[發明專利]一種配重可調節的硬盤測試治具及測試方法在審
| 申請號： | 202210909143.9 | 申請日： | 2022-07-29 |
| 公開（公告）號： | CN115148276A | 公開（公告）日： | 2022-10-04 |
| 發明（設計）人： | 紀大為;郭薄志;王丁;顧長亮;王震 | 申請（專利權）人： | 東莞記憶存儲科技有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市精英專利事務所 44242 | 代理人： | 馮筠 |
| 地址： | 523000 廣東省東莞市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 配重 調節 硬盤 測試 方法 | ||
本發明涉及一種配重可調節的硬盤測試治具及測試方法，該配重可調節的硬盤測試治具，包括硬盤盒，可更換的IO板及若干配重塊；所述硬盤盒內設有若干用于放置所述配重塊的安裝位，所述可更換的IO板與所述硬盤盒固定連接，所述配重塊用于仿真硬盤盒內部的部件的重量。本發明通過適配不同重量的配重塊仿真硬盤盒內部的部件，對等真實硬盤，可替代真實硬盤做力學破壞性試驗測試，測試結果可保證與使用真實硬盤測試一致，減少了因硬盤損壞造成的損失，且該硬盤盒不易損壞，可以多次測試，降低了研發成本。
技術領域
本發明涉及硬盤測試技術領域，尤其是指一種配重可調節的硬盤測試治具及測試方法。
背景技術
在服務器產品整機研發階段，需要進行大量機械可靠性類破壞性測試，比如振動、沖擊、跌落等動力學測試。在研發階段所有部件的結構可靠性測試均需要采用滿配進行驗證，硬盤滿配測試是基礎，重復的機械破壞性測試，會導致硬盤損壞，這樣就會導致測試成本劇增。
目前現有技術方案為在產品研發階段使用項目購買的硬盤測試。研發階段針對各種部件(主板，小卡，結構件等)結構設計需要做多次可靠性測試驗證后才能確定最終方案，尤其在前期，各部件結構未達到最優設計，需要滿配硬盤進行重復機械可靠性測試，存在很大破壞性概率，會導致硬盤性能下降，更甚者造成硬盤損壞，無法識別。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種配重可調節的硬盤測試治具及測試方法。
為了解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：
一種配重可調節的硬盤測試治具，包括硬盤盒，可更換的IO板及若干配重塊；所述硬盤盒內設有若干用于放置所述配重塊的安裝位，所述可更換的IO板與所述硬盤盒固定連接，所述配重塊用于仿真硬盤盒內部的部件的重量。
其進一步技術方案為：所述配重塊包括第一類型配重塊，第二類型配重塊，第三類型配重塊及第四類型配重塊。
其進一步技術方案為：所述第一類型配重塊的重量為10g，第二類型配重塊的重量為20g，第三類型配重塊的重量為50g，第四類型配重塊的重量為100g。
其進一步技術方案為：所述配重塊通過螺絲固定于所述安裝位。
其進一步技術方案為：所述可更換的IO板通過螺絲與所述硬盤盒固定連接。
其進一步技術方案為：所述硬盤盒包括2.5寸或3.5寸。
一種配重可調節的硬盤的測試方法，基于上述的配重可調節的硬盤測試治具，包括以下步驟：
獲取硬盤盒內部的部件的基礎信息；
根據硬盤盒內部的部件的基礎信息，配置相對應的配重塊，并將配重塊固定于硬盤盒內，以得到硬盤測試治具；
對硬盤測試治具執行測試，以得到測試結果。
其進一步技術方案為：所述硬盤盒內部的部件的基礎信息包括硬盤盒內部的部件的重量信息和安裝位置信息。
其進一步技術方案為：所述根據硬盤盒內部的部件的基礎信息，配置相對應的配重塊，并將配重塊固定于硬盤盒內，以得到硬盤測試治具步驟之后，還包括：將若干臺硬盤測試治具固定于測試機柜。
其進一步技術方案為：所述對硬盤測試治具執行測試，以得到測試結果步驟中，對硬盤測試治具執行測試包括振動測試、沖擊測試及跌落測試。
本發明與現有技術相比的有益效果是：通過適配不同重量的配重塊仿真硬盤盒內部的部件，對等真實硬盤，可替代真實硬盤做力學破壞性試驗測試，測試結果可保證與使用真實硬盤測試一致，減少了因硬盤損壞造成的損失，且該硬盤盒不易損壞，可以多次測試，降低了研發成本。
下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步描述。
附圖說明
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