[發明專利]eFuse控制電路、eFuse控制系統及其測試方法

在審

• 申請號: 202210900124.X
• 申請日: 2022-07-28
• 公開（公告）號: CN115171765A
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 嚴波;李建偉;王悅
• 申請（專利權）人: 普源精電科技股份有限公司
• 主分類號: G11C17/16
• 分類號: G11C17/16;G11C17/18;G11C29/56
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 初春

本發明公開了一種eFuse控制電路、eFuse控制系統及其測試方法。eFuse控制電路用于向被控制單元輸出校準數據，包括：數據輸出模塊、eFuse模塊和多路選擇器；數據輸出模塊的輸出端與多路選擇器的第一輸入端連接，配置為向多路選擇器的第一輸入端輸出預校準數據；其中，數據輸出模塊中的數據可重復擦寫；eFuse模塊的輸出端與多路選擇器的第二輸入端連接，配置為寫入測試確定的校準數據；多路選擇器的輸出端用于與被控制單元連接，多路選擇器配置為將其第一輸入端與其輸出端導通，或將其第二輸入端與其輸出端導通。本發明能夠提高eFuse控制電路的靈活性，降低測試成本。

技術領域

本發明涉及eFuse技術領域，尤其涉及一種eFuse控制電路、eFuse控制系統及其測試方法。

背景技術

eFuse，也即一次性可編程存儲器，是利用電流將熔絲燒斷從而永久地寫入數據的結構。eFuse可以用于存儲一些永久性的信息，在現在電子技術領域有著重要的應用。

現有的eFuse結構在使用時，只能直接用于控制被控制的單元，一旦經過編程之后，就無法修改。但測試過程中可能需要多次調整數據，采用現有的eFuse結構只能更換新的eFuse，極大地提高了測試成本。

發明內容

本發明提供了一種eFuse控制電路、eFuse控制系統及其測試方法，以提高eFuse控制電路的靈活性，降低測試成本。

根據本發明的一方面，提供了一種eFuse控制電路，用于向被控制單元輸出校準數據，所述eFuse控制電路包括：數據輸出模塊、eFuse模塊和多路選擇器；

所述數據輸出模塊的輸出端與所述多路選擇器的第一輸入端連接，所述數據輸出模塊配置為向所述多路選擇器的第一輸入端輸出預校準數據；其中，所述數據輸出模塊中的數據可重復擦寫；

所述eFuse模塊的輸出端與所述多路選擇器的第二輸入端連接，所述eFuse模塊配置為寫入測試確定的校準數據；

所述多路選擇器的輸出端用于與所述被控制單元連接，所述多路選擇器配置為將其第一輸入端與其輸出端導通，或將其第二輸入端與其輸出端導通。

可選地，所述數據輸出模塊的輸出端與所述eFuse模塊的數據寫入端連接，所述數據輸出模塊還配置為向所述eFuse模塊寫入測試確定的校準數據。

可選地，所述數據輸出模塊為寄存器。

可選地，所述eFuse模塊包括多個eFuse單元，每個所述eFuse單元包括：

eFuse，用于當熔斷電流的大小在預設熔斷電流范圍內時熔斷，以記錄數據；讀寫NMOS，與所述eFuse連接，配置為編程時導通，讀數據時關斷。

可選地，所述eFuse控制電路還包括控制器；

所述控制器與所述多路選擇器的選擇端連接，所述控制器配置為向所述多路選擇器的選擇端輸出第一選擇信號，以將所述多路選擇器的第一輸入端與其輸出端導通；或者，向所述多路選擇器的選擇端輸出第二選擇信號，以將所述多路選擇器的第二輸入端與其輸出端導通。

可選地，所述控制器還配置為對所述被控制單元測試結束后，將其輸出數據鎖死為所述第二選擇信號。

根據本發明的另一方面，提供了一種eFuse控制系統，所述eFuse控制系統包括上述的eFuse控制電路和被控制單元；

所述多路選擇器的輸出端與所述被控制單元連接。

可選地，所述被控制單元包括：處理器、模數轉換器或者模擬前端芯片。

根據本發明的另一方面，提供了一種eFuse控制系統的測試方法，用于測試上述的eFuse控制系統，所述eFuse控制系統的測試方法包括：