明構思的實施例的操作擦除信息的方法的圖；

圖8和圖9是示出根據本發明構思的實施例的ECC解碼器的操作方法的圖；