[發(fā)明專利]一種基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210874004.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-07-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115031920B | 公開(公告)日: | 2022-10-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐世勇;賀中;暢利俠;張兆;王良鋒;唐新武;張?chǎng)?/a>;梁錦敏;周方奇;楊曉娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)空氣動(dòng)力研究與發(fā)展中心高速空氣動(dòng)力研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M9/06 | 分類號(hào): | G01M9/06;G06F17/18 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 王丹 |
| 地址: | 621900 四川省*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 風(fēng)洞試驗(yàn) 數(shù)據(jù) 導(dǎo)彈 表面 壓力 積分 方法 | ||
本發(fā)明屬于風(fēng)洞試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法。本發(fā)明的基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法,包括以下步驟:S10.在試驗(yàn)?zāi)P捅砻娌贾脺y(cè)壓點(diǎn);S20.進(jìn)行風(fēng)洞試驗(yàn),獲取導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù);S30.整理導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù);S40.通過積分法獲得導(dǎo)彈模型的全彈氣動(dòng)力數(shù)據(jù);S50.獲得導(dǎo)彈模型氣動(dòng)特性。本發(fā)明的基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法通過快速處理導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù),能夠在風(fēng)洞試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)快速得到導(dǎo)彈模型氣動(dòng)特性,方便進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)分析,提高試驗(yàn)分析效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于風(fēng)洞試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)的風(fēng)洞測(cè)壓試驗(yàn)?zāi)軌颢@得模型表面測(cè)壓點(diǎn)壓力值,現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)分析能夠通過軟件快速觀看模型表面不同剖面的壓力分布,但是模型的氣動(dòng)力和壓力云圖需要后期處理。
當(dāng)前,亟需發(fā)展一種基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法。
本發(fā)明的基于風(fēng)洞試驗(yàn)數(shù)據(jù)的導(dǎo)彈表面壓力積分方法,包括以下步驟:
S10.在試驗(yàn)?zāi)P捅砻娌贾脺y(cè)壓點(diǎn);
采用俄式坐標(biāo)系,以導(dǎo)彈模型的頭部駐點(diǎn)為坐標(biāo)原點(diǎn)(0,0,0),沿順氣流方向,從前至后依次排布M個(gè)測(cè)壓剖面;以坐標(biāo)原點(diǎn)(0,0,0)為頂點(diǎn)設(shè)置順氣流方向均勻分布的N條母線;對(duì)于每個(gè)測(cè)壓剖面,首先盡量在母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)設(shè)置測(cè)壓點(diǎn),如果受空間限制不能設(shè)置,則在靠近母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)處設(shè)置測(cè)壓點(diǎn);其次,根據(jù)測(cè)量需要,在母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)處附近設(shè)置L個(gè)加密的測(cè)壓點(diǎn);對(duì)于每個(gè)測(cè)壓剖面,測(cè)壓點(diǎn)的序號(hào),從0°位置的測(cè)壓點(diǎn)1開始,沿順時(shí)針方向依次遞增為測(cè)壓點(diǎn)2、測(cè)壓點(diǎn)3、……、直至最后一個(gè)測(cè)壓點(diǎn);M≥4,N≥3,L≥2。
S20.進(jìn)行風(fēng)洞試驗(yàn),獲取導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù);
按照測(cè)壓風(fēng)洞試驗(yàn)流程,獲取導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
S30.整理導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù);
整理導(dǎo)彈模型測(cè)壓試驗(yàn)數(shù)據(jù),使得每個(gè)測(cè)壓剖面均具有N個(gè)測(cè)壓點(diǎn);先將導(dǎo)彈模型的頭部駐點(diǎn)賦值N個(gè)相等的測(cè)壓值,再?gòu)那爸梁笠来握砀鳒y(cè)壓剖面的試驗(yàn)數(shù)據(jù);
S31.獲取母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)的測(cè)壓數(shù)據(jù);
測(cè)壓剖面的X坐標(biāo)為測(cè)壓剖面在X方向的長(zhǎng)度,測(cè)壓剖面的圓截面半徑為R,母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)對(duì)應(yīng)的Z坐標(biāo)為Zi=-R×cos(2×PI/N×i),Y坐標(biāo)為Yi=R×sin(2×PI/N×i),其中,i=1,2…N,PI為圓周率;將母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)的坐標(biāo)與母線與測(cè)壓剖面的交點(diǎn)的測(cè)壓值對(duì)應(yīng)起來,獲得原始測(cè)壓數(shù)據(jù)表;
S32.處理數(shù)據(jù)壞點(diǎn);
在風(fēng)洞試驗(yàn)過程中,由于堵塞或者漏氣導(dǎo)致測(cè)壓點(diǎn)壓力異常,出現(xiàn)數(shù)據(jù)壞點(diǎn),數(shù)據(jù)壞點(diǎn)的處理方法為直接剔除或者插值法,為避免直接剔除導(dǎo)致的各測(cè)壓剖面測(cè)壓點(diǎn)的點(diǎn)數(shù)不一致,采用插值法;
Cpi表示測(cè)壓剖面上第i個(gè)測(cè)壓點(diǎn)壓力系數(shù),如果Cpi為數(shù)據(jù)壞點(diǎn),Cpi采用以下4種方法中的一種進(jìn)行插值:
其中,i=1,2…N,公式(1)表示Cpi由兩個(gè)相鄰的測(cè)壓點(diǎn)內(nèi)插,公式(2)表示Cpi由序號(hào)在后的兩個(gè)測(cè)壓點(diǎn)外插值,公式(3)表示Cpi由序號(hào)在前的兩個(gè)測(cè)壓點(diǎn)外插值,公式(4)表示由公式(3)所得的外插值和公式(4)所得的外插值的平均值;
S33.處理數(shù)據(jù)空點(diǎn);
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