[發(fā)明專利]一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210894671.1
• 申請日: 2022-07-28
• 公開（公告）號: CN115063407B
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發(fā)明（設計）人: 陸潔
• 申請（專利權(quán)）人: 海門市亞泰精密銅材有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/12;G06T7/136;G06T7/187;G06V10/25;G06V10/26;G06V10/44;G06V10/50
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1.一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取銅墊片表面圖像；對所述銅墊片表面圖像進行圖像預處理操作，利用像素值大小分割出缺陷像素點，以所述缺陷像素點的連通域的最小外接矩形作為缺陷分析區(qū)域；

在所述缺陷分析區(qū)域的寬度邊界上設置滑窗，獲取所述滑窗內(nèi)缺陷像素點數(shù)量，利用所述滑窗沿著長度方向遍歷整個所述缺陷分析區(qū)域，獲得缺陷像素點數(shù)量序列；若所述缺陷像素點數(shù)量序列存在增減性且元素極差大于預設第一閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足劃痕寬度特征；若所述缺陷像素點數(shù)量序列不存在增減性且元素極差小于預設第二閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足裂紋寬度特征；

對所述缺陷分析區(qū)域中的所述缺陷像素點進行擬合，獲得形態(tài)直線；根據(jù)所述缺陷像素點與所述形態(tài)直線的離散距離獲得形狀平滑程度；若所述形狀平滑程度小于預設第三閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足劃痕形狀特征；若所述形狀平滑程度大于預設第四閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足裂紋形狀特征；

所述形態(tài)直線上對應的所述缺陷像素點的像素值構(gòu)成像素值序列；若所述像素值序列的元素極差大于預設第五閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足劃痕像素值特征；若所述像素值序列的元素極差小于預設第六閾值，則所述缺陷分析區(qū)域滿足裂紋像素值特征；

所述劃痕寬度特征、所述劃痕形狀特征和所述劃痕像素值特征各對應一個權(quán)重；將每個所述缺陷分析區(qū)域滿足的劃痕特征及其對應的權(quán)重相加，獲得劃痕概率指標；所述裂紋寬度特征、所述裂紋形狀特征和所述裂紋像素值特征各對應一個權(quán)重；將每個所述缺陷分析區(qū)域滿足的裂紋特征及其對應的權(quán)重相加，獲得裂紋概率指標；根據(jù)所述劃痕概率指標和所述裂紋概率指標的大小判斷所述缺陷分析區(qū)域是否為劃痕或者裂紋；

判斷所述缺陷像素點數(shù)量序列的增減性的方法包括：

沿著序列方向?qū)⑺鋈毕菹袼攸c數(shù)量序列中相鄰兩個元素的元素值做差，獲得像素點數(shù)量變化序列；若所述像素點數(shù)量變化序列中存在連續(xù)預設數(shù)量的元素同為正值或者負值，則說明所述缺陷像素點數(shù)量序列存在增減性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法，其特征在于，所述獲取所述滑窗內(nèi)缺陷像素點數(shù)量，利用所述滑窗沿著長度方向遍歷整個所述缺陷分析區(qū)域，獲得缺陷像素點數(shù)量序列包括：

所述缺陷像素點數(shù)量序列中的元素值為所述缺陷像素點數(shù)量與所述滑窗面積的比值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法，其特征在于，所述對所述缺陷分析區(qū)域中的所述缺陷像素點進行擬合，獲得形態(tài)直線包括：

利用最小二乘法對所述缺陷像素點進行擬合，獲得所述形態(tài)直線。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述缺陷像素點與所述形態(tài)直線的距離獲得形狀平滑程度包括：

設置垂直于所述形態(tài)直線的滑動直線根據(jù)預設滑動步長在所述缺陷分析區(qū)域中滑動，以所述形態(tài)直線兩側(cè)在所述滑動直線上距離所述形態(tài)直線最遠的兩個所述缺陷像素點作為離散極點；獲得兩個所述離散極點到所述形態(tài)直線的離散距離，獲得兩側(cè)的所述離散距離的差異和所述形態(tài)直線上最大的離散距離的比值，以所述比值的平均值作為所述形狀平滑程度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于環(huán)形銅墊片的劃痕及裂紋識別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述劃痕概率指標和所述裂紋概率指標的大小判斷所述缺陷分析區(qū)域是否為劃痕或者裂紋包括：

在劃痕寬度特征權(quán)重、劃痕形狀特征權(quán)重和劃痕像素值特征權(quán)重中，劃痕形狀特征權(quán)重最大，劃痕寬度特征權(quán)重最??；將所述劃痕寬度特征權(quán)重和所述劃痕像素值特征權(quán)重的和作為劃痕概率指標區(qū)間最小值，將所述劃痕寬度特征權(quán)重、所述劃痕形狀特征權(quán)重和所述劃痕像素值特征權(quán)重的和作為劃痕概率指標區(qū)間最大值，所述劃痕概率指標區(qū)間最小值和所述劃痕概率指標區(qū)間最大值構(gòu)成劃痕概率指標區(qū)間；若所述劃痕概率指標在所述劃痕概率指標區(qū)間內(nèi)，則認為所述缺陷分析區(qū)域為劃痕缺陷。