[發明專利]一種雙極結型晶體管ICEO參數快速測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202210914682.1
• 申請日: 2022-08-01
• 公開（公告）號: CN115113013B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: 謝可心;包智杰
• 申請（專利權）人: 南京宏泰半導體科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 南京新眾合專利代理事務所(普通合伙) 32534
• 代理人: 彭雄

1.一種雙極結型晶體管ICEO參數快速測試裝置的測試方法，其特征在于：雙極結型晶體管ICEO參數快速測試裝置包括測試設備、含開關二的電路板，所述測試設備包括三個資源通道，分別為資源通道一、資源通道二、資源通道三，其中，電路板的一側連接測試設備的資源通道一，另一側用于測試時與雙極結型晶體管的基極引線連接；所述電路板上的開關二由測試設備提供控制信號CBIT；所述資源通道二用于測試時與雙極結型晶體管的集電極連接，所述資源通道三用于測試時與雙極結型晶體管的發射極連接；所述測試設備用于ICEO參數測試時，將ICEO參數測試項程序內部設置控制信號CBIT電平反轉，使開關二斷開并保持斷開狀態；雙極結型晶體管的基極與測試設備不再連接，雙極結型晶體管的集電極和發射極正常連接測試設備，測試設備執行ICEO參數測試動作；ICEO參數測試完成后，將ICEO參數測試項程序內部設置控制信號CBIT電平再次反轉，使開關二閉合并保持閉合狀態，雙極結型晶體管的基極、集電極、發射極通過再次與測試設備連接，測試設備執行剩余其他項目；

測試方法包括以下步驟：

步驟1，在靠近雙極結型晶體管的位置斷開基極引線，根據分選機測試站長度來選擇斷開的位置，所述雙極結型晶體管的基極的引線長度為0.4?D～0.6D，D為測試站長度，將斷開后的雙極結型晶體管的基極引線與電路板連接，將雙極結型晶體管的集電極與資源通道二連接，將雙極結型晶體管的發射極與資源通道三連接；測試開始時，控制信號CBIT控制開關二閉合并保持該狀態，雙極結型晶體管BJT的三個引腳基極、集電極、發射極均通過引線與測試設備連接，測試項目依次運行；

步驟2，當進行ICEO參數測試時，測試設備將ICEO參數測試項程序內部設置控制信號CBIT電平反轉，使開關二斷開并保持斷開狀態；雙極結型晶體管的基極與測試設備不再連接，雙極結型晶體管的集電極和發射極正常連接測試設備，測試設備執行ICEO參數測試動作；

步驟3，ICEO參數測試完成后，測試設備將ICEO參數測試項程序內部設置控制信號CBIT電平再次反轉，使開關二閉合并保持閉合狀態，雙極結型晶體管的基極、集電極、發射極再次與測試設備連接，測試設備執行剩余其他項目；開關二斷開時ICEO參數所需穩定時間相比開關二閉合時所需的穩定時間縮短1.33x10³倍。

2.根據權利要求1所述雙極結型晶體管ICEO參數快速測試裝置的測試方法，其特征在于：所述電路板上的開關二由測試設備經線纜提供控制信號CBIT。